Area Aplikasi Perusahaan D16

Semikonduktor, wafer, perangkat optoelektronik dan layanan pengembangan penglihatan inframerah layar

Untuk produsen peralatan terkait "semikonduktor, wafer, perangkat optoelektronik, dan tampilan", integrator sistem, dan R&D perusahaan, ini menyediakan evaluasi data inframerah, pengembangan algoritme, integrasi peralatan/platform, dan penerimaan pengujian, yang mencakup 8 jenis skenario aplikasi perusahaan.

Ruang lingkup layanan dan rencana implementasi

nomor arahD16
Skenario permintaan8 item
masukan utamaSWIR L1/L5;
Rute khasT12、T03、T04、T10、T18、T11、T05、T01

Ruang lingkup proyek ditentukan berdasarkan sampel, peralatan, kondisi kerja dan indikator tertulis; modul umum, model khusus, dan integrasi multi-sensor dikonfigurasikan sesuai dengan hasil evaluasi.

Skenario aplikasi dan konten pengembangan

IR121

SWIR Pencitraan retakan internal dan cacat tepi pada wafer silikon

Input minimum dan rute teknis
SWIR L1/L5;T12
keluaran sasaran
Retak, chipping dan anomali transmisi
Pelaksanaan
Membutuhkan optik khusus
penerimaan kritis
Retak minimum dibandingkan dengan nilai sebenarnya mikroskopis/akustik
IR122

Hot spot wafer dan lokalisasi kebocoran termal lokal

Input minimum dan rute teknis
MWIR/LWIR Makro L2/L3;T03+T04
keluaran sasaran
Hot spot, koordinat dan korelasi eksitasi listrik
Pelaksanaan
Memerlukan kalibrasi radiasi makro
penerimaan kritis
Bandingkan dengan pengukuran listrik/analisis kegagalan, kesalahan posisi
IR123

Termografi penguncian menemukan sirkuit pendek dan kebocoran chip

Input minimum dan rute teknis
L5;T10
keluaran sasaran
Fase titik panas dan lokasi sesar
Pelaksanaan
Membutuhkan perkakas stimulasi listrik
penerimaan kritis
Versus probe/buka nilai sebenarnya, POD
IR124

Keseragaman Photoluminescence PL/Electroluminescence EL

Input minimum dan rute teknis
NIR/SWIR L1/L5;T18
keluaran sasaran
Intensitas cahaya, area gelap dan keseragaman
Pelaksanaan
Perlu implementasi khusus
penerimaan kritis
Dibandingkan dengan kinerja listrik/lembar referensi, pengulangan
IR125

Pencahayaan rangkaian LED VCSEL/IR dan keseragaman daya

Input minimum dan rute teknis
NIR/SWIR L1;T11
keluaran sasaran
Titik Cahaya, Kekurangan, Intensitas dan Pengaturan Relatif
Pelaksanaan
A43/A44 yang dapat digunakan kembali
penerimaan kritis
Versus meteran listrik/stasiun probe, tingkat titik Penarikan kembali
IR126

Anomali termal driver OLED/MicroLED dan titik panas penuaan

Input minimum dan rute teknis
LWIR/MWIR L2/L3;T03+T05
keluaran sasaran
Anomali termal piksel/area dan tren penuaan
Pelaksanaan
Membutuhkan optik resolusi tinggi
penerimaan kritis
Luas minimum yang dapat dibagi, korelasinya dengan data kehidupan
IR127

Deteksi termal aktif dari rongga dan delaminasi paket semikonduktor

Input minimum dan rute teknis
L5;T10
keluaran sasaran
Kandidat cacat, proxy area dan kedalaman
Pelaksanaan
Perlu sampel referensi
penerimaan kritis
Versus X-ray/CT/SAM, POD
IR128

Filter optik, jendela dan keseragaman respons detektor

Input minimum dan rute teknis
Benda Hitam/Sumber Cahaya L5;T01+T03
keluaran sasaran
Plot respons, elemen buruk, dan konsistensi band
Pelaksanaan
Kalibrasi instrumen diperlukan
penerimaan kritis
Pengulangan sumber seragam, sisa respons

