Catatan Teknis PSD Hamamatsu
Prinsip posisi titik cahaya, jangkauan segitiga, dan deteksi sensitif posisi; Performa perangkat keras PSD tidak ditransfer ke implementasi kamera
Tanggal verifikasi: 24-10-2026
Lihat informasi publik asli →LSP254 · Pembiasan cairan dan permukaan cairan bebas · Proses busa semprotan cairan dan kristalisasi
Dapat digunakan kembali sebagian
Target penempatan chip dan registrasi spot
Untuk chip mikrofluida, kalibrasi koordinat perintah/target dua dimensi digunakan sebagai rute pengamatan, dan residu dua dimensi referensi saluran direncanakan untuk dihasilkan. Halaman ini untuk evaluasi proyek dan tidak berarti bahwa pembangunan telah selesai atau telah diterima di lokasi.
Ringkasan Penilaian Proyek
Produk/PerangkatChip mikrofluida
Ukur ruteCAL · Kalibrasi koordinat perintah/target dua dimensi
Penilaian KemampuanDapat digunakan kembali sebagian
Status verifikasiPenerimaan domain mesin/produk sebenarnya dari skenario ini belum dilakukan
Adegan alam:Skenario penerapan potensial serupa untuk titik laser. Skenario penerapan potensial belum dikembangkan menjadi sistem produk yang lengkap; penerimaan domain mesin/produk sebenarnya dari skenario ini belum dilakukan. Kuantitas penerimaan produk/domain produk sebenarnya dalam statistik katalog adalah 0.
Tugas bisnis dan keluaran yang diharapkan
- target audiens
- Chip mikrofluida: instruksi dua dimensi/kalibrasi koordinat target
- keluaran semu
- Residu 2D Dasar Saluran
- Ketentuan yang berlaku
- Pengenalan saluran memerlukan modul gambar tambahan
- prioritas
- Ekstensi umum. Verifikasi perlu diselesaikan sesuai dengan kondisi optik, kalibrasi, dan sampel yang tercantum.
Input pencitraan dan perutean algoritma
Kondisi pencitraan dan perangkat
Tutupi titik-titik terkait yang dikalibrasi dan titik-titik pengaturan independen dari bidang pandang dua dimensi, dan perbaiki jalur optik dan bidang kerja. Saluran aliran transparan atau jalur cahaya refleksi permukaan cair, suhu dan referensi geometris
CAL · Kalibrasi koordinat perintah/target dua dimensi
Kalibrasi titik-titik yang sesuai dan titik pengaturan independen yang mencakup bidang pandang dua dimensi, jalur optik tetap, dan bidang kerja
- A101Centroid skala abu-abu titik laser ambang batas adaptif
- A107Diagnostik kualitas dan kegunaan titik laser
- A109Piksel dua dimensi ke kalibrasi polinomial koordinat fisik
- A110Pemetaan kalibrasi titik laser dan propagasi kovarians
- A112Laser spot pengulangan dua dimensi dan cakupan elips
Bukti algoritmik yang ada:A101–A112 hanya menyelesaikan tempat sintesis analitik dan verifikasi geometri terkontrol; lihat laser_spot_benchmark.json
Kemampuan dan kemampuan saat ini yang perlu ditambah
Dapat digunakan kembali sebagian
Memerlukan kalibrasi, sinkronisasi, atau integrasi
Modul front-end deteksi titik cahaya atau statistik waktu dapat digunakan kembali, tetapi proyek masih perlu menambahkan kalibrasi geometris, sinkronisasi waktu, kompensasi gerak, atau integrasi sistem peralatan.
Kesenjangan dalam skenario ini:Diperlukan akuisisi kalibrasi, definisi koordinat, dan verifikasi; pemetaan empiris dua dimensi tidak mewakili kalibrasi tiga dimensi atau robot apa pun. Identifikasi saluran memerlukan modul gambar tambahan. Kemiringan permukaan cairan, refraksi, dan translasi target perlu dirancang dengan jalur optik yang dapat diidentifikasi
Kesenjangan tingkat rute:Diperlukan akuisisi kalibrasi, definisi koordinat, dan verifikasi; pemetaan empiris dua dimensi tidak mewakili kalibrasi tiga dimensi atau robot apa pun
"Dapat digunakan kembali sebagian" hanya menggambarkan volume pengembangan relatif dan bukan merupakan komitmen terhadap akurasi, tempo, stabilitas, atau waktu pengiriman.
Metode verifikasi dan prasyarat penerimaan
Pisahkan titik kalibrasi dan titik set-out untuk memeriksa kesalahan tepi, bolak-balik, suhu, dan kesalahan penjepitan berulang. Cairan bias standar, uji silang meja sudut/tinggi ketinggian cairan
| Barang penerimaan | Bukti diperlukan untuk konfirmasi proyek | Status saat ini |
|---|---|---|
| Masukan dan sampel | Bingkai asli perangkat nyata, sampel normal/tidak normal, kondisi paparan dan jalur cahaya, pengelompokan sampel dan sisihkan | Tidak disediakan, menunggu masukan proyek |
| Besaran dan Kesalahan | Nilai referensi independen, catatan kalibrasi, kaliber statistik kesalahan, dan ambang batas konfirmasi bersama | Tidak terverifikasi |
| Pengecualian dan batasan | Penanganan yang diantisipasi atas deteksi yang terlewat, deteksi palsu, paparan berlebih, oklusi, refleksi, ketidaknormalan di luar pandangan, dan komunikasi | Untuk didefinisikan |
| Integrasi sistem | Antarmuka, sinkronisasi waktu, platform penerapan, tempo, log, versi, dan catatan berjalan berkelanjutan | Tidak terintegrasi |
Sumber bukti dan batasan kutipan
Sumbernya mendukung prinsip pengukuran atau aplikasi serupa; kombinasi modul, perangkat, dan metode penerimaan dalam skenario ini merupakan derivasi rekayasa, dan verifikasi produk belum selesai.
Penelitian Deflektometri Fototermal IBM
Prinsip defleksi berkas probe disebabkan oleh gradien indeks bias
Tanggal verifikasi: 24-10-2026
Lihat informasi publik asli →Deskripsi Teknologi Pencitraan 3D NIST
Triangulasi titik aktif, geometri pindaian, dan propagasi kesalahan
Tanggal verifikasi: 24-10-2026
Lihat informasi publik asli →Cakupan penggunaan sumber:Informasi publik digunakan untuk mendukung prinsip pengukuran atau keberadaan aplikasi serupa, dan tidak membuktikan bahwa skenario ini telah dikembangkan, diterapkan, atau diterima oleh Jishi Technology.
Konsultasi proyek
xuzhiyang0928@gmail.com
Kirimkan sampel dan kondisi peralatan untuk memperjelas cakupan pengembangan dan pengiriman
Target penempatan chip dan registrasi spot
Harap jelaskan objek tugas, gambar atau video asli, indikator target, platform perangkat, antarmuka, dan situasi sampel.
Telepon: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com