In deze richting worden specifieke producten, meettaken, beeldinputs, algoritmeroutes, voorgestelde outputs en acceptatiemethoden opgesplitst en uitgelegd, die kunnen worden gebruikt om monsters en systeemomstandigheden te evalueren vóór de oprichting van bedrijfsprojecten.
Reikwijdte van de industrie:Gestructureerde licht- en diffractieapparaten.
Betreft meettrajecten:Positie-inversie van de diffractievolgorde, vergelijking van gescheiden lichtvlekkenarrays, tweedimensionale kalibratie van opdracht-/doeloppervlakcoördinaten.
Standaard diffractierooster · Positie-inversie van de diffractievolgorde
Kandidaten voor diffractiepunthoek en periode
Speciale ontwikkeling:De meet-/regelkern moet worden aangevuld en geverifieerd volgens de speciale projectgoedkeuring
Bekijk inputs, outputs, hiaten en validatiemethoden →Roosterdraaischijf · Positie-omkering van de diffractievolgorde
Hoek corresponderend punttraject
Speciale ontwikkeling:De meet-/regelkern moet worden aangevuld en geverifieerd volgens de speciale projectgoedkeuring
Bekijk inputs, outputs, hiaten en validatiemethoden →Leerinstrument voor lasergolflengte · Positie-inversie van diffractievolgorde
Diffractiepuntafstand en golflengtekandidaten
Speciale ontwikkeling:De meet-/regelkern moet worden aangevuld en geverifieerd volgens de speciale projectgoedkeuring
Bekijk inputs, outputs, hiaten en validatiemethoden →Periodiek microstructuurmonster · Positie-inversie van de diffractievolgorde
Wijzigingen in de afstand van de hellingen
Speciale ontwikkeling:De meet-/regelkern moet worden aangevuld en geverifieerd volgens de speciale projectgoedkeuring
Bekijk inputs, outputs, hiaten en validatiemethoden →Testbank voor akoestisch-optische apparaten·Gescheiden vergelijking van lichtspotarrays
Punttraject op het eerste niveau en relatieve energie
Algemene uitbreidingen:Verificatie moet worden voltooid volgens de vermelde optische omstandigheden, kalibratie en monsters.
Bekijk inputs, outputs, hiaten en validatiemethoden →Multi-order diffractiebundelsplitser · vergelijking van gescheiden lichtvlekkenarrays
Positieve en negatieve ordeafwijking
Algemene uitbreidingen:Verificatie moet worden voltooid volgens de vermelde optische omstandigheden, kalibratie en monsters.
Bekijk inputs, outputs, hiaten en validatiemethoden →Microhole array-teststuk · Tweedimensionale kalibratie van opdracht-/doeloppervlakcoördinaten
Arrayhoek en uitlijningsresidu
Algemene uitbreidingen:Verificatie moet worden voltooid volgens de vermelde optische omstandigheden, kalibratie en monsters.
Bekijk inputs, outputs, hiaten en validatiemethoden →Diffractieprojectiecomponent · Gescheiden vergelijking van lichtspotarrays
Puntafstand en temperatuurcurve
Algemene uitbreidingen:Verificatie moet worden voltooid volgens de vermelde optische omstandigheden, kalibratie en monsters.
Bekijk inputs, outputs, hiaten en validatiemethoden →Roosterdiffractie en periodieke structuur: 8 mogelijke toepassingsscenario's van laserpunt- en lichtpuntalgoritmen
Beschrijf het taakobject, de originele foto of video, de doelindicatoren, het apparaatplatform, de interface en de voorbeeldsituatie.
Telefoon: 13910119357