Papel original del centro de simetría radial
Posicionamiento central de subpíxeles de objetivos aproximadamente radialmente simétricos
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →LSP242 · Instrumento de investigación con microscopio y pinzas ópticas · Investigación de imágenes microscópicas y partículas
Parcialmente reutilizable
Estabilidad central del haz incidente antes de la formación de la lámina de luz.
Frente al microscopio de lámina de luz, la sincronización y la deriva del punto de luz se utilizan como ruta de observación, y se planea generar la trayectoria central del punto de luz incidente. La página es para evaluación de proyectos y no significa que el desarrollo haya sido completado o haya sido aceptado en sitio.
Resumen del juicio del proyecto
Producto/Dispositivomicroscopía de hoja de luz
Medir rutaTIEMPO · Temporización y deriva del punto de luz
Calificación de habilidadParcialmente reutilizable
Estado de verificaciónLa aceptación real del dominio de máquina/producto de este escenario no se ha llevado a cabo
Naturaleza de la escena:Posibles escenarios de aplicación similares para puntos láser. El escenario de aplicación potencial aún no se ha desarrollado en un sistema de producto completo; No se ha llevado a cabo la aceptación real del dominio de máquina/producto de este escenario. La cantidad de aceptación real de producto/dominio de producto en las estadísticas del catálogo es 0.
Tareas comerciales y resultados previstos.
- público objetivo
- Microscopía de lámina de luz: sincronización puntual y deriva.
- pseudo salida
- Trayectoria del centro del punto de luz incidente
- Condiciones aplicables
- El espesor de la lámina luminosa no se determina directamente desde el punto de incidencia.
- prioridad
- extensión general. La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Entrada de imágenes y enrutamiento de algoritmos
Condiciones de imagen y dispositivo
El obturador global o el tiempo de lectura conocido guarda marcas de tiempo y exposiciones adaptadas a la frecuencia del movimiento. Microscopios, muestreo por relés y cámaras adaptadas a longitudes de onda.
TIEMPO · Temporización y deriva del punto de luz
Obturador global o tiempo de lectura conocido, guarda marcas de tiempo, las exposiciones se ajustan a la frecuencia del movimiento
- A22filtro de kalman
- A25Estimación del espectro de potencia de Welch
- A72Filtrado de anomalías de desviación absoluta de la mediana de Hampel
- A101Centroide en escala de grises del punto láser de umbral adaptativo
- A107Diagnóstico de calidad y usabilidad del punto láser
- A112Elipse de cobertura y repetibilidad bidimensional del punto láser
Evidencia algorítmica existente:A101–A112 solo completan la síntesis analítica y la verificación de la geometría controlada; ver laser_spot_benchmark.json
Capacidades actuales y capacidades a complementar
Parcialmente reutilizable
Requiere calibración, sincronización o integración.
El front-end de detección de puntos de luz o el módulo de estadísticas de sincronización se pueden reutilizar, pero el proyecto aún necesita agregar calibración geométrica, sincronización de tiempo, compensación de movimiento o integración del sistema de equipos.
Brechas en este escenario:Requiere verificación de frecuencia de muestreo/exposición, sincronización de tiempo y compensación de movimiento de la cámara objetivo de referencia; no sustituye a los vibrómetros láser Doppler. El espesor de la lámina luminosa no se determina directamente desde el punto de incidencia. El posicionamiento de imágenes de partículas es una migración de algoritmo y el modelo de imagen debe volverse a verificar.
Brechas a nivel de ruta:Requiere verificación de frecuencia de muestreo/exposición, sincronización de tiempo y compensación de movimiento de la cámara objetivo de referencia; no sustituye a los vibrómetros láser Doppler
"Parcialmente reutilizable" solo describe el volumen de desarrollo relativo y no constituye un compromiso de precisión, ritmo, estabilidad o tiempo de entrega.
Métodos de verificación y requisitos previos de aceptación.
Verifique el aliasing, la fase, la deriva y la pérdida de fotogramas con una comparación de codificadores o agitadores de frecuencia conocidos. Platina de microesferas, regla microscópica y referencia de posicionamiento independiente.
| Artículos de aceptación | Pruebas requeridas para la confirmación del proyecto. | Estado actual |
|---|---|---|
| Entradas y muestras | Marcos originales del dispositivo real, muestras normales/anormales, condiciones de exposición y trayectoria de la luz, agrupación de muestras y reserva | No proporcionado, esperando aportes del proyecto |
| Magnitud y error | Valor de referencia independiente, registro de calibración, calibre estadístico de error y umbral de confirmación mutua | No verificado |
| Excepciones y límites | Manejo anticipado de detecciones perdidas, detecciones falsas, sobreexposición, oclusión, reflejo, fuera de la vista y anomalías de comunicación | Por definir |
| Integración del sistema | Interfaz, sincronización horaria, plataforma de implementación, tempo, registro, versión y registro de ejecución continua | No integrado |
Fuentes de evidencia y límites de citas
La fuente admite principios de medición o aplicaciones similares; la combinación de módulos, el dispositivo y el método de aceptación en este escenario son derivaciones de ingeniería y la verificación del producto no se ha completado.
Investigación sobre calibración de posición de cámara con pinzas ópticas.
Detección limitada de la posición de las partículas y el impacto de la exposición y el muestreo en la calibración
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →Medición de haz pequeño Ophir
Condiciones ópticas en mediciones de campo cercano, campo lejano y campo modal con haz pequeño
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →Alcance del uso de la fuente:La información pública se utiliza para respaldar el principio de medición o la existencia de aplicaciones similares, y no prueba que este escenario haya sido desarrollado, implementado o aceptado por Jishi Technology.
Consulta de proyecto
xuzhiyang0928@gmail.com
Envíe muestras y condiciones del equipo para aclarar el alcance del desarrollo y la entrega.
Estabilidad central del haz incidente antes de la formación de la lámina de luz.
Describa el objeto de la tarea, la imagen o el video original, los indicadores de destino, la plataforma del dispositivo, la interfaz y la situación de muestra.
Teléfono: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com