Esta dirección desglosa y explica productos específicos, tareas de medición, entradas de imágenes, rutas de algoritmos, salidas propuestas y métodos de aceptación, que pueden usarse para evaluar muestras y condiciones del sistema antes del establecimiento de proyectos corporativos.
Alcance de la industria:Obleas y embalajes semiconductores.
Implica medir rutas:Comparación separada de la matriz de puntos de luz, calibración de coordenadas de superficie de comando/objetivo bidimensional, forma y distribución relativa del punto de luz, sincronización y deriva del punto de luz.
Comparación de matriz de puntos separados de chip desnudo VCSEL
Puntos desmontables y ubicaciones de defectos.
Extensiones generales:La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Módulo de paquete VCSEL · Calibración de coordenadas bidimensionales de comando/objetivo
Pose de celosía y residual de referencia.
Extensiones generales:La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Componente de campo lejano VCSEL · Forma del punto y distribución relativa
Ancho de zona y distribución morfológica.
Extensiones generales:La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Conjunto de lentes VCSEL · comparación de conjuntos de puntos separados
Lista de compensaciones de registro y valores atípicos
Extensiones generales:La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Módulo Pulse VCSEL · Temporización puntual y deriva
Rondas de activación y discretización central.
Extensiones generales:La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Módulo de proyección de puntos de infrarrojo cercano · Comparación de conjuntos de puntos de luz separados
Cambios en el centro de la matriz y el espaciado de puntos
Extensiones generales:La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Tablero de prueba del controlador VCSEL · Comparación de matriz de puntos de luz separada
El grupo motriz corresponde al punto visible.
Extensiones generales:La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →Paquete de colimación VCSEL · Forma del punto y distribución relativa
Espaciado de puntos, ancho y estado de fusión
Extensiones generales:La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Ver entradas, salidas, brechas y métodos de validación →VCSEL y matriz de emisiones: 8 posibles escenarios de aplicación de algoritmos de punto láser y punto de luz
Describa el objeto de la tarea, la imagen o el video original, los indicadores de destino, la plataforma del dispositivo, la interfaz y la situación de muestra.
Teléfono: 13910119357