LSP029 · VCSEL และอาร์เรย์การปล่อยก๊าซ · เวเฟอร์และบรรจุภัณฑ์เซมิคอนดักเตอร์
นำกลับมาใช้ใหม่ได้บางส่วน

การทำซ้ำของตำแหน่งจุดเริ่มต้นภายใต้เงื่อนไขทริกเกอร์

สำหรับโมดูล VCSEL แบบพัลส์ จังหวะเวลาของจุดแสงและการดริฟท์จะถูกใช้เป็นเส้นทางการสังเกต และรอบการกระตุ้นเอาท์พุตที่วางแผนไว้จะไม่ต่อเนื่องกับศูนย์กลาง หน้านี้ใช้สำหรับประเมินโครงการและไม่ได้หมายความว่าการพัฒนาเสร็จสมบูรณ์หรือได้รับการยอมรับที่ไซต์งาน

สรุปการตัดสินโครงการ

สินค้า/อุปกรณ์โมดูลพัลส์ VCSEL
เส้นทางวัดTIME · จังหวะแสงและการดริฟท์
การให้คะแนนความสามารถนำกลับมาใช้ใหม่ได้บางส่วน
สถานะการตรวจสอบยังไม่ได้ดำเนินการยอมรับโดเมนเครื่องจักร/ผลิตภัณฑ์จริงของสถานการณ์นี้
ธรรมชาติของฉาก:สถานการณ์จำลองการใช้งานที่คล้ายกันสำหรับจุดเลเซอร์ สถานการณ์การใช้งานที่เป็นไปได้ยังไม่ได้รับการพัฒนาให้เป็นระบบผลิตภัณฑ์ที่สมบูรณ์ ยังไม่ได้ดำเนินการยอมรับโดเมนเครื่องจักร/ผลิตภัณฑ์จริงของสถานการณ์นี้ ปริมาณการยอมรับผลิตภัณฑ์/โดเมนผลิตภัณฑ์จริงในสถิติแค็ตตาล็อกคือ 0

งานทางธุรกิจและผลลัพธ์ที่ตั้งใจไว้

กลุ่มเป้าหมาย
โมดูล Pulsed VCSEL: จับเวลาเฉพาะจุดและการดริฟท์
เอาท์พุทหลอก
รอบทริกเกอร์และการแบ่งแยกศูนย์กลาง
เงื่อนไขที่บังคับใช้
กล้องไม่ได้วัดความกว้างพัลส์นาโนวินาทีและกำลังสูงสุด
ลำดับความสำคัญ
ส่วนขยายทั่วไป. การยืนยันจะต้องเสร็จสิ้นตามเงื่อนไขการมองเห็น การสอบเทียบ และตัวอย่างที่ระบุไว้

อินพุตภาพและการกำหนดเส้นทางอัลกอริทึม

สภาพภาพและอุปกรณ์

ชัตเตอร์ส่วนกลางหรือจังหวะการอ่านค่าที่ทราบ บันทึกการประทับเวลา และค่าแสงที่ปรับให้เหมาะกับความถี่ของการเคลื่อนไหว เครื่องตรวจจับการตอบสนองอินฟราเรดใกล้ ทริกเกอร์แบบซิงโครไนซ์ และการสร้างภาพจุดสนามใกล้/ไกลแบบแยกส่วนได้

TIME · จังหวะแสงและการดริฟท์

ชัตเตอร์ทั่วโลกหรือจังหวะการอ่านค่าที่รู้จัก บันทึกการประทับเวลา ค่าแสงที่พอดีกับความถี่ของการเคลื่อนไหว

  • A22ตัวกรองคาลมาน
  • A25การประมาณสเปกตรัมกำลังของเวลช์
  • A72Hampel ค่ามัธยฐานค่าเบี่ยงเบนสัมบูรณ์การกรองความผิดปกติแบบสัมบูรณ์
  • A101จุดเลเซอร์จุดศูนย์กลางแบบปรับได้ระดับสีเทาเซนทรอยด์
  • A107การวินิจฉัยคุณภาพจุดเลเซอร์และการใช้งาน
  • A112เลเซอร์ตรวจจับความสามารถในการทำซ้ำสองมิติและวงรีครอบคลุม

หลักฐานอัลกอริทึมที่มีอยู่:A101–A112 ทำได้เฉพาะจุดการสังเคราะห์เชิงวิเคราะห์และการตรวจสอบเรขาคณิตแบบควบคุมเท่านั้น ดูที่ laser_spot_benchmark.json

ความสามารถและความสามารถในปัจจุบันที่จะเสริม

นำกลับมาใช้ใหม่ได้บางส่วน

ต้องมีการสอบเทียบ การซิงโครไนซ์ หรือบูรณาการ

โมดูลส่วนหน้าการตรวจจับจุดไฟหรือสถิติการกำหนดเวลาสามารถนำมาใช้ซ้ำได้ แต่โปรเจ็กต์ยังคงจำเป็นต้องเพิ่มการปรับเทียบทางเรขาคณิต การซิงโครไนซ์เวลา การชดเชยการเคลื่อนไหว หรือการรวมระบบอุปกรณ์

