Instrucciones de alineación del eje de la máquina Hamar
Alineación geométrica del eje lineal, eje giratorio y objetivo de referencia.
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →Frente a la placa de prueba compuesta aeroespacial, la topografía tridimensional de escaneo de puntos se utiliza como ruta de observación y se planea generar el conjunto de puntos de deflexión fuera del plano. La página es para evaluación de proyectos y no significa que el desarrollo haya sido completado o haya sido aceptado en sitio.
Mecanismo de escaneo con codificador, geometría de transceptor láser puntual e imágenes sincronizadas. Estaciones de fabricación o prueba con objetivos de referencia fijos y datos de pose/desplazamiento independientes.
Mecanismo de escaneo con codificador, geometría de transceptor láser puntual e imágenes sincronizadas
Evidencia algorítmica existente:A101–A112 solo completan la síntesis analítica y la verificación de la geometría controlada; ver laser_spot_benchmark.json
La extracción de puntos de luz solo se puede utilizar como interfaz de observación, y las capacidades centrales como la reconstrucción tridimensional, el control de bucle cerrado, el frente de onda o la inversión de cantidades físicas deben desarrollarse y verificarse por separado.
Brechas en este escenario:Es necesario agregar nuevos puntos de intersección de triangulación, fusión de coordenadas de escaneo, reconstrucción de superficies y evaluación de forma y posición; A41 sólo se ajusta a puntos tridimensionales existentes. La delaminación interna requiere ultrasonido y otros métodos. Solo se utiliza para mediciones y pruebas de fabricación y no asume directamente la responsabilidad de los juicios de seguridad operativa.
Brechas a nivel de ruta:Es necesario agregar nuevos puntos de intersección de triangulación, fusión de coordenadas de escaneo, reconstrucción de superficies y evaluación de forma y posición; A41 sólo se ajusta a puntos tridimensionales existentes.
"Se requieren nuevos núcleos" solo describe el volumen de desarrollo relativo y no constituye un compromiso con la precisión, el ritmo, la estabilidad o el tiempo de entrega.
Utilice una muestra de paso/contorno conocido para realizar una prueba ciega con una CMM o perfilador para verificar el área faltante y la distancia del paso de escaneo. Prueba cruzada de mesa de movimiento estándar, de tres coordenadas o de calibre especial
| Artículos de aceptación | Pruebas requeridas para la confirmación del proyecto. | Estado actual |
|---|---|---|
| Entradas y muestras | Marcos originales del dispositivo real, muestras normales/anormales, condiciones de exposición y trayectoria de la luz, agrupación de muestras y reserva | No proporcionado, esperando aportes del proyecto |
| Magnitud y error | Valor de referencia independiente, registro de calibración, calibre estadístico de error y umbral de confirmación mutua | No verificado |
| Excepciones y límites | Manejo anticipado de detecciones perdidas, detecciones falsas, sobreexposición, oclusión, reflejo, fuera de la vista y anomalías de comunicación | Por definir |
| Integración del sistema | Interfaz, sincronización horaria, plataforma de implementación, tempo, registro, versión y registro de ejecución continua | No integrado |
La fuente admite principios de medición o aplicaciones similares; la combinación de módulos, el dispositivo y el método de aceptación en este escenario son derivaciones de ingeniería y la verificación del producto no se ha completado.
Alineación geométrica del eje lineal, eje giratorio y objetivo de referencia.
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →Adaptador de objetivo de orificio alineado con el eje de referencia
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →Triangulación activa de puntos, geometría escaneada y propagación de errores.
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →Escaneo de puntos de superficie de paneles compuestos cargados
Describa el objeto de la tarea, la imagen o el video original, los indicadores de destino, la plataforma del dispositivo, la interfaz y la situación de muestra.
Teléfono: 13910119357