ตำแหน่ง Duma Beam และการปรับแสง
ประเภทการใช้งานสำหรับตำแหน่งลำแสง การตั้งค่าเชิงแสง และรูปทรงเฉพาะจุด
วันที่ตรวจสอบ: 2026-10-24
ดูข้อมูลสาธารณะดั้งเดิม →LSP009 · การผลิตเลเซอร์และการเสื่อมสภาพ · เลเซอร์และโมดูลออปโตอิเล็กทรอนิกส์
นำกลับมาใช้ใหม่ได้บางส่วน
การบันทึกการดริฟท์ทางไฟฟ้าและความร้อนบนโมดูลเลเซอร์
สำหรับโมดูลเลเซอร์เซมิคอนดักเตอร์ จะใช้จังหวะเวลาของจุดแสงและการเคลื่อนตัวเป็นเส้นทางการสังเกต และมีการวางแผนวิถีโคจรศูนย์กลางลำแสงเอาท์พุตและเวลารอคอยที่มั่นคง หน้านี้ใช้สำหรับประเมินโครงการและไม่ได้หมายความว่าการพัฒนาเสร็จสมบูรณ์หรือได้รับการยอมรับที่ไซต์งาน
สรุปการตัดสินโครงการ
สินค้า/อุปกรณ์โมดูลเลเซอร์เซมิคอนดักเตอร์
เส้นทางวัดTIME · จังหวะแสงและการดริฟท์
การให้คะแนนความสามารถนำกลับมาใช้ใหม่ได้บางส่วน
สถานะการตรวจสอบยังไม่ได้ดำเนินการยอมรับโดเมนเครื่องจักร/ผลิตภัณฑ์จริงของสถานการณ์นี้
ธรรมชาติของฉาก:สถานการณ์จำลองการใช้งานที่คล้ายกันสำหรับจุดเลเซอร์ สถานการณ์การใช้งานที่เป็นไปได้ยังไม่ได้รับการพัฒนาให้เป็นระบบผลิตภัณฑ์ที่สมบูรณ์ ยังไม่ได้ดำเนินการยอมรับโดเมนเครื่องจักร/ผลิตภัณฑ์จริงของสถานการณ์นี้ ปริมาณการยอมรับผลิตภัณฑ์/โดเมนผลิตภัณฑ์จริงในสถิติแค็ตตาล็อกคือ 0
งานทางธุรกิจและผลลัพธ์ที่ตั้งใจไว้
- กลุ่มเป้าหมาย
- โมดูลเลเซอร์เซมิคอนดักเตอร์: จับเวลาเฉพาะจุดและการดริฟท์
- เอาท์พุทหลอก
- วิถีลำแสงตรงกลางและเวลารอคอยที่มั่นคง
- เงื่อนไขที่บังคับใช้
- กระแสซิงโครนัสและอุณหภูมิเคส
- ลำดับความสำคัญ
- จัดลำดับความสำคัญของการตรวจสอบ. สามารถรวบรวมจังหวะเวลาของจุดแสงคงที่ก่อนเพื่อสร้างหลักฐานอุณหภูมิและดริฟท์
อินพุตภาพและการกำหนดเส้นทางอัลกอริทึม
สภาพภาพและอุปกรณ์
ชัตเตอร์ส่วนกลางหรือจังหวะการอ่านค่าที่ทราบ บันทึกการประทับเวลา และค่าแสงที่ปรับให้เหมาะกับความถี่ของการเคลื่อนไหว กล้องที่ปรับความยาวคลื่น ตัวลดทอน และอุปกรณ์ติดตั้งสนามใกล้/ไกลแบบคงที่
TIME · จังหวะแสงและการดริฟท์
ชัตเตอร์ทั่วโลกหรือจังหวะการอ่านค่าที่รู้จัก บันทึกการประทับเวลา ค่าแสงที่พอดีกับความถี่ของการเคลื่อนไหว
- A22ตัวกรองคาลมาน
- A25การประมาณสเปกตรัมกำลังของเวลช์
- A72Hampel ค่ามัธยฐานค่าเบี่ยงเบนสัมบูรณ์การกรองความผิดปกติแบบสัมบูรณ์
- A101จุดเลเซอร์จุดศูนย์กลางแบบปรับได้ระดับสีเทาเซนทรอยด์
- A107การวินิจฉัยคุณภาพจุดเลเซอร์และการใช้งาน
- A112เลเซอร์ตรวจจับความสามารถในการทำซ้ำสองมิติและวงรีครอบคลุม
หลักฐานอัลกอริทึมที่มีอยู่:A101–A112 ทำได้เฉพาะจุดการสังเคราะห์เชิงวิเคราะห์และการตรวจสอบเรขาคณิตแบบควบคุมเท่านั้น ดูที่ laser_spot_benchmark.json
ความสามารถและความสามารถในปัจจุบันที่จะเสริม
นำกลับมาใช้ใหม่ได้บางส่วน
ต้องมีการสอบเทียบ การซิงโครไนซ์ หรือบูรณาการ
โมดูลส่วนหน้าการตรวจจับจุดไฟหรือสถิติการกำหนดเวลาสามารถนำมาใช้ซ้ำได้ แต่โปรเจ็กต์ยังคงจำเป็นต้องเพิ่มการปรับเทียบทางเรขาคณิต การซิงโครไนซ์เวลา การชดเชยการเคลื่อนไหว หรือการรวมระบบอุปกรณ์
