Esta direção detalha e explica produtos específicos, tarefas de medição, entradas de imagem, rotas de algoritmos, saídas propostas e métodos de aceitação, que podem ser usados para avaliar amostras e condições do sistema antes do estabelecimento de projetos corporativos.
Escopo da indústria:MEMS e dispositivos microeletromecânicos.
Envolve medir rotas:Ângulo de alavanca óptica de reflexão, calibração bidimensional de coordenadas de superfície de comando/alvo, inversão mecânica de alavanca óptica, deslocamento triangular de laser pontual, formato de ponto e distribuição relativa.
Refletor MEMS · Ângulo de alavanca óptica reflexiva
Candidatos a tensão e ângulo de reflexão
Extensões gerais:A verificação precisa ser concluída de acordo com as condições ópticas, calibração e amostras listadas.
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Espelho de varredura MEMS · Calibração de coordenadas de comando/alvo 2D
Trajetória de comando e resíduo local
Extensões gerais:A verificação precisa ser concluída de acordo com as condições ópticas, calibração e amostras listadas.
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Amostra de feixe microcantilever · Inversão da mecânica da alavanca óptica
Ângulo final vs. curva de carga
Desenvolvimento especial:O núcleo de medição/controle precisa ser complementado e verificado de acordo com a aprovação do projeto especial
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Microdiafragma · Inversão mecânica da alavanca óptica
A pressão corresponde ao deslocamento do ponto de reflexão
Desenvolvimento especial:O núcleo de medição/controle precisa ser complementado e verificado de acordo com a aprovação do projeto especial
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Amostra de microrrelé · Deslocamento triangular do laser pontual
Ponto final da ação e capacidade de retorno
Extensões gerais:A verificação precisa ser concluída de acordo com as condições ópticas, calibração e amostras listadas.
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Microplataforma piezoelétrica · Calibração bidimensional de coordenadas de comando/alvo
Mapeamento 2D e diferença de backhaul
Extensões gerais:A verificação precisa ser concluída de acordo com as condições ópticas, calibração e amostras listadas.
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Feixe microtorcido · Inversão mecânica da alavanca óptica
Ângulo de torção e loop de carregamento
Desenvolvimento especial:O núcleo de medição/controle precisa ser complementado e verificado de acordo com a aprovação do projeto especial
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →Atuador de microlente · Formato do ponto e distribuição relativa
Quantidade de impulso e formato do ponto
Extensões gerais:A verificação precisa ser concluída de acordo com as condições ópticas, calibração e amostras listadas.
Visualize entradas, saídas, lacunas e métodos de validação →MEMS e dispositivos de feixe cantilever: 8 cenários potenciais de aplicação de algoritmos de ponto laser e ponto de luz
Descreva o objeto da tarefa, a imagem ou vídeo original, os indicadores de destino, a plataforma do dispositivo, a interface e a situação de exemplo.
Telefone: 13910119357