พื้นที่ใช้งานระดับองค์กร D16

บริการพัฒนาเซมิคอนดักเตอร์ เวเฟอร์ อุปกรณ์ออปโตอิเล็กทรอนิกส์ และจอแสดงผลอินฟราเรด

สำหรับผู้ผลิตอุปกรณ์ ผู้รวมระบบ และการวิจัยและพัฒนาระดับองค์กรที่เกี่ยวข้องกับ "เซมิคอนดักเตอร์ เวเฟอร์ อุปกรณ์ออปโตอิเล็กทรอนิกส์ และจอแสดงผล" ให้การประเมินข้อมูลอินฟราเรด การพัฒนาอัลกอริทึม การรวมอุปกรณ์/แพลตฟอร์ม และการยอมรับการทดสอบ ครอบคลุมสถานการณ์การใช้งานระดับองค์กร 8 ประเภท

ขอบเขตการให้บริการและแผนการดำเนินงาน

หมายเลขทิศทางD16
สถานการณ์ความต้องการ8 รายการ
อินพุตหลักSWIR L1/L5; MWIR/LWIR มาโคร L2/L3; L5; NIR/สไวร์ L1/L5
เส้นทางทั่วไปT12、T03、T04、T10、T18、T11、T05、T01

ขอบเขตของโครงการจะพิจารณาจากตัวอย่าง อุปกรณ์ สภาพการทำงาน และตัวชี้วัดที่เป็นลายลักษณ์อักษร โมดูลทั่วไป รุ่นพิเศษ และการรวมหลายเซ็นเซอร์ได้รับการกำหนดค่าตามผลการประเมิน

สถานการณ์สมมติของแอปพลิเคชันและเนื้อหาการพัฒนา

IR121

SWIR การถ่ายภาพรอยแตกภายในและข้อบกพร่องของขอบในเวเฟอร์ซิลิคอน

อินพุตขั้นต่ำและเส้นทางทางเทคนิค
SWIR L1/L5;T12
เอาท์พุทเป้าหมาย
รอยแตก การบิ่น และความผิดปกติของการส่งผ่าน
การนำไปปฏิบัติ
ต้องใช้เลนส์พิเศษ
การยอมรับอย่างมีวิจารณญาณ
รอยแตกร้าวขั้นต่ำเมื่อเปรียบเทียบกับค่าจริงด้วยกล้องจุลทรรศน์/อะคูสติก
IR122

จุดร้อนเวเฟอร์และการแปลความร้อนรั่วในท้องถิ่น

อินพุตขั้นต่ำและเส้นทางทางเทคนิค
MWIR/LWIR มาโคร L2/L3;T03+T04
เอาท์พุทเป้าหมาย
ฮอตสปอต พิกัด และความสัมพันธ์ของการกระตุ้นทางไฟฟ้า
การนำไปปฏิบัติ
ต้องมีการสอบเทียบรังสีมาโคร
การยอมรับอย่างมีวิจารณญาณ
เปรียบเทียบกับการวัดทางไฟฟ้า/การวิเคราะห์ความล้มเหลว ข้อผิดพลาดในการกำหนดตำแหน่ง
IR123

เทอร์โมกราฟฟีแบบล็อคอินจะระบุตำแหน่งการลัดวงจรและการรั่วไหลของชิป

อินพุตขั้นต่ำและเส้นทางทางเทคนิค
L5;T10
เอาท์พุทเป้าหมาย
เฟสฮอตสปอตและตำแหน่งข้อบกพร่อง
การนำไปปฏิบัติ
ต้องใช้เครื่องมือกระตุ้นไฟฟ้า
การยอมรับอย่างมีวิจารณญาณ
เทียบกับโพรบ/ค่าจริงเปิด, POD
IR124

ความสม่ำเสมอของโฟโตลูมิเนสเซนซ์ PL/อิเล็กโทรลูมิเนสเซนซ์ EL

อินพุตขั้นต่ำและเส้นทางทางเทคนิค
NIR/SWIR L1/L5;T18
เอาท์พุทเป้าหมาย
ความเข้มของการส่องสว่าง บริเวณที่มืด และความสม่ำเสมอ
การนำไปปฏิบัติ
จำเป็นต้องมีการดำเนินการพิเศษ
การยอมรับอย่างมีวิจารณญาณ
เมื่อเทียบกับประสิทธิภาพทางไฟฟ้า/เอกสารอ้างอิง ความสามารถในการทำซ้ำ
IR125

ระบบไฟ LED Array ของ VCSEL/IR และความสม่ำเสมอของพลังงาน

อินพุตขั้นต่ำและเส้นทางทางเทคนิค
NIR/SWIR L1;T11
เอาท์พุทเป้าหมาย
จุดส่องสว่าง ข้อเสีย ความเข้มสัมพัทธ์ และการจัดเรียง
การนำไปปฏิบัติ
ใช้ซ้ำได้ A43/A44
การยอมรับอย่างมีวิจารณญาณ
เทียบกับมิเตอร์ไฟฟ้า/สถานีโพรบ การเรียกคืนระดับจุด
IR126

