Pozycjonowanie wiązki Duma i aplikacja do regulacji optycznej
Kategorie zastosowań dotyczące położenia wiązki, konfiguracji optycznej i kształtu plamki
Data weryfikacji: 2026-10-24
Zobacz oryginalne informacje publiczne →LSP010 · Produkcja i starzenie laserów · Lasery i moduły optoelektroniczne
Moduły wielokrotnego użytku
Kontrola ruchu belki wychodzącej spowodowanego utwardzaniem opakowania
Stojąc w obliczu opakowania diody laserowej, wykorzystując pozycję plamki świetlnej na powierzchni docelowej jako drogę obserwacji, należy wyprowadzić różnicę XY przed i po utwardzeniu. Strona służy do oceny projektu i nie oznacza, że prace rozwojowe zostały ukończone lub zaakceptowane na miejscu.
Podsumowanie oceny projektu
Produkt/urządzenieOpakowanie diody laserowej
Zmierz trasęXY · Pozycja plamki świetlnej na powierzchni docelowej
Ocena umiejętnościModuły wielokrotnego użytku
Stan weryfikacjiRzeczywista akceptacja domeny maszyny/produktu dla tego scenariusza nie została przeprowadzona
Charakter sceny:Podobne potencjalne scenariusze zastosowań plam laserowych. Potencjalny scenariusz zastosowania nie został jeszcze przekształcony w kompletny system produktu; faktyczna akceptacja tego scenariusza w domenie maszyny/produktu nie została przeprowadzona. Rzeczywista ilość akceptacji produktu/domeny produktu w statystykach katalogu wynosi 0.
Zadania biznesowe i zamierzony wynik
- grupa docelowa
- Opakowanie diody laserowej: pozycja plamki na powierzchni docelowej
- pseudowyjście
- Różnica XY przed i po utwardzeniu
- Obowiązujące warunki
- Utwardzanie i odkształcanie termiczne samego oprzyrządowania wymaga kanału odniesienia
- priorytet
- Nadaj priorytet weryfikacji. Dwuwymiarową różnicę przed i po utwardzeniu można najpierw zweryfikować bez konieczności całkowitej inwersji trójwymiarowej.
Obrazowanie wejścia i routing algorytmu
Warunki obrazowania i urządzenia
Zamocuj kamerę i powierzchnię docelową, zapisz ekspozycję i wzmocnienie oraz zakryj plamkę świetlną i tło w polu widzenia. Kamery, tłumiki i stałe oprawy bliskiego i dalekiego pola dostosowane do długości fali
XY · Pozycja plamki świetlnej na powierzchni docelowej
Zamocuj kamerę i powierzchnię docelową, zapisz ekspozycję i wzmocnienie oraz zakryj plamkę świetlną i tło w polu widzenia
- A101Adaptacyjny próg punktowy punktu laserowego w skali szarości
- A107Diagnostyka jakości i użyteczności plamki laserowej
- A112Dwuwymiarowa powtarzalność plamki laserowej i elipsa pokrycia
Istniejące dowody algorytmiczne:A101–A112 tylko punkt pełnej syntezy analitycznej i weryfikacja kontrolowanej geometrii; zobacz laser_spot_benchmark.json
Aktualne możliwości i możliwości do uzupełnienia
Moduły wielokrotnego użytku
Istniejące moduły mogą służyć jako hosty
Główną podstawą obliczeń może być istniejące pozycjonowanie punktów świetlnych, diagnostyka jakości lub moduły statystyczne; ROI, kalibracja, próg i weryfikacja interfejsu nadal muszą zostać ukończone przez urządzenie.
Luki w tym scenariuszu:Wymagane jest ROI, kalibracja linijki/płaszczyzny i zdefiniowanie punktu odniesienia; można bezpośrednio obserwować jedynie dwuwymiarowe położenie powierzchni docelowej. Utwardzanie i odkształcanie termiczne samego oprzyrządowania wymaga kanału odniesienia. Skala szarości pikseli i moc optyczna są kalibrowane oddzielnie
Luki na poziomie trasy:Wymaga ROI, kalibracji linijki/płaszczyzny i zdefiniowania punktu odniesienia; może jedynie bezpośrednio obserwować dwuwymiarowe położenie powierzchni docelowej
„Moduły wielokrotnego użytku” opisują jedynie względną wielkość opracowania i nie stanowią zobowiązania co do dokładności, tempa, stabilności ani czasu dostawy.
Metody weryfikacji i warunki akceptacji
Niezależnie przetestowane z dwuwymiarowym stopniem przemieszczenia i stałymi punktami odniesienia, błąd centrum raportowania P95, pominięte i fałszywe wykrycia. Niezależny analizator wiązki i powiązanie kontroli temperatury/rejestracji prądu
| Przedmioty akceptacji | Dowód wymagany do potwierdzenia projektu | Aktualny stan |
|---|---|---|
| Wejścia i próbki | Oryginalne klatki prawdziwego urządzenia, próbki normalne/nienormalne, warunki ekspozycji i ścieżki światła, grupowanie próbek i odkładanie na bok | Nie podano. Czekam na dane wejściowe projektu |
| Wielkość i błąd | Niezależna wartość odniesienia, zapis kalibracji, kaliber statystyczny błędu i próg wzajemnego potwierdzenia | Nie zweryfikowano |
| Wyjątki i granice | Przewidywane postępowanie w przypadku pominiętych wykryć, fałszywych wykryć, prześwietlenia, okluzji, odbić, utraty pola widzenia i nieprawidłowości w komunikacji | Do zdefiniowania |
| Integracja systemu | Interfejs, synchronizacja czasu, platforma wdrożeniowa, tempo, dziennik, wersja i ciągły zapis działania | Niezintegrowany |
Źródła dowodów i granice cytowań
Źródło obsługuje zasady pomiaru lub podobne zastosowania; kombinacja modułów, urządzenie i metoda akceptacji w tym scenariuszu są wyprowadzeniem inżynieryjnym, a weryfikacja produktu nie została zakończona.
Analiza wiązki laserowej Ophir
Analiza plamki kamery i przemysłowa diagnostyka laserowa; pomiar mocy wymaga specjalnych czujników
Data weryfikacji: 2026-10-24
Zobacz oryginalne informacje publiczne →Warunki kolimacyjne Edmunda
Zależność pomiędzy wielkością źródła, ogniskową i kątem rozbieżności
Data weryfikacji: 2026-10-24
Zobacz oryginalne informacje publiczne →Zakres wykorzystania źródła:Informacje publiczne służą do wspierania zasady pomiaru lub istnienia podobnych aplikacji i nie dowodzą, że ten scenariusz został opracowany, wdrożony lub zaakceptowany przez Jishi Technology.
Konsultacje projektu
xuzhiyang0928@gmail.com
Prześlij próbki i warunki wyposażenia, aby wyjaśnić zakres rozwoju i dostawy
Kontrola ruchu belki wychodzącej spowodowanego utwardzaniem opakowania
Proszę opisać obiekt zadania, oryginalne zdjęcie lub film, wskaźniki docelowe, platformę urządzenia, interfejs i przykładową sytuację.
Telefon: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com