ช่องว่างในฉากนี้:ต้องมีการตรวจสอบอัตราการสุ่มตัวอย่าง/ค่าแสง การซิงโครไนซ์เวลา และการชดเชยการเคลื่อนไหวของกล้องเป้าหมายอ้างอิง ไม่สามารถทดแทนไวโบรมิเตอร์เลเซอร์ดอปเปลอร์ได้ กระแสซิงโครนัสและอุณหภูมิเคส ระดับสีเทาของพิกเซลและกำลังแสงมีการปรับเทียบแยกกัน
ช่องว่างระดับเส้นทาง:ต้องมีการตรวจสอบอัตราการสุ่มตัวอย่าง/ค่าแสง การซิงโครไนซ์เวลา และการชดเชยการเคลื่อนไหวของกล้องเป้าหมายอ้างอิง ไม่สามารถทดแทนไวโบรมิเตอร์เลเซอร์ดอปเปลอร์ได้
"ใช้ซ้ำได้บางส่วน" อธิบายเฉพาะปริมาณการพัฒนาที่สัมพันธ์กันเท่านั้น และไม่ถือเป็นความมุ่งมั่นต่อความแม่นยำ จังหวะ ความเสถียร หรือเวลาในการจัดส่ง
วิธีการตรวจสอบและข้อกำหนดเบื้องต้นในการยอมรับ
ตรวจสอบนามแฝง เฟส การดริฟท์ และการสูญเสียเฟรมด้วยการเปรียบเทียบตัวเขย่าความถี่หรือตัวเข้ารหัสที่รู้จัก เครื่องวิเคราะห์ลำแสงอิสระและการควบคุมอุณหภูมิ/ตัวอ้างอิงโยงการบันทึกกระแส
| รายการรับ | หลักฐานที่จำเป็นสำหรับการยืนยันโครงการ | สถานะปัจจุบัน |
|---|---|---|
| อินพุตและตัวอย่าง | เฟรมดั้งเดิมของอุปกรณ์จริง ตัวอย่างปกติ/ผิดปกติ สภาพแสงและเส้นทางแสง การจัดกลุ่มตัวอย่างและพักไว้ | ไม่ได้ระบุ กำลังรออินพุตโครงการ |
| ขนาดและข้อผิดพลาด | ค่าอ้างอิงอิสระ บันทึกการสอบเทียบ ความสามารถทางสถิติข้อผิดพลาด และเกณฑ์การยืนยันร่วมกัน | ไม่ได้รับการยืนยัน |
| ข้อยกเว้นและขอบเขต | การจัดการที่คาดไว้สำหรับการตรวจจับที่พลาด การตรวจจับที่ผิดพลาด การเปิดรับแสงมากเกินไป การบดบัง การสะท้อน ความไม่อยู่ในการมองเห็น และความผิดปกติในการสื่อสาร | ที่จะถูกกำหนด |
| บูรณาการระบบ | อินเทอร์เฟซ การซิงโครไนซ์เวลา แพลตฟอร์มการใช้งาน จังหวะ บันทึก เวอร์ชัน และบันทึกการวิ่งต่อเนื่อง | ไม่รวม |
แหล่งหลักฐานและขอบเขตการอ้างอิง
แหล่งที่มารองรับหลักการวัดหรือการใช้งานที่คล้ายกัน การรวมโมดูล อุปกรณ์ และวิธีการยอมรับในสถานการณ์นี้เป็นที่มาทางวิศวกรรม และการตรวจสอบผลิตภัณฑ์ยังไม่เสร็จสมบูรณ์
การวิเคราะห์ลำแสงเลเซอร์ Ophir
การวิเคราะห์จุดกล้องและการวินิจฉัยด้วยเลเซอร์ทางอุตสาหกรรม การวัดกำลังต้องใช้เซ็นเซอร์พิเศษ
วันที่ตรวจสอบ: 2026-10-24
ดูข้อมูลสาธารณะดั้งเดิม →เงื่อนไขการคอลลิเมชันของเอ็ดมันด์
ความสัมพันธ์ระหว่างขนาดแหล่งกำเนิด ความยาวโฟกัส และมุมที่แตกต่าง
วันที่ตรวจสอบ: 2026-10-24
ดูข้อมูลสาธารณะดั้งเดิม →ขอบเขตการใช้งานแหล่งที่มา:ข้อมูลสาธารณะใช้เพื่อสนับสนุนหลักการวัดหรือการมีอยู่ของแอปพลิเคชันที่คล้ายกัน และไม่ได้พิสูจน์ว่าสถานการณ์นี้ได้รับการพัฒนา ปรับใช้ หรือยอมรับโดย Jishi Technology
ให้คำปรึกษาโครงการ
xuzhiyang0928@gmail.com
ส่งตัวอย่างและเงื่อนไขอุปกรณ์เพื่อชี้แจงขอบเขตการพัฒนาและการส่งมอบ
การบันทึกการดริฟท์ทางไฟฟ้าและความร้อนบนโมดูลเลเซอร์
โปรดอธิบายวัตถุงาน รูปภาพหรือวิดีโอต้นฉบับ ตัวบ่งชี้เป้าหมาย แพลตฟอร์มอุปกรณ์ อินเทอร์เฟซ และสถานการณ์ตัวอย่าง
โทรศัพท์: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com