ความผิดปกติของความร้อนของไดรเวอร์ OLED/MicroLED และจุดร้อนที่เสื่อมสภาพ

อินพุตขั้นต่ำและเส้นทางทางเทคนิค
LWIR/MWIR L2/L3;T03+T05
เอาท์พุทเป้าหมาย
ความผิดปกติของพิกเซล/พื้นที่และแนวโน้มการเสื่อมสภาพ
การนำไปปฏิบัติ
ต้องใช้เลนส์ที่มีความละเอียดสูง
การยอมรับอย่างมีวิจารณญาณ
พื้นที่หารขั้นต่ำ สัมพันธ์กับข้อมูลชีวิต
IR127

การตรวจจับความร้อนแบบแอคทีฟของช่องว่างและการหลุดล่อนของแพ็คเกจเซมิคอนดักเตอร์

อินพุตขั้นต่ำและเส้นทางทางเทคนิค
L5;T10
เอาท์พุทเป้าหมาย
ผู้สมัครที่มีข้อบกพร่อง พร็อกซีพื้นที่และความลึก
การนำไปปฏิบัติ
ต้องการตัวอย่างอ้างอิง
การยอมรับอย่างมีวิจารณญาณ
เทียบกับการเอกซเรย์/CT/SAM, POD
IR128

ความสม่ำเสมอในการตอบสนองของตัวกรองแสง หน้าต่าง และตัวตรวจจับ

อินพุตขั้นต่ำและเส้นทางทางเทคนิค
วัตถุสีดำ/แหล่งกำเนิดแสง L5;T01+T03
เอาท์พุทเป้าหมาย
แผนการตอบสนอง องค์ประกอบที่ไม่ดี และความสม่ำเสมอของวงดนตรี
การนำไปปฏิบัติ
ต้องมีการสอบเทียบเครื่องมือ
การยอมรับอย่างมีวิจารณญาณ
ความสามารถในการทำซ้ำของแหล่งกำเนิดสม่ำเสมอ การตอบสนองที่ตกค้าง

ข้อมูลที่จำเป็นก่อนการประเมินโครงการ

  • อุปกรณ์/วัตถุเป้าหมาย สภาพไซต์ กระบวนการทางธุรกิจ และการดำเนินการติดตามผลที่จะต้องดำเนินการ
  • กล้องอินฟราเรด เลนส์ แถบสเปกตรัม ระยะการติดตั้ง ขอบเขตการมองเห็น ความละเอียด และส่วนต่อประสานข้อมูล
  • ตัวอย่างต้นฉบับและพารามิเตอร์การรวบรวมภายใต้สภาวะปกติ ผิดปกติ ขอบเขต และการรบกวน
  • อ้างอิงค่าความจริงและข้อกำหนดคำอธิบายประกอบสำหรับอุณหภูมิ ชิ้นส่วน สถานะ หรือเหตุการณ์
  • กำหนดเป้าหมายแพลตฟอร์ม เครือข่าย อินเทอร์เฟซ พื้นที่เก็บข้อมูล เวลาแฝง และข้อจำกัดด้านทรัพยากรปฏิบัติการ
  • ผลบวกลวง ผลลบที่พลาด การตรวจสอบโดยเจ้าหน้าที่ การเชื่อมโยง การจัดการความล้มเหลว และเกณฑ์การยอมรับ

วิธีการนำไปใช้และการส่งมอบ

  1. การยืนยันอินพุตโครงการตรวจสอบกล้อง แถบสเปกตรัม ความลึกบิต SDK สภาพแวดล้อม ตัวอย่าง และค่าความจริงในการยอมรับ
  2. การตรวจสอบตัวอย่างตรวจสอบการเชื่อมโยงการประมวลผลที่สำคัญ สภาพที่เกี่ยวข้อง และสภาพการทำงานที่ผิดปกติ และกำหนดขอบเขตการพัฒนาและวิธีการยอมรับ
  3. การพัฒนาและบูรณาการอัลกอริทึมใช้การแยกวิเคราะห์ข้อมูล อัลกอริธึม เกตคุณภาพ อินเทอร์เฟซ และการปรับใช้แพลตฟอร์มเป้าหมาย
  4. ทดสอบการยอมรับและการส่งมอบทดสอบซ้ำตามชุดการทดสอบและแพลตฟอร์มเป้าหมายที่ตกลงไว้ และส่งมอบสิ่งที่ส่งมอบ ผลการทดสอบ และเงื่อนไขที่เกี่ยวข้อง
  • ข้อกำหนดและวิธีแก้ปัญหาทางเทคนิค คำจำกัดความของฟิลด์อินพุตและเอาท์พุตและอินเทอร์เฟซ
  • ไลบรารีอัลกอริทึม โมเดล หรือ SDK/API แบบฟอร์มการจัดส่งได้รับการยืนยันในแผนโครงการ
  • โปรแกรมตัวอย่าง การกำหนดค่าพารามิเตอร์ สถานะข้อผิดพลาด และคำแนะนำในการเรียก
  • เวอร์ชันชุดทดสอบ คำจำกัดความของตัวบ่งชี้ ผลการแบ่งชั้น และบันทึกตัวอย่างที่ล้มเหลว
  • การปรับแพลตฟอร์มเป้าหมาย การใช้ทรัพยากร และบันทึกความล่าช้าในการรัน
  • คำอธิบายเวอร์ชัน การขึ้นต่อกัน ใบอนุญาต ขั้นตอนการทำซ้ำ และเงื่อนไขที่เกี่ยวข้อง

