Papel original del centro de simetría radial
Posicionamiento central de subpíxeles de objetivos aproximadamente radialmente simétricos
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →LSP246 · Instrumento de investigación con microscopio y pinzas ópticas · Investigación de imágenes microscópicas y partículas
Módulos reutilizables
Verificación del retorno del punto de haz después de cambiar la lente del objetivo
Frente al cabezal de iluminación del microscopio láser, tomando la posición del punto de luz en la superficie objetivo como ruta de observación, se pretende generar la diferencia central antes y después de cambiar la lente del objetivo. La página es para evaluación de proyectos y no significa que el desarrollo haya sido completado o haya sido aceptado en sitio.
Resumen del juicio del proyecto
Producto/DispositivoCabezal de iluminación para microscopio láser
Medir rutaXY · Posición del punto de luz de la superficie objetivo
Calificación de habilidadMódulos reutilizables
Estado de verificaciónLa aceptación real del dominio de máquina/producto de este escenario no se ha llevado a cabo
Naturaleza de la escena:Posibles escenarios de aplicación similares para puntos láser. El escenario de aplicación potencial aún no se ha desarrollado en un sistema de producto completo; No se ha llevado a cabo la aceptación real del dominio de máquina/producto de este escenario. La cantidad de aceptación real de producto/dominio de producto en las estadísticas del catálogo es 0.
Tareas comerciales y resultados previstos.
- público objetivo
- Cabezal de iluminación del microscopio láser: posición del punto en la superficie objetivo
- pseudo salida
- Diferencia central antes y después del cambio de lente objetivo
- Condiciones aplicables
- Es necesario verificar la relación entre la aberración cromática de la lente del objetivo y el plano focal posterior.
- prioridad
- extensión general. La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Entrada de imágenes y enrutamiento de algoritmos
Condiciones de imagen y dispositivo
Fije la cámara y la superficie objetivo, registre la exposición y la ganancia y cubra el punto de luz y el fondo en el campo de visión. Microscopios, muestreo por relés y cámaras adaptadas a longitudes de onda.
XY · Posición del punto de luz de la superficie objetivo
Fije la cámara y la superficie del objetivo, registre la exposición y la ganancia y cubra el punto de luz y el fondo en el campo de visión.
- A101Centroide en escala de grises del punto láser de umbral adaptativo
- A107Diagnóstico de calidad y usabilidad del punto láser
- A112Elipse de cobertura y repetibilidad bidimensional del punto láser
Evidencia algorítmica existente:A101–A112 solo completan la síntesis analítica y la verificación de la geometría controlada; ver laser_spot_benchmark.json
Capacidades actuales y capacidades a complementar
Módulos reutilizables
Los módulos existentes se pueden utilizar como hosts.
Como base de cálculo principal se pueden utilizar el posicionamiento del punto de luz existente, el diagnóstico de calidad o los módulos estadísticos; El dispositivo aún debe completar la verificación del ROI, la calibración, el umbral y la interfaz.
Brechas en este escenario:Se requieren ROI, calibración de regla/plano y definición del punto de referencia; sólo se puede observar directamente la posición bidimensional de la superficie objetivo. Es necesario verificar la relación entre la aberración cromática de la lente del objetivo y el plano focal posterior. El posicionamiento de imágenes de partículas es una migración de algoritmo y el modelo de imagen debe volverse a verificar.
Brechas a nivel de ruta:Requiere ROI, calibración de regla/plano y definición de punto de referencia; Solo se puede observar directamente la posición bidimensional de la superficie objetivo.
Los "módulos reutilizables" solo describen el volumen de desarrollo relativo y no constituyen un compromiso de precisión, ritmo, estabilidad o tiempo de entrega.
Métodos de verificación y requisitos previos de aceptación.
Probado de forma independiente con una etapa de desplazamiento bidimensional y puntos de referencia fijos, informando el error del centro P95, detecciones perdidas y detecciones falsas. Platina de microesferas, regla microscópica y referencia de posicionamiento independiente.
| Artículos de aceptación | Pruebas requeridas para la confirmación del proyecto. | Estado actual |
|---|---|---|
| Entradas y muestras | Marcos originales del dispositivo real, muestras normales/anormales, condiciones de exposición y trayectoria de la luz, agrupación de muestras y reserva | No proporcionado, esperando aportes del proyecto |
| Magnitud y error | Valor de referencia independiente, registro de calibración, calibre estadístico de error y umbral de confirmación mutua | No verificado |
| Excepciones y límites | Manejo anticipado de detecciones perdidas, detecciones falsas, sobreexposición, oclusión, reflejo, fuera de la vista y anomalías de comunicación | Por definir |
| Integración del sistema | Interfaz, sincronización horaria, plataforma de implementación, tempo, registro, versión y registro de ejecución continua | No integrado |
Fuentes de evidencia y límites de citas
La fuente admite principios de medición o aplicaciones similares; la combinación de módulos, el dispositivo y el método de aceptación en este escenario son derivaciones de ingeniería y la verificación del producto no se ha completado.
Investigación sobre calibración de posición de cámara con pinzas ópticas.
Detección limitada de la posición de las partículas y el impacto de la exposición y el muestreo en la calibración
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →Medición de haz pequeño Ophir
Condiciones ópticas en mediciones de campo cercano, campo lejano y campo modal con haz pequeño
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →Alcance del uso de la fuente:La información pública se utiliza para respaldar el principio de medición o la existencia de aplicaciones similares, y no prueba que este escenario haya sido desarrollado, implementado o aceptado por Jishi Technology.
Consulta de proyecto
xuzhiyang0928@gmail.com
Envíe muestras y condiciones del equipo para aclarar el alcance del desarrollo y la entrega.
Verificación del retorno del punto de haz después de cambiar la lente del objetivo
Describa el objeto de la tarea, la imagen o el video original, los indicadores de destino, la plataforma del dispositivo, la interfaz y la situación de muestra.
Teléfono: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com