เป้าหมายการวางตำแหน่งชิปและการลงทะเบียนเฉพาะจุด

สรุปการตัดสินโครงการ

งานทางธุรกิจและผลลัพธ์ที่ตั้งใจไว้

กลุ่มเป้าหมาย

ชิปไมโครฟลูอิดิก: คำสั่งสองมิติ/การสอบเทียบพิกัดเป้าหมาย

เอาท์พุทหลอก

ช่องทางพื้นฐาน 2D ตกค้าง

เงื่อนไขที่บังคับใช้

การรับรู้ช่องสัญญาณต้องใช้โมดูลรูปภาพเพิ่มเติม

ลำดับความสำคัญ

ส่วนขยายทั่วไป. การยืนยันจะต้องเสร็จสิ้นตามเงื่อนไขการมองเห็น การสอบเทียบ และตัวอย่างที่ระบุไว้

อินพุตภาพและการกำหนดเส้นทางอัลกอริทึม

สภาพภาพและอุปกรณ์

ครอบคลุมจุดที่สอดคล้องกันที่ปรับเทียบแล้วและจุดตั้งค่าอิสระของมุมมองสองมิติ และแก้ไขเส้นทางแสงและระนาบการทำงาน ช่องการไหลโปร่งใสหรือเส้นทางแสงสะท้อนพื้นผิวของเหลว อุณหภูมิ และการอ้างอิงทางเรขาคณิต

CAL · การปรับเทียบพิกัดคำสั่ง/เป้าหมายแบบสองมิติ

จุดที่สอดคล้องกันในการสอบเทียบและจุดตั้งค่าอิสระที่ครอบคลุมขอบเขตการมองเห็นสองมิติ เส้นทางแสงคงที่ และระนาบการทำงาน

• A101จุดเลเซอร์จุดศูนย์กลางแบบปรับได้ระดับสีเทาเซนทรอยด์
• A107การวินิจฉัยคุณภาพจุดเลเซอร์และการใช้งาน
• A109พิกเซลสองมิติเพื่อการสอบเทียบพหุนามพิกัดทางกายภาพ
• A110การทำแผนที่การสอบเทียบจุดเลเซอร์และการแพร่กระจายความแปรปรวนร่วม
• A112เลเซอร์ตรวจจับความสามารถในการทำซ้ำสองมิติและวงรีครอบคลุม

หลักฐานอัลกอริทึมที่มีอยู่:A101–A112 ทำได้เฉพาะจุดการสังเคราะห์เชิงวิเคราะห์และการตรวจสอบเรขาคณิตแบบควบคุมเท่านั้น ดูที่ laser_spot_benchmark.json

ความสามารถและความสามารถในปัจจุบันที่จะเสริม

ช่องว่างในฉากนี้:ต้องมีการรับการสอบเทียบ คำจำกัดความของพิกัด และการตรวจสอบความถูกต้อง การทำแผนที่เชิงประจักษ์สองมิติไม่ได้แสดงถึงการสอบเทียบสามมิติหรือหุ่นยนต์ใดๆ การระบุช่องต้องใช้โมดูลรูปภาพเพิ่มเติม ความเอียงของพื้นผิวของเหลว การหักเหของแสง และการแปลเป้าหมายจำเป็นต้องได้รับการออกแบบด้วยเส้นทางแสงที่สามารถระบุตัวตนได้

ช่องว่างระดับเส้นทาง:ต้องมีการรับการสอบเทียบ คำจำกัดความของพิกัด และการตรวจสอบความถูกต้อง การทำแผนที่เชิงประจักษ์สองมิติไม่ได้แสดงถึงการสอบเทียบสามมิติหรือหุ่นยนต์ใดๆ

"ใช้ซ้ำได้บางส่วน" อธิบายเฉพาะปริมาณการพัฒนาที่สัมพันธ์กันเท่านั้น และไม่ถือเป็นความมุ่งมั่นต่อความแม่นยำ จังหวะ ความเสถียร หรือเวลาในการจัดส่ง

วิธีการตรวจสอบและข้อกำหนดเบื้องต้นในการยอมรับ

แยกจุดสอบเทียบและจุดกำหนดเพื่อตรวจสอบขอบ ไปมา อุณหภูมิ และข้อผิดพลาดในการจับยึดซ้ำๆ การทดสอบข้ามตารางระดับมุม/ความสูงของของเหลวมาตรฐาน การหักเหของแสง

แหล่งหลักฐานและขอบเขตการอ้างอิง

แหล่งที่มารองรับหลักการวัดหรือการใช้งานที่คล้ายกัน การรวมโมดูล อุปกรณ์ และวิธีการยอมรับในสถานการณ์นี้เป็นที่มาทางวิศวกรรม และการตรวจสอบผลิตภัณฑ์ยังไม่เสร็จสมบูรณ์

การใช้งานที่เป็นไปได้อื่นๆ ของการหักเหของของไหลและพื้นผิวของของเหลวอิสระ