Prinsip Triangulasi Laser Mikro-Epsilon
Mengirim, menerima pencitraan dan pengukuran jarak setelah kalibrasi
Tanggal verifikasi: 24-10-2026
Lihat informasi publik asli →LSP123 · Karet dan Cetakan Plastik · Cetakan Plastik dan Injeksi
Perlu menambahkan inti baru
Kandidat Memeriksa Keseragaman Lendutan Balok yang Ditransmisikan
Menghadapi lembaran plastik transparan, menggunakan defleksi transmisi dan inversi refraksi sebagai jalur pengamatan, distribusi defleksi titik pemindaian dimaksudkan sebagai keluaran. Halaman ini untuk evaluasi proyek dan tidak berarti bahwa pembangunan telah selesai atau telah diterima di lokasi.
Ringkasan Penilaian Proyek
Produk/PerangkatLembaran plastik transparan
Ukur ruteREFRAKSI · Defleksi transmisi dan inversi refraksi
Penilaian KemampuanPerlu menambahkan inti baru
Status verifikasiPenerimaan domain mesin/produk sebenarnya dari skenario ini belum dilakukan
Adegan alam:Skenario penerapan potensial serupa untuk titik laser. Skenario penerapan potensial belum dikembangkan menjadi sistem produk yang lengkap; penerimaan domain mesin/produk sebenarnya dari skenario ini belum dilakukan. Kuantitas penerimaan produk/domain produk sebenarnya dalam statistik katalog adalah 0.
Tugas bisnis dan keluaran yang diharapkan
- target audiens
- Lembaran plastik transparan: defleksi transmisi dan inversi refraksi
- keluaran semu
- Pindai distribusi defleksi titik
- Ketentuan yang berlaku
- Tidak dapat secara langsung memberikan ketebalan atau tekanan internal
- prioritas
- Perkembangan khusus. Inti pengukuran/kontrol perlu dilengkapi dan diverifikasi sesuai dengan persetujuan proyek khusus
Input pencitraan dan perutean algoritma
Kondisi pencitraan dan perangkat
Perangkat transmisi yang sudut datangnya, panjang jalur optik, batas medium, dan suhunya diketahui. Sampel material dan perkakas non-kontak dengan warna/transmisi berbeda
REFRAKSI · Defleksi transmisi dan inversi refraksi
Perangkat transmisi dengan sudut datang, panjang jalur optik, batas medium, dan suhu yang diketahui
- A101Centroid skala abu-abu titik laser ambang batas adaptif
- A103Pusat titik subpiksel permukaan kuadrat logaritmik
- A107Diagnostik kualitas dan kegunaan titik laser
- A111Konversi piksel titik laser ke sudut pandang kamera
- A112Laser spot pengulangan dua dimensi dan cakupan elips
Bukti algoritmik yang ada:A101–A112 hanya menyelesaikan tempat sintesis analitik dan verifikasi geometri terkontrol; lihat laser_spot_benchmark.json
Kemampuan dan kemampuan saat ini yang perlu ditambah
Perlu menambahkan inti baru
Perlu menambahkan komputasi inti
Ekstraksi titik cahaya hanya dapat digunakan sebagai observasi front-end, dan kemampuan inti seperti rekonstruksi tiga dimensi, kontrol loop tertutup, muka gelombang, atau inversi kuantitas fisik perlu dikembangkan dan diverifikasi secara terpisah.
Kesenjangan dalam skenario ini:Penelusuran Snell/ray dan analisis pengidentifikasi parameter perlu ditambahkan; defleksi tidak dapat membuktikan komposisi atau konsentrasi secara unik. Ketebalan atau tekanan internal tidak bisa diberikan secara langsung. Sifat optik material perlu dimasukkan dalam kondisi kalibrasi dan kegagalan
Kesenjangan tingkat rute:Penelusuran Snell/ray dan analisis pengidentifikasi parameter perlu ditambahkan; defleksi tidak dapat membuktikan komposisi atau konsentrasi secara unik
"Inti baru diperlukan" hanya menggambarkan volume pengembangan relatif dan bukan merupakan komitmen terhadap akurasi, tempo, stabilitas, atau waktu pengiriman.
Metode verifikasi dan prasyarat penerimaan
Periksa sensitivitas silang geometri/komposisi menggunakan media referensi prisma atau indeks bias yang diketahui dan suhu terkontrol. Suku cadang standar dan pengukur kontak disilangkan untuk menguji kondisi permukaan yang berbeda
| Barang penerimaan | Bukti diperlukan untuk konfirmasi proyek | Status saat ini |
|---|---|---|
| Masukan dan sampel | Bingkai asli perangkat nyata, sampel normal/tidak normal, kondisi paparan dan jalur cahaya, pengelompokan sampel dan sisihkan | Tidak disediakan, menunggu masukan proyek |
| Besaran dan Kesalahan | Nilai referensi independen, catatan kalibrasi, kaliber statistik kesalahan, dan ambang batas konfirmasi bersama | Tidak terverifikasi |
| Pengecualian dan batasan | Penanganan yang diantisipasi atas deteksi yang terlewat, deteksi palsu, paparan berlebih, oklusi, refleksi, ketidaknormalan di luar pandangan, dan komunikasi | Untuk didefinisikan |
| Integrasi sistem | Antarmuka, sinkronisasi waktu, platform penerapan, tempo, log, versi, dan catatan berjalan berkelanjutan | Tidak terintegrasi |
Sumber bukti dan batasan kutipan
Sumbernya mendukung prinsip pengukuran atau aplikasi serupa; kombinasi modul, perangkat, dan metode penerimaan dalam skenario ini merupakan derivasi rekayasa, dan verifikasi produk belum selesai.
Aplikasi perpindahan Micro-Epsilon
Kategori pengukuran ketinggian, jarak dan posisi industri
Tanggal verifikasi: 24-10-2026
Lihat informasi publik asli →Aplikasi Ketebalan Mikro-Epsilon
Pengukuran ketebalan kombinasi sensor perpindahan; prinsip pengukuran yang berbeda harus dipilih secara terpisah
Tanggal verifikasi: 24-10-2026
Lihat informasi publik asli →Cakupan penggunaan sumber:Informasi publik digunakan untuk mendukung prinsip pengukuran atau keberadaan aplikasi serupa, dan tidak membuktikan bahwa skenario ini telah dikembangkan, diterapkan, atau diterima oleh Jishi Technology.
Konsultasi proyek
xuzhiyang0928@gmail.com
Kirimkan sampel dan kondisi peralatan untuk memperjelas cakupan pengembangan dan pengiriman
Kandidat Memeriksa Keseragaman Lendutan Balok yang Ditransmisikan
Harap jelaskan objek tugas, gambar atau video asli, indikator target, platform perangkat, antarmuka, dan situasi sampel.
Telepon: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com