Informasi yang diperlukan sebelum evaluasi proyek

  • Target peralatan/objek, kondisi lokasi, proses bisnis dan tindakan tindak lanjut yang harus dilakukan
  • Kamera inframerah, lensa, pita spektral, jarak pemasangan, bidang pandang, resolusi dan antarmuka data
  • Sampel asli dan parameter pengumpulan dalam kondisi normal, abnormal, batas, dan interferensi
  • Nilai kebenaran referensi dan spesifikasi anotasi untuk suhu, suku cadang, keadaan, atau peristiwa
  • Batasan platform target, jaringan, antarmuka, penyimpanan, latensi, dan sumber daya operasi
  • Positif palsu, negatif yang terlewat, tinjauan manual, keterkaitan, penanganan kegagalan, dan ambang batas penerimaan

Metode implementasi dan penyampaian

  1. Konfirmasi masukan proyekPeriksa kamera, pita spektral, kedalaman bit, SDK, kondisi lingkungan, sampel dan nilai penerimaan sebenarnya.
  2. Verifikasi sampelVerifikasi tautan pemrosesan utama, kondisi yang berlaku, dan kondisi kerja abnormal, serta tentukan cakupan pengembangan dan metode penerimaan.
  3. Pengembangan dan integrasi algoritmaMenerapkan penguraian data, algoritme, gerbang kualitas, antarmuka, dan penerapan platform target.
  4. Tes penerimaan dan serah terimaTes ulang sesuai dengan set tes dan platform target yang disepakati, dan serahkan hasil tes, hasil tes, dan ketentuan yang berlaku.
  • Persyaratan dan solusi teknis, input dan output dan definisi bidang antarmuka
  • Pustaka algoritma, model atau SDK/API; bentuk pengiriman dikonfirmasi dalam rencana proyek
  • Contoh program, konfigurasi parameter, status kesalahan, dan instruksi panggilan
  • Versi set pengujian, definisi indikator, hasil stratifikasi, dan catatan sampel yang gagal
  • Adaptasi platform target, penggunaan sumber daya, dan catatan penundaan pengoperasian
  • Deskripsi versi, dependensi, lisensi, langkah reproduksi, dan ketentuan yang berlaku

Desain penerimaan

Setiap skenario menetapkan kasus uji independen berdasarkan "penerimaan kunci". Saat berbagi model antar skenario, hasilnya dilaporkan secara terpisah untuk setiap skenario, jarak, beban, lingkungan, dan ukuran target, dilengkapi dengan statistik keseluruhan.

Ketika alarm atau kontrol berisiko tinggi terlibat, keluaran algoritme digunakan untuk peninjauan atau penilaian keterkaitan; fungsi keselamatan, tanggung jawab peraturan, dan pembuangan otomatis memerlukan desain dan penerimaan terpisah.

Pertanyaan yang Sering Diajukan untuk Pelanggan Perusahaan

Bisakah saya membeli langsung berdasarkan salah satu adegan?

Dapat dievaluasi terlebih dahulu sebagai paket pekerjaan terpisah. Ruang lingkup formal harus menggambarkan perangkat, data, objek target, lingkungan, antarmuka, bentuk pengiriman, dan ambang batas penerimaan.

Bisakah ini dimulai ketika tidak ada sampel yang abnormal?

Antarmuka data, garis dasar normal, rencana akuisisi, dan desain simulasi/uji terkontrol dapat diselesaikan terlebih dahulu; tingkat deteksi abnormal dan efek klasifikasi kesalahan dapat dievaluasi setelah memperoleh nilai sebenarnya abnormal yang memadai.

Bisakah algoritme secara langsung memicu alarm atau tindakan peralatan?

Durasi, deduplikasi, gerbang kualitas, tinjauan manual, kegagalan komunikasi dan interlocking keselamatan perlu dirancang berdasarkan risiko bisnis. Tindakan berisiko tinggi harus diaktifkan setelah selesainya mekanisme keselamatan independen dan penerimaan di lokasi.

Konsultasi proyek

Kirimkan sampel dan kondisi peralatan untuk memperjelas cakupan pengembangan dan pengiriman

Semikonduktor, wafer, perangkat optoelektronik dan layanan pengembangan penglihatan inframerah layar

Harap jelaskan objek tugas, gambar atau video asli, indikator target, platform perangkat, antarmuka, dan situasi sampel.

Telepon: 13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

Informasi yang diisi hanya akan digunakan untuk evaluasi dan kontak untuk proyek ini. Harap jangan mengirimkan informasi pribadi yang tidak sah atau data sensitif.