การออกแบบการยอมรับ

แต่ละสถานการณ์จะสร้างกรณีทดสอบอิสระตาม "การยอมรับคีย์" เมื่อแชร์แบบจำลองข้ามสถานการณ์ ผลลัพธ์จะถูกรายงานแยกกันสำหรับแต่ละสถานการณ์ ระยะทาง น้ำหนักบรรทุก สภาพแวดล้อม และขนาดเป้าหมาย เสริมด้วยสถิติโดยรวม

เมื่อมีการเตือนหรือการควบคุมที่มีความเสี่ยงสูง อัลกอริธึมเอาท์พุตจะถูกใช้เพื่อตรวจสอบหรือเชื่อมโยงการตัดสิน ฟังก์ชั่นด้านความปลอดภัย ความรับผิดชอบด้านกฎระเบียบ และการกำจัดอัตโนมัติ จำเป็นต้องมีการออกแบบและการยอมรับแยกต่างหาก

คำถามที่พบบ่อยสำหรับลูกค้าองค์กร

ฉันสามารถซื้อฉากใดฉากหนึ่งได้โดยตรงหรือไม่

สามารถประเมินก่อนเป็นชุดงานแยกได้ ขอบเขตอย่างเป็นทางการควรอธิบายอุปกรณ์ ข้อมูล วัตถุเป้าหมาย สภาพแวดล้อม อินเทอร์เฟซ แบบฟอร์มการจัดส่ง และเกณฑ์การยอมรับ

เมื่อไม่มีตัวอย่างผิดปกติแล้วสามารถเริ่มได้หรือไม่?

อินเทอร์เฟซข้อมูล พื้นฐานปกติ แผนการซื้อกิจการ และการออกแบบการทดสอบจำลอง/แบบควบคุมสามารถดำเนินการให้เสร็จสิ้นก่อน สามารถประเมินอัตราการตรวจจับที่ผิดปกติและผลการจำแนกข้อบกพร่องได้หลังจากได้รับค่าจริงที่ผิดปกติเพียงพอ

อัลกอริธึมสามารถกระตุ้นการเตือนหรือการทำงานของอุปกรณ์ได้โดยตรงหรือไม่

ระยะเวลา การขจัดข้อมูลซ้ำซ้อน การควบคุมคุณภาพ การตรวจสอบโดยเจ้าหน้าที่ ความล้มเหลวในการสื่อสาร และการประสานความปลอดภัย จำเป็นต้องได้รับการออกแบบโดยพิจารณาจากความเสี่ยงทางธุรกิจ ควรเปิดใช้งานการดำเนินการที่มีความเสี่ยงสูงหลังจากเสร็จสิ้นกลไกความปลอดภัยอิสระและการยอมรับในสถานที่

ให้คำปรึกษาโครงการ

ส่งตัวอย่างและเงื่อนไขอุปกรณ์เพื่อชี้แจงขอบเขตการพัฒนาและการส่งมอบ

บริการพัฒนาเซมิคอนดักเตอร์ เวเฟอร์ อุปกรณ์ออปโตอิเล็กทรอนิกส์ และจอแสดงผลอินฟราเรด

โปรดอธิบายวัตถุงาน รูปภาพหรือวิดีโอต้นฉบับ ตัวบ่งชี้เป้าหมาย แพลตฟอร์มอุปกรณ์ อินเทอร์เฟซ และสถานการณ์ตัวอย่าง

โทรศัพท์: 13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

ข้อมูลที่กรอกจะนำไปใช้เพื่อการประเมินและติดต่อโครงการนี้เท่านั้น กรุณาอย่าส่งข้อมูลส่วนบุคคลที่ไม่ได้รับอนุญาตหรือข้อมูลที่ละเอียดอ่อน