In deze richting worden specifieke producten, meettaken, beeldinputs, algoritmeroutes, voorgestelde outputs en acceptatiemethoden opgesplitst en uitgelegd, die kunnen worden gebruikt om monsters en systeemomstandigheden te evalueren vóór de oprichting van bedrijfsprojecten.
Reikwijdte van de industrie:Microscopie en deeltjesonderzoek.
Betreft meettrajecten:Positie van de lichtvlek op het doeloppervlak, timing en drift van de lichtvlek, tweedimensionale opdracht/kalibratie van de coördinaten van het doeloppervlak, migratie van puntdeeltjesbeeldvorming, vlekvorm en relatieve verdeling.
Confocaal lichtpad · doelspotpositie
Geconjugeerde oppervlaktelichtpuntverschuiving
Algemene uitbreidingen:Verificatie moet worden voltooid volgens de vermelde optische omstandigheden, kalibratie en monsters.
Bekijk inputs, outputs, hiaten en validatiemethoden →Lichtbladmicroscopie · Lichtvlektiming en drift
Middentraject van invallende lichtvlek
Algemene uitbreidingen:Verificatie moet worden voltooid volgens de vermelde optische omstandigheden, kalibratie en monsters.
Bekijk inputs, outputs, hiaten en validatiemethoden →Microlaserverwerkingstafel · Tweedimensionale kalibratie van opdracht-/doeloppervlakcoördinaten
Microscopische XY-coördinaatresiduen
Algemene uitbreidingen:Verificatie moet worden voltooid volgens de vermelde optische omstandigheden, kalibratie en monsters.
Bekijk inputs, outputs, hiaten en validatiemethoden →Optisch pincet experimenteel apparaat · Puntachtige deeltjesbeeldmigratie
Microsfeertrajecten en ontbrekende frames
Speciale ontwikkeling:De meet-/regelkern moet worden aangevuld en geverifieerd volgens de speciale projectgoedkeuring
Bekijk inputs, outputs, hiaten en validatiemethoden →Observatieplatform voor microfluïdische deeltjes · Migratie van beeldvorming met gestippelde deeltjes
2D-deeltjespositie en telkandidaten
Speciale ontwikkeling:De meet-/regelkern moet worden aangevuld en geverifieerd volgens de speciale projectgoedkeuring
Bekijk inputs, outputs, hiaten en validatiemethoden →Lasermicroscoopverlichtingskop · Positie van de doeloppervlakte
Centrumverschil voor en na het wisselen van objectieflens
Algemene uitbreidingen:Verificatie moet worden voltooid volgens de vermelde optische omstandigheden, kalibratie en monsters.
Bekijk inputs, outputs, hiaten en validatiemethoden →Monsterplatform met fluorescerende stippen · Beeldvormingsmigratie van puntachtige deeltjes
Puntcentrum en positioneringsresidu
Speciale ontwikkeling:De meet-/regelkern moet worden aangevuld en geverifieerd volgens de speciale projectgoedkeuring
Bekijk inputs, outputs, hiaten en validatiemethoden →Microvezelsonde · Vlekvorm en relatieve verdeling
Nabij het midden van het veld en de breedte van de hoofdas
Algemene uitbreidingen:Verificatie moet worden voltooid volgens de vermelde optische omstandigheden, kalibratie en monsters.
Bekijk inputs, outputs, hiaten en validatiemethoden →Onderzoeksinstrumenten voor microscopie en optische pincetten: 8 mogelijke toepassingsscenario's van laserpunt- en lichtpuntalgoritmen
Beschrijf het taakobject, de originele foto of video, de doelindicatoren, het apparaatplatform, de interface en de voorbeeldsituatie.
Telefoon: 13910119357