Modelado MathWorks Shack-Hartmann
Migración de puntos subapertura, pendiente del frente de onda y pasos de reconstrucción del frente de onda
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →LSP239 · Óptica de frente de onda y adaptativa · Óptica de frente de onda y adaptativa
Parcialmente reutilizable
Inspección de pérdida de enfoque y desalineación del conjunto
Frente al elemento de conjunto de microlentes, utilizando la comparación del conjunto de puntos de separación como ruta de observación, se planea generar el número de enfoque, el centro y la distancia del punto. La página es para evaluación de proyectos y no significa que el desarrollo haya sido completado o haya sido aceptado en sitio.
Resumen del juicio del proyecto
Producto/DispositivoElemento de matriz de microlentes
Medir rutaARRAY · Comparación de conjuntos de puntos separados
Calificación de habilidadParcialmente reutilizable
Estado de verificaciónLa aceptación real del dominio de máquina/producto de este escenario no se ha llevado a cabo
Naturaleza de la escena:Posibles escenarios de aplicación similares para puntos láser. El escenario de aplicación potencial aún no se ha desarrollado en un sistema de producto completo; No se ha llevado a cabo la aceptación real del dominio de máquina/producto de este escenario. La cantidad de aceptación real de producto/dominio de producto en las estadísticas del catálogo es 0.
Tareas comerciales y resultados previstos.
- público objetivo
- Elemento de matriz de microlentes: comparación de matriz de puntos de luz de separación
- pseudo salida
- Número de puntos focales, centro y distancia del punto.
- Condiciones aplicables
- La distancia focal de apertura única requiere escaneo axial
- prioridad
- extensión general. La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Entrada de imágenes y enrutamiento de algoritmos
Condiciones de imagen y dispositivo
Múltiples puntos de luz separados y numerables, plano de recepción y campo de visión fijos. Conjunto de microlentes, campo puntual de referencia y componentes de calibración de frente de onda
ARRAY · Comparación de conjuntos de puntos separados
Múltiples puntos de luz separados y numerables, plano de recepción y campo de visión fijos
- A102Extracción de candidatos de dominio conectados con múltiples puntos láser
- A105Punto láser segundo momento y diámetro del eje principal
- A107Diagnóstico de calidad y usabilidad del punto láser
- A108Coincidencia uno a uno de bits de referencia de puntos múltiples láser
- A112Elipse de cobertura y repetibilidad bidimensional del punto láser
Evidencia algorítmica existente:A101–A112 solo completan la síntesis analítica y la verificación de la geometría controlada; ver laser_spot_benchmark.json
Capacidades actuales y capacidades a complementar
Parcialmente reutilizable
Requiere calibración, sincronización o integración.
El front-end de detección de puntos de luz o el módulo de estadísticas de sincronización se pueden reutilizar, pero el proyecto aún necesita agregar calibración geométrica, sincronización de tiempo, compensación de movimiento o integración del sistema de equipos.
Brechas en este escenario:Se requiere numeración de secuencia de puntos, retorno de la inversión local, diafonía y procesamiento de oclusión; A108 solo coincide por distancia en el mismo sistema de coordenadas. La distancia focal de apertura única requiere escaneo axial. El código existente proporciona extracción del centro y es necesario agregar la pendiente del frente de onda y el núcleo de reconstrucción.
Brechas a nivel de ruta:Se requiere numeración de secuencia de puntos, retorno de la inversión local, diafonía y procesamiento de oclusión; A108 solo coincide por distancia en el mismo sistema de coordenadas
"Parcialmente reutilizable" solo describe el volumen de desarrollo relativo y no constituye un compromiso de precisión, ritmo, estabilidad o tiempo de entrega.
Métodos de verificación y requisitos previos de aceptación.
Verifique el recuento de puntos, las tasas de coincidencia y las discrepancias utilizando datos conocidos de celosía y defectos artificiales/superposición/codificación. Comparación con elementos de aberración e interferómetros conocidos.
| Artículos de aceptación | Pruebas requeridas para la confirmación del proyecto. | Estado actual |
|---|---|---|
| Entradas y muestras | Marcos originales del dispositivo real, muestras normales/anormales, condiciones de exposición y trayectoria de la luz, agrupación de muestras y reserva | No proporcionado, esperando aportes del proyecto |
| Magnitud y error | Valor de referencia independiente, registro de calibración, calibre estadístico de error y umbral de confirmación mutua | No verificado |
| Excepciones y límites | Manejo anticipado de detecciones perdidas, detecciones falsas, sobreexposición, oclusión, reflejo, fuera de la vista y anomalías de comunicación | Por definir |
| Integración del sistema | Interfaz, sincronización horaria, plataforma de implementación, tempo, registro, versión y registro de ejecución continua | No integrado |
Fuentes de evidencia y límites de citas
La fuente admite principios de medición o aplicaciones similares; la combinación de módulos, el dispositivo y el método de aceptación en este escenario son derivaciones de ingeniería y la verificación del producto no se ha completado.
Estudio Shack-Hartmann de gran rango dinámico
Correlación de puntos de luz, puntos faltantes y limitaciones de reconstrucción del frente de onda
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →Alcance del uso de la fuente:La información pública se utiliza para respaldar el principio de medición o la existencia de aplicaciones similares, y no prueba que este escenario haya sido desarrollado, implementado o aceptado por Jishi Technology.
Consulta de proyecto
xuzhiyang0928@gmail.com
Envíe muestras y condiciones del equipo para aclarar el alcance del desarrollo y la entrega.
Inspección de pérdida de enfoque y desalineación del conjunto
Describa el objeto de la tarea, la imagen o el video original, los indicadores de destino, la plataforma del dispositivo, la interfaz y la situación de muestra.
Teléfono: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com