ช่องว่างในฉากนี้:ต้องมีการตรวจสอบอัตราการสุ่มตัวอย่าง/ค่าแสง การซิงโครไนซ์เวลา และการชดเชยการเคลื่อนไหวของกล้องเป้าหมายอ้างอิง ไม่สามารถทดแทนไวโบรมิเตอร์เลเซอร์ดอปเปลอร์ได้ กล้องไม่ได้วัดความกว้างพัลส์นาโนวินาทีและกำลังสูงสุด จำนวนจุดไฟและจำนวนหน่วยการแผ่รังสีทางกายภาพไม่จำเป็นต้องตรงกันแบบหนึ่งต่อหนึ่ง

ช่องว่างระดับเส้นทาง:ต้องมีการตรวจสอบอัตราการสุ่มตัวอย่าง/ค่าแสง การซิงโครไนซ์เวลา และการชดเชยการเคลื่อนไหวของกล้องเป้าหมายอ้างอิง ไม่สามารถทดแทนไวโบรมิเตอร์เลเซอร์ดอปเปลอร์ได้

"ใช้ซ้ำได้บางส่วน" อธิบายเฉพาะปริมาณการพัฒนาที่สัมพันธ์กันเท่านั้น และไม่ถือเป็นความมุ่งมั่นต่อความแม่นยำ จังหวะ ความเสถียร หรือเวลาในการจัดส่ง

วิธีการตรวจสอบและข้อกำหนดเบื้องต้นในการยอมรับ

ตรวจสอบนามแฝง เฟส การดริฟท์ และการสูญเสียเฟรมด้วยการเปรียบเทียบตัวเขย่าความถี่หรือตัวเข้ารหัสที่รู้จัก ตรวจสอบข้ามด้วยไมโครกราฟ เครื่องวัดรังสีอิสระ และอาร์เรย์การออกแบบ

รายการรับหลักฐานที่จำเป็นสำหรับการยืนยันโครงการสถานะปัจจุบัน
อินพุตและตัวอย่างเฟรมดั้งเดิมของอุปกรณ์จริง ตัวอย่างปกติ/ผิดปกติ สภาพแสงและเส้นทางแสง การจัดกลุ่มตัวอย่างและพักไว้ไม่ได้ระบุ กำลังรออินพุตโครงการ
ขนาดและข้อผิดพลาดค่าอ้างอิงอิสระ บันทึกการสอบเทียบ ความสามารถทางสถิติข้อผิดพลาด และเกณฑ์การยืนยันร่วมกันไม่ได้รับการยืนยัน
ข้อยกเว้นและขอบเขตการจัดการที่คาดไว้สำหรับการตรวจจับที่พลาด การตรวจจับที่ผิดพลาด การเปิดรับแสงมากเกินไป การบดบัง การสะท้อน ความไม่อยู่ในการมองเห็น และความผิดปกติในการสื่อสารที่จะถูกกำหนด
บูรณาการระบบอินเทอร์เฟซ การซิงโครไนซ์เวลา แพลตฟอร์มการใช้งาน จังหวะ บันทึก เวอร์ชัน และบันทึกการวิ่งต่อเนื่องไม่รวม

แหล่งหลักฐานและขอบเขตการอ้างอิง

แหล่งที่มารองรับหลักการวัดหรือการใช้งานที่คล้ายกัน การรวมโมดูล อุปกรณ์ และวิธีการยอมรับในสถานการณ์นี้เป็นที่มาทางวิศวกรรม และการตรวจสอบผลิตภัณฑ์ยังไม่เสร็จสมบูรณ์

LS-S11 · โรงงานดั้งเดิม/สถาบันวิจัยทางวิทยาศาสตร์/กระดาษต้นฉบับ

การวัด Ophir VCSEL

หมวดหมู่การวัดการปล่อย VCSEL และสัณฐานวิทยาของลำแสง

วันที่ตรวจสอบ: 2026-10-24

ดูข้อมูลสาธารณะดั้งเดิม →
LS-S12 · โรงงานดั้งเดิม/สถาบันวิจัยทางวิทยาศาสตร์/กระดาษต้นฉบับ

ลำแสงแตกต่างมุมกว้าง Ophir

สภาพการถ่ายภาพสำหรับการได้รับจากระยะไกลและลำแสงมุมกว้าง

วันที่ตรวจสอบ: 2026-10-24

ดูข้อมูลสาธารณะดั้งเดิม →
ขอบเขตการใช้งานแหล่งที่มา:ข้อมูลสาธารณะใช้เพื่อสนับสนุนหลักการวัดหรือการมีอยู่ของแอปพลิเคชันที่คล้ายกัน และไม่ได้พิสูจน์ว่าสถานการณ์นี้ได้รับการพัฒนา ปรับใช้ หรือยอมรับโดย Jishi Technology
ให้คำปรึกษาโครงการ

ส่งตัวอย่างและเงื่อนไขอุปกรณ์เพื่อชี้แจงขอบเขตการพัฒนาและการส่งมอบ

การทำซ้ำของตำแหน่งจุดเริ่มต้นภายใต้เงื่อนไขทริกเกอร์

โปรดอธิบายวัตถุงาน รูปภาพหรือวิดีโอต้นฉบับ ตัวบ่งชี้เป้าหมาย แพลตฟอร์มอุปกรณ์ อินเทอร์เฟซ และสถานการณ์ตัวอย่าง

โทรศัพท์: 13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

ข้อมูลที่กรอกจะนำไปใช้เพื่อการประเมินและติดต่อโครงการนี้เท่านั้น กรุณาอย่าส่งข้อมูลส่วนบุคคลที่ไม่ได้รับอนุญาตหรือข้อมูลที่ละเอียดอ่อน