LSP307 · Преподавательская и инженерная подготовка · Преподавательская и научно-исследовательская подготовка
Частично многоразовый

Размер рентабельности инвестиций и алгоритм трудоемких стендовых испытаний

Для платы визуального обучения MCU в качестве маршрута наблюдения используются время и дрейф световой точки, а время выполнения, потеря кадра и координаты планируется выводить. Страница предназначена для оценки проекта и не означает, что разработка завершена или принята на объекте.

Краткое изложение решения по проекту

Продукт/УстройствоВизуальная тренировочная плата MCU
Измерить маршрутВРЕМЯ · Синхронизация и дрейф светового пятна
Оценка способностейЧастично многоразовый
Статус проверкиФактическая приемка машины/продукта по этому сценарию не проводилась.
Характер сцены:Аналогичные потенциальные сценарии применения лазерных пятен. Потенциальный сценарий применения еще не превратился в полноценную систему продуктов; фактическая приемка этого сценария в области машины/продукта не проводилась. Фактическое количество приемлемого продукта/домена продукта в статистике каталога равно 0.

Бизнес-задачи и предполагаемый результат

целевая аудитория
Доска для тренировки зрения MCU: синхронизация и дрейф световой точки
псевдовыход
Время выполнения, потеря кадров и координат
Применимые условия
Фактическая прошивка должна быть измерена и синхронизирована со сбором данных.
приоритет
Общее расширение. Поверку необходимо выполнить в соответствии с указанными оптическими условиями, калибровкой и образцами.

Ввод изображений и маршрутизация алгоритмов

Условия визуализации и устройства

Глобальный затвор или известное время считывания сохраняют временные метки и экспозицию, адаптированную к частоте движения. Закрытый путь обучающего света малой мощности, стандартная мишень и стол с известным движением

ВРЕМЯ · Синхронизация и дрейф светового пятна

Глобальный затвор или известное время считывания, сохраняет временные метки, экспозиция соответствует частоте движения

  • A22Фильтр Калмана
  • A25Оценка спектра мощности Уэлча
  • A72Фильтрация аномалий медианного абсолютного отклонения Хампеля
  • A101Адаптивный пороговый центр тяжести лазерной точки в оттенках серого
  • A107Диагностика качества и удобства использования лазерного пятна
  • A112Двумерная повторяемость лазерного пятна и эллипс покрытия

Существующие алгоритмические доказательства:А101–А112 – только полный точечный аналитический синтез и проверка контролируемой геометрии; см. laser_spot_benchmark.json

Текущие возможности и возможности, которые необходимо дополнить

Частично многоразовый

Требуется калибровка, синхронизация или интеграция.

Интерфейс обнаружения световых точек или модуль временной статистики можно использовать повторно, но в проект все равно необходимо добавить геометрическую калибровку, синхронизацию времени, компенсацию движения или интеграцию системы оборудования.

Пробелы в этой сцене:Требуется проверка частоты дискретизации/экспозиции, синхронизация времени и компенсация движения эталонной целевой камеры; не является заменой лазерных доплеровских виброметров. Фактическая прошивка должна быть измерена и синхронизирована со сбором данных. Данные обучающей демонстрации должны указывать модель, выборку и единицы измерения.

Пробелы на уровне маршрута:Требуется проверка частоты дискретизации/экспозиции, синхронизация времени и компенсация движения эталонной целевой камеры; не является заменой лазерных доплеровских виброметров

«Частично повторное использование» описывает только относительный объем разработки и не означает обязательства по точности, темпу, стабильности или сроку поставки.

Методы проверки и предпосылки приемки

Проверьте наложение частот, фазу, дрейф и потерю кадров с помощью известного встряхивателя частоты или сравнения энкодера. Двойная проверка аналитических составных изображений и физического стенда

Приемка предметовДоказательства, необходимые для подтверждения проектаТекущий статус
Входные данные и образцыИсходные кадры реального устройства, нормальные/ненормальные образцы, условия экспозиции и светового пути, группировка образцов и их отложение.Не предоставлено, ждём ввода проекта
Величина и ошибкаНезависимое эталонное значение, запись калибровки, статистический калибр ошибок и порог взаимного подтверждения.Не проверено
Исключения и границыОжидаемая обработка пропущенных обнаружений, ложных обнаружений, передержки, окклюзии, отражения, выхода за пределы поля зрения и нарушений связиБудет определено
Системная интеграцияИнтерфейс, синхронизация времени, платформа развертывания, темп, журнал, версия и непрерывная записьНе интегрировано

Источники доказательств и границы цитирования

Источник поддерживает принципы измерения или аналогичные приложения; комбинация модулей, устройство и метод приемки в этом сценарии являются инженерными разработками, и проверка продукта не завершена.

LS-S01 · Оригинальная фабрика/научно-исследовательское учреждение/оригинальная бумага

Корпус для позиционирования световой точки Wenge STM32H743 и OV9281

Встроенные функции получения изображений, адаптивный порог и публичные функции точечного центроида

Дата проверки: 24 октября 2026 г.

Посмотреть исходную общедоступную информацию →
LS-S02 · Оригинальная фабрика/научно-исследовательское учреждение/оригинальная бумага

Технические примечания PSD Хамамацу

Положение световой точки, треугольная дальность и принципы обнаружения, чувствительные к положению; Производительность оборудования PSD не переносится на реализацию камеры

Дата проверки: 24 октября 2026 г.

Посмотреть исходную общедоступную информацию →
LS-S23 · Оригинальная фабрика/научно-исследовательское учреждение/оригинальная бумага

Принцип дифракции на решетке Ньюпорта

Связь между порядком дифракции, углом, длиной волны и периодом решетки.

Дата проверки: 24 октября 2026 г.

Посмотреть исходную общедоступную информацию →
LS-S29 · Оригинальная фабрика/научно-исследовательское учреждение/оригинальная бумага

Условия коллимации Эдмунда

Связь между размером источника, фокусным расстоянием и углом расхождения

Дата проверки: 24 октября 2026 г.

Посмотреть исходную общедоступную информацию →
Область использования источника:Публичная информация используется для поддержки принципа измерения или существования аналогичных приложений и не доказывает, что этот сценарий был разработан, развернут или принят Jishi Technology.
Консультация проекта

Отправьте образцы и состояние оборудования для уточнения объема разработки и поставки

Размер рентабельности инвестиций и алгоритм трудоемких стендовых испытаний

Опишите объект задачи, исходное изображение или видео, целевые показатели, платформу устройства, интерфейс и пример ситуации.

Телефон: 13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

Заполненная информация будет использоваться только для оценки и связи по этому проекту. Пожалуйста, не предоставляйте несанкционированную личную информацию или конфиденциальные данные.