Papel Original do Centro de Simetria Radial
Posicionamento central subpixel de alvos aproximadamente radialmente simétricos
Data de verificação: 24/10/2026
Ver informações públicas originais →LSP246 · Instrumentos de pesquisa com microscópio e pinças ópticas · Imagens microscópicas e pesquisa de partículas
Módulos reutilizáveis
Verificação do retorno do ponto de feixe após troca da lente objetiva
De frente para a cabeça de iluminação do microscópio a laser, tomando a posição do ponto de luz na superfície do alvo como rota de observação, a diferença central antes e depois da troca da lente objetiva deve ser emitida. A página é para avaliação do projeto e não significa que o empreendimento foi concluído ou aceito no local.
Resumo do julgamento do projeto
Produto/DispositivoCabeça de iluminação de microscópio a laser
Medir rotaXY · Posição do ponto de luz na superfície alvo
Classificação de habilidadeMódulos reutilizáveis
Status de verificaçãoA aceitação real do domínio da máquina/produto deste cenário não foi realizada
Natureza da cena:Cenários de aplicação potenciais semelhantes para pontos de laser. O cenário de aplicação potencial ainda não foi desenvolvido num sistema de produto completo; a aceitação real do domínio da máquina/produto deste cenário não foi realizada. A quantidade real de aceitação do domínio do produto/produto nas estatísticas do catálogo é 0.
Tarefas de negócios e resultados pretendidos
- público-alvo
- Cabeça de iluminação do microscópio a laser: posição do ponto na superfície alvo
- pseudo saída
- Diferença central antes e depois da troca da lente objetiva
- Condições aplicáveis
- A relação entre a aberração cromática da lente objetiva e o plano focal posterior precisa ser verificada
- prioridade
- Extensão geral. A verificação precisa ser concluída de acordo com as condições ópticas, calibração e amostras listadas.
Entrada de imagem e roteamento de algoritmo
Condições de imagem e dispositivo
Fixe a câmera e a superfície do alvo, registre a exposição e o ganho e cubra o ponto de luz e o fundo no campo de visão. Microscópios, amostragem de relé e câmeras adaptadas ao comprimento de onda
XY · Posição do ponto de luz na superfície alvo
Fixe a câmera e a superfície do alvo, registre a exposição e o ganho e cubra o ponto de luz e o fundo no campo de visão
- A101Centróide em escala de cinza de ponto laser de limite adaptativo
- A107Diagnóstico de qualidade e usabilidade do ponto laser
- A112Repetibilidade bidimensional do ponto laser e elipse de cobertura
Evidência algorítmica existente:A101–A112 apenas ponto de síntese analítica completo e verificação de geometria controlada; veja laser_spot_benchmark.json
Capacidades atuais e capacidades a serem complementadas
Módulos reutilizáveis
Módulos existentes podem ser usados como hosts
Posicionamento de ponto de luz existente, diagnóstico de qualidade ou módulos estatísticos podem ser usados como base de cálculo principal; ROI, calibração, limite e verificação de interface ainda precisam ser concluídos por dispositivo.
Lacunas neste cenário:São necessários ROI, calibração de régua/plano e definição de ponto de referência; apenas a posição bidimensional da superfície alvo pode ser observada diretamente. A relação entre a aberração cromática da lente objetiva e o plano focal posterior precisa ser verificada. O posicionamento da imagem das partículas é uma migração de algoritmo e o modelo de imagem deve ser verificado novamente.
Lacunas no nível da rota:Requer ROI, calibração de régua/plano e definição de ponto de referência; só pode observar diretamente a posição bidimensional da superfície alvo
"Módulos reutilizáveis" descrevem apenas o volume relativo de desenvolvimento e não constituem um compromisso com precisão, ritmo, estabilidade ou prazo de entrega.
Métodos de verificação e pré-requisitos de aceitação
Testado de forma independente com um estágio de deslocamento bidimensional e pontos de referência fixos, relatando erro central P95, detecções perdidas e detecções falsas. Estágio de microesfera, régua microscópica e referência de posicionamento independente
| Itens de aceitação | Evidências necessárias para confirmação do projeto | Estado atual |
|---|---|---|
| Entradas e amostras | Quadros originais do dispositivo real, amostras normais/anormais, condições de exposição e caminho da luz, agrupamento de amostras e reserva | Não fornecido, aguardando entrada do projeto |
| Magnitude e Erro | Valor de referência independente, registro de calibração, calibre estatístico de erro e limite de confirmação mútua | Não verificado |
| Exceções e limites | Tratamento antecipado de detecções perdidas, falsas detecções, superexposição, oclusão, reflexão, fora de visão e anormalidades de comunicação | A definir |
| Integração de sistema | Interface, sincronização de horário, plataforma de implantação, ritmo, log, versão e registro de execução contínua | Não integrado |
Fontes de evidências e limites de citação
A fonte suporta princípios de medição ou aplicações similares; a combinação do módulo, dispositivo e método de aceitação neste cenário são derivações de engenharia e a verificação do produto não foi concluída.
Pesquisa sobre calibração de posição de câmeras com pinças ópticas
Detecção limitada da posição das partículas e o impacto da exposição e amostragem na calibração
Data de verificação: 24/10/2026
Ver informações públicas originais →Medição de feixe pequeno Ophir
Condições ópticas em medições de campo próximo, campo distante e campo de modo de feixe pequeno
Data de verificação: 24/10/2026
Ver informações públicas originais →Escopo de uso da fonte:A informação pública é utilizada para apoiar o princípio de medição ou a existência de aplicações semelhantes e não prova que este cenário tenha sido desenvolvido, implementado ou aceite pela Jishi Technology.
Consulta de projeto
xuzhiyang0928@gmail.com
Envie amostras e condições de equipamentos para esclarecer o escopo de desenvolvimento e entrega
Verificação do retorno do ponto de feixe após troca da lente objetiva
Descreva o objeto da tarefa, a imagem ou vídeo original, os indicadores de destino, a plataforma do dispositivo, a interface e a situação de exemplo.
Telefone: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com