Modelado MathWorks Shack-Hartmann
Migración de puntos subapertura, pendiente del frente de onda y pasos de reconstrucción del frente de onda
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →LSP233 · Óptica de frente de onda y adaptativa · Óptica de frente de onda y adaptativa
Parcialmente reutilizable
Posicionamiento automático de puntos de referencia de subabertura
Para el prototipo Shack-Hartmann, la comparación del conjunto de puntos de luz de separación se utiliza como ruta de observación, y se planea generar el centro de subapertura y la máscara efectiva. La página es para evaluación de proyectos y no significa que el desarrollo haya sido completado o haya sido aceptado en sitio.
Resumen del juicio del proyecto
Producto/DispositivoPrototipo Shack-Hartmann
Medir rutaARRAY · Comparación de conjuntos de puntos separados
Calificación de habilidadParcialmente reutilizable
Estado de verificaciónLa aceptación real del dominio de máquina/producto de este escenario no se ha llevado a cabo
Naturaleza de la escena:Posibles escenarios de aplicación similares para puntos láser. El escenario de aplicación potencial aún no se ha desarrollado en un sistema de producto completo; No se ha llevado a cabo la aceptación real del dominio de máquina/producto de este escenario. La cantidad de aceptación real de producto/dominio de producto en las estadísticas del catálogo es 0.
Tareas comerciales y resultados previstos.
- público objetivo
- Prototipo Shack-Hartmann: comparación de conjuntos de puntos de luz de separación
- pseudo salida
- Centro de subapertura y máscara eficaz.
- Condiciones aplicables
- Los puntos fuera de límites de la parrilla regular deben estar numerados.
- prioridad
- extensión general. La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.
Entrada de imágenes y enrutamiento de algoritmos
Condiciones de imagen y dispositivo
Múltiples puntos de luz separados y numerables, plano de recepción y campo de visión fijos. Conjunto de microlentes, campo puntual de referencia y componentes de calibración de frente de onda
ARRAY · Comparación de conjuntos de puntos separados
Múltiples puntos de luz separados y numerables, plano de recepción y campo de visión fijos
- A102Extracción de candidatos de dominio conectados con múltiples puntos láser
- A105Punto láser segundo momento y diámetro del eje principal
- A107Diagnóstico de calidad y usabilidad del punto láser
- A108Coincidencia uno a uno de bits de referencia de puntos múltiples láser
- A112Elipse de cobertura y repetibilidad bidimensional del punto láser
Evidencia algorítmica existente:A101–A112 solo completan la síntesis analítica y la verificación de la geometría controlada; ver laser_spot_benchmark.json
Capacidades actuales y capacidades a complementar
Parcialmente reutilizable
Requiere calibración, sincronización o integración.
El front-end de detección de puntos de luz o el módulo de estadísticas de sincronización se pueden reutilizar, pero el proyecto aún necesita agregar calibración geométrica, sincronización de tiempo, compensación de movimiento o integración del sistema de equipos.
Brechas en este escenario:Se requiere numeración de secuencia de puntos, retorno de la inversión local, diafonía y procesamiento de oclusión; A108 solo coincide por distancia en el mismo sistema de coordenadas. Los puntos de cruce de la cuadrícula regular deben estar numerados. El código existente proporciona extracción del centro y es necesario agregar la pendiente del frente de onda y el núcleo de reconstrucción.
Brechas a nivel de ruta:Se requiere numeración de secuencia de puntos, retorno de la inversión local, diafonía y procesamiento de oclusión; A108 solo coincide por distancia en el mismo sistema de coordenadas
"Parcialmente reutilizable" solo describe el volumen de desarrollo relativo y no constituye un compromiso de precisión, ritmo, estabilidad o tiempo de entrega.
Métodos de verificación y requisitos previos de aceptación.
Verifique el recuento de puntos, las tasas de coincidencia y las discrepancias utilizando datos conocidos de celosía y defectos artificiales/superposición/codificación. Comparación con elementos de aberración e interferómetros conocidos.
| Artículos de aceptación | Pruebas requeridas para la confirmación del proyecto. | Estado actual |
|---|---|---|
| Entradas y muestras | Marcos originales del dispositivo real, muestras normales/anormales, condiciones de exposición y trayectoria de la luz, agrupación de muestras y reserva | No proporcionado, esperando aportes del proyecto |
| Magnitud y error | Valor de referencia independiente, registro de calibración, calibre estadístico de error y umbral de confirmación mutua | No verificado |
| Excepciones y límites | Manejo anticipado de detecciones perdidas, detecciones falsas, sobreexposición, oclusión, reflejo, fuera de la vista y anomalías de comunicación | Por definir |
| Integración del sistema | Interfaz, sincronización horaria, plataforma de implementación, tempo, registro, versión y registro de ejecución continua | No integrado |
Fuentes de evidencia y límites de citas
La fuente admite principios de medición o aplicaciones similares; la combinación de módulos, el dispositivo y el método de aceptación en este escenario son derivaciones de ingeniería y la verificación del producto no se ha completado.
Estudio Shack-Hartmann de gran rango dinámico
Correlación de puntos de luz, puntos faltantes y limitaciones de reconstrucción del frente de onda
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →Alcance del uso de la fuente:La información pública se utiliza para respaldar el principio de medición o la existencia de aplicaciones similares, y no prueba que este escenario haya sido desarrollado, implementado o aceptado por Jishi Technology.
Consulta de proyecto
xuzhiyang0928@gmail.com
Envíe muestras y condiciones del equipo para aclarar el alcance del desarrollo y la entrega.
Posicionamiento automático de puntos de referencia de subabertura
Describa el objeto de la tarea, la imagen o el video original, los indicadores de destino, la plataforma del dispositivo, la interfaz y la situación de muestra.
Teléfono: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com