Esta dirección desglosa y explica productos específicos, tareas de medición, entradas de imágenes, rutas de algoritmos, salidas propuestas y métodos de aceptación, que pueden usarse para evaluar muestras y condiciones del sistema antes del establecimiento de proyectos corporativos.
Alcance de la industria:Dispositivos de luz estructurada y difracción.
Implica medir rutas:Inversión de posición del orden de difracción, comparación de matriz de puntos de luz separados, calibración de coordenadas de superficie objetivo/comando bidimensional.
Rejilla de difracción estándar · Inversión de posición del orden de difracción
Candidatos de período y ángulo del punto de difracción
Desarrollo especial:El núcleo de medición/control debe complementarse y verificarse de acuerdo con la aprobación especial del proyecto.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Plataforma giratoria de rejilla·Inversión de posición del orden de difracción
Ángulo de trayectoria del punto correspondiente.
Desarrollo especial:El núcleo de medición/control debe complementarse y verificarse de acuerdo con la aprobación especial del proyecto.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Instrumento de enseñanza de longitud de onda láser · Inversión de posición del orden de difracción
Candidatos de longitud de onda y distancia del punto de difracción
Desarrollo especial:El núcleo de medición/control debe complementarse y verificarse de acuerdo con la aprobación especial del proyecto.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Muestra de microestructura periódica·Inversión de posición del orden de difracción
Cambios de espaciado de grados
Desarrollo especial:El núcleo de medición/control debe complementarse y verificarse de acuerdo con la aprobación especial del proyecto.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Banco de pruebas de dispositivos acústico-ópticos·Comparación de conjuntos de puntos de luz separados
Trayectoria puntual de primer nivel y energía relativa.
Extensiones generales:La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Divisor de haz de difracción de orden múltiple · comparación de conjuntos de puntos de luz separados
Desviación de orden positiva y negativa.
Extensiones generales:La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Pieza de prueba de matriz de microagujeros · Calibración de coordenadas de superficie objetivo/comando bidimensional
Ángulo de matriz y alineación residual
Extensiones generales:La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Componente de proyección de difracción · Comparación de conjuntos de puntos de luz separados
Distancia entre puntos y curva de temperatura.
Extensiones generales:La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Difracción de rejilla y estructura periódica: 8 posibles escenarios de aplicación de algoritmos de punto láser y punto de luz
Describa el objeto de la tarea, la imagen o el video original, los indicadores de destino, la plataforma del dispositivo, la interfaz y la situación de muestra.
Teléfono: 13910119357