SWIR 실리콘 웨이퍼의 내부 균열 및 가장자리 결함 이미징
- 최소 입력 및 기술 경로
- SWIR L1/L5；T12
- 목표 출력
- 균열, 치핑 및 전송 이상
- 구현
- 특수 광학이 필요합니다
- 비판적 수용
- 현미경/음향 실제값과 비교한 최소 균열
엔터프라이즈 애플리케이션 영역 D16
반도체, 웨이퍼, 광전자소자 및 디스플레이 적외선 비전 개발 서비스
"반도체, 웨이퍼, 광전자 장치 및 디스플레이" 관련 장비 제조업체, 시스템 통합업체 및 기업 R&D를 위해 8가지 유형의 기업 애플리케이션 시나리오를 포괄하는 적외선 데이터 평가, 알고리즘 개발, 장비/플랫폼 통합 및 테스트 승인을 제공합니다.
서비스 범위 및 구현 계획
방향 번호D16
수요 시나리오8개 항목
주요 입력SWIR L1/L5;
일반적인 경로T12、T03、T04、T10、T18、T11、T05、T01
프로젝트 범위는 샘플, 장비, 작업 조건 및 서면 지표를 기반으로 결정됩니다. 평가 결과에 따라 일반 모듈, 특수 모델, 멀티 센서 통합으로 구성됩니다.
응용 시나리오 및 개발 내용
웨이퍼 핫스팟 및 국부 누출 열 위치 파악
- 목표 출력
- 핫스팟, 좌표 및 전기 여기 상관 관계
- 구현
- 매크로 방사선 교정이 필요합니다.
- 비판적 수용
- 전기적 측정/고장 분석, 위치 오류와 비교
잠금 열화상 검사를 통해 칩 단락 및 누출 위치 파악
- 최소 입력 및 기술 경로
- L5；T10
- 목표 출력
- 위상 핫스팟 및 결함 위치
- 구현
- 전기 자극 도구가 필요합니다.
- 비판적 수용
- 프로브/공개 참값 비교, POD
광발광 PL/전자발광 EL 균일성
- 최소 입력 및 기술 경로
- NIR/SWIR L1/L5；T18
- 목표 출력
- 광도, 암부 및 균일성
- 구현
- 특별한 구현이 필요함
- 비판적 수용
- 전기적 성능/참조 시트와 비교하여 반복성
VCSEL/IR LED 어레이 조명 및 전력 균일성
- 최소 입력 및 기술 경로
- NIR/SWIR L1；T11
- 목표 출력
- 발광점, 단점, 상대 강도 및 배열
- 구현
- 재사용 가능한 A43/A44
- 비판적 수용
- 파워미터/프로브 스테이션과 비교, 포인트 레벨 리콜
OLED/MicroLED 드라이버 열 이상 및 노후화 핫스팟
- 목표 출력
- 픽셀/영역 열 이상 및 노화 추세
- 구현
- 고해상도 광학이 필요합니다
- 비판적 수용
- 최소분할면적, 생활데이터와의 상관관계
반도체 패키지 보이드 및 박리의 능동 열 감지
- 최소 입력 및 기술 경로
- L5；T10
- 목표 출력
- 결함 후보, 영역 및 깊이 프록시
- 구현
- 참조 샘플이 필요합니다
- 비판적 수용
- 대 X선/CT/SAM, POD
광학 필터, 창 및 검출기 반응 균일성
- 목표 출력
- 응답 플롯, 불량 요소 및 대역 일관성
- 구현
- 기기 교정이 필요함
- 비판적 수용
- 균일한 소스 반복성, 응답 잔차
프로젝트 평가 전 필요한 정보
- 대상 장비/물체, 현장여건, 업무프로세스 및 후속조치
- 적외선 카메라, 렌즈, 스펙트럼 대역, 설치 거리, 시야각, 해상도 및 데이터 인터페이스
- 정상, 비정상, 경계 및 간섭 조건에서의 원본 샘플 및 수집 매개변수
- 온도, 부품, 상태 또는 이벤트에 대한 참조 진리값 및 주석 사양
- 대상 플랫폼, 네트워크, 인터페이스, 스토리지, 대기 시간 및 운영 리소스 제약
- 거짓 긍정, 누락된 부정, 수동 검토, 연결, 실패 처리 및 허용 임계값
구현 및 전달 방법
- 프로젝트 입력 확인카메라, 스펙트럼 대역, 비트 심도, SDK, 환경 조건, 샘플 및 수용 실제 값을 확인합니다.
