Papel Original do Centro de Simetria Radial
Posicionamento central subpixel de alvos aproximadamente radialmente simétricos
Data de verificação: 24/10/2026
Ver informações públicas originais →LSP243 · Instrumentos de pesquisa com microscópio e pinças ópticas · Imagens microscópicas e pesquisa de partículas
Parcialmente reutilizável
Registro bidimensional do campo de visão microscópico e ponto laser
De frente para a plataforma de processamento do microlaser, a calibração bidimensional das coordenadas da superfície do comando/alvo é usada como rota de observação, e o erro residual da coordenada XY microscópica é planejado para ser gerado. A página é para avaliação do projeto e não significa que o empreendimento foi concluído ou aceito no local.
Resumo do julgamento do projeto
Produto/DispositivoMesa de processamento microlaser
Medir rotaCAL · Calibração bidimensional de coordenadas de comando/alvo
Classificação de habilidadeParcialmente reutilizável
Status de verificaçãoA aceitação real do domínio da máquina/produto deste cenário não foi realizada
Natureza da cena:Cenários de aplicação potenciais semelhantes para pontos de laser. O cenário de aplicação potencial ainda não foi desenvolvido num sistema de produto completo; a aceitação real do domínio da máquina/produto deste cenário não foi realizada. A quantidade real de aceitação do domínio do produto/produto nas estatísticas do catálogo é 0.
Tarefas de negócios e resultados pretendidos
- público-alvo
- Mesa de processamento de microlaser: comando bidimensional/calibração de coordenadas de superfície alvo
- pseudo saída
- Resíduos microscópicos de coordenadas XY
- Condições aplicáveis
- A ampliação da lente objetiva e a tampa de vidro precisam ser consertadas
- prioridade
- Extensão geral. A verificação precisa ser concluída de acordo com as condições ópticas, calibração e amostras listadas.
Entrada de imagem e roteamento de algoritmo
Condições de imagem e dispositivo
Cubra os pontos correspondentes calibrados e os pontos de implantação independentes do campo de visão bidimensional e fixe o caminho óptico e o plano de trabalho. Microscópios, amostragem de relé e câmeras adaptadas ao comprimento de onda
CAL · Calibração bidimensional de coordenadas de comando/alvo
Pontos correspondentes de calibração e pontos de configuração independentes cobrindo o campo de visão bidimensional, caminho óptico fixo e plano de trabalho
- A101Centróide em escala de cinza de ponto laser de limite adaptativo
- A107Diagnóstico de qualidade e usabilidade do ponto laser
- A109Pixel bidimensional para calibração polinomial de coordenadas físicas
- A110Mapeamento de calibração de ponto laser e propagação de covariância
- A112Repetibilidade bidimensional do ponto laser e elipse de cobertura
Evidência algorítmica existente:A101–A112 apenas ponto de síntese analítica completo e verificação de geometria controlada; veja laser_spot_benchmark.json
Capacidades atuais e capacidades a serem complementadas
Parcialmente reutilizável
Requer calibração, sincronização ou integração
O front-end de detecção de ponto de luz ou o módulo de estatísticas de temporização podem ser reutilizados, mas o projeto ainda precisa adicionar calibração geométrica, sincronização de tempo, compensação de movimento ou integração de sistemas de equipamentos.
Lacunas neste cenário:São necessárias aquisição de calibração, definição e verificação de coordenadas; o mapeamento empírico bidimensional não representa nenhuma calibração tridimensional ou do robô. A ampliação da lente objetiva e a tampa de vidro precisam ser consertadas. O posicionamento da imagem das partículas é uma migração de algoritmo e o modelo de imagem deve ser verificado novamente.
Lacunas no nível da rota:São necessárias aquisição de calibração, definição e verificação de coordenadas; o mapeamento empírico bidimensional não representa qualquer calibração tridimensional ou de robô
"Parcialmente reutilizável" descreve apenas o volume relativo de desenvolvimento e não constitui um compromisso com precisão, ritmo, estabilidade ou prazo de entrega.
Métodos de verificação e pré-requisitos de aceitação
Pontos de calibração e pontos de configuração separados para verificar bordas, vaivém, temperatura e erros repetidos de fixação. Estágio de microesfera, régua microscópica e referência de posicionamento independente
| Itens de aceitação | Evidências necessárias para confirmação do projeto | Estado atual |
|---|---|---|
| Entradas e amostras | Quadros originais do dispositivo real, amostras normais/anormais, condições de exposição e caminho da luz, agrupamento de amostras e reserva | Não fornecido, aguardando entrada do projeto |
| Magnitude e Erro | Valor de referência independente, registro de calibração, calibre estatístico de erro e limite de confirmação mútua | Não verificado |
| Exceções e limites | Tratamento antecipado de detecções perdidas, falsas detecções, superexposição, oclusão, reflexão, fora de visão e anormalidades de comunicação | A definir |
| Integração de sistema | Interface, sincronização de horário, plataforma de implantação, ritmo, log, versão e registro de execução contínua | Não integrado |
Fontes de evidências e limites de citação
A fonte suporta princípios de medição ou aplicações similares; a combinação do módulo, dispositivo e método de aceitação neste cenário são derivações de engenharia e a verificação do produto não foi concluída.
Pesquisa sobre calibração de posição de câmeras com pinças ópticas
Detecção limitada da posição das partículas e o impacto da exposição e amostragem na calibração
Data de verificação: 24/10/2026
Ver informações públicas originais →Medição de feixe pequeno Ophir
Condições ópticas em medições de campo próximo, campo distante e campo de modo de feixe pequeno
Data de verificação: 24/10/2026
Ver informações públicas originais →Escopo de uso da fonte:A informação pública é utilizada para apoiar o princípio de medição ou a existência de aplicações semelhantes e não prova que este cenário tenha sido desenvolvido, implementado ou aceite pela Jishi Technology.
Consulta de projeto
xuzhiyang0928@gmail.com
Envie amostras e condições de equipamentos para esclarecer o escopo de desenvolvimento e entrega
Registro bidimensional do campo de visão microscópico e ponto laser
Descreva o objeto da tarefa, a imagem ou vídeo original, os indicadores de destino, a plataforma do dispositivo, a interface e a situação de exemplo.
Telefone: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com