- 샘플 검증주요 처리 링크, 적용 조건 및 비정상 작동 조건을 확인하고 개발 범위 및 승인 방법을 결정합니다.
- 알고리즘 개발 및 통합데이터 구문 분석, 알고리즘, 품질 게이팅, 인터페이스 및 대상 플랫폼 배포를 구현합니다.
- 테스트 승인 및 인계합의된 테스트 세트 및 대상 플랫폼에 따라 다시 테스트하고 결과물, 테스트 결과 및 적용 가능한 조건을 전달합니다.
- 요구사항 및 기술 솔루션, 입력 및 출력, 인터페이스 필드 정의
- 알고리즘 라이브러리, 모델 또는 SDK/API; 납품 양식이 프로젝트 계획에서 확인되었습니다.
- 샘플 프로그램, 매개변수 구성, 오류 상태 및 호출 지침
- 테스트 세트 버전, 지표 정의, 계층화 결과 및 실패한 샘플 기록
- 대상 플랫폼 적응, 자원 사용량 및 실행 지연 기록
- 버전, 종속성, 라이센스, 재생산 단계 및 적용 가능한 조건 설명
수용 설계
각 시나리오는 "키 승인"에 따라 독립적인 테스트 사례를 설정합니다. 여러 시나리오에서 모델을 공유하면 각 시나리오, 거리, 부하, 환경, 대상 크기에 대한 결과가 개별적으로 보고되고 전체 통계가 보완됩니다.
고위험 경보 또는 제어가 관련된 경우 알고리즘 출력은 검토 또는 연계 판단에 사용됩니다. 안전 기능, 규제 책임 및 자동 폐기에는 별도의 설계와 승인이 필요합니다.
기업 고객을 위한 자주 묻는 질문
장면 중 하나를 기반으로 직접 구매할 수 있나요?
별도의 작업 패키지로 먼저 평가할 수 있습니다. 공식적인 범위는 장치, 데이터, 대상 개체, 환경, 인터페이스, 전달 형식 및 허용 임계값을 설명해야 합니다.
비정상적인 샘플이 없을 때 시작할 수 있습니까?
데이터 인터페이스, 일반 기준선, 획득 계획 및 시뮬레이션/제어 테스트 설계를 먼저 완료할 수 있습니다. 비정상 참값을 충분히 얻은 후에 비정상 탐지율과 결함 분류 효과를 평가할 수 있습니다.
알고리즘이 경보나 장비 작업을 직접 트리거할 수 있습니까?
기간, 중복 제거, 품질 게이팅, 수동 검토, 통신 실패 및 안전 연동은 비즈니스 위험을 기반으로 설계되어야 합니다. 고위험 조치는 독립적인 안전 메커니즘과 현장 승인이 완료된 후에 활성화되어야 합니다.
프로젝트 상담
xuzhiyang0928@gmail.com
개발 및 납품 범위를 명확히 하기 위해 샘플 및 장비 조건을 제출하십시오.
반도체, 웨이퍼, 광전자소자 및 디스플레이 적외선 비전 개발 서비스
작업 개체, 원본 사진 또는 비디오, 대상 표시기, 장치 플랫폼, 인터페이스 및 샘플 상황을 설명하십시오.
전화: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com