Radiales Symmetriezentrum Originalpapier
Subpixel-Mittenpositionierung von annähernd radialsymmetrischen Zielen
Verifizierungsdatum: 24.10.2026
Ursprüngliche öffentliche Informationen anzeigen →LSP246 · Forschungsinstrumente für Mikroskope und optische Pinzetten · Mikroskopische Bildgebung und Partikelforschung
Wiederverwendbare Module
Überprüfung der Rückkehr des Strahlpunkts nach einem Objektivwechsel
Mit Blick auf den Beleuchtungskopf des Lasermikroskops und unter Verwendung der Lichtfleckposition auf der Zieloberfläche als Beobachtungsroute soll die Mittendifferenz vor und nach dem Wechsel der Objektivlinse ausgegeben werden. Die Seite dient der Projektbewertung und bedeutet nicht, dass die Entwicklung abgeschlossen oder vor Ort abgenommen wurde.
Zusammenfassung der Projektbeurteilung
Produkt/GerätBeleuchtungskopf für Lasermikroskope
Route messenXY · Position des Lichtflecks auf der Zieloberfläche
FähigkeitsbewertungWiederverwendbare Module
VerifizierungsstatusDie tatsächliche Maschinen-/Produktdomänenabnahme dieses Szenarios wurde nicht durchgeführt
Szenennatur:Ähnliche mögliche Einsatzszenarien für Laserspots. Das mögliche Anwendungsszenario ist noch nicht zu einem vollständigen Produktsystem entwickelt; Die tatsächliche Maschinen-/Produktdomänenabnahme dieses Szenarios wurde nicht durchgeführt. Die tatsächliche Produkt-/Produktdomänen-Akzeptanzmenge in der Katalogstatistik beträgt 0.
Geschäftsaufgaben und beabsichtigte Ergebnisse
- Zielgruppe
- Beleuchtungskopf des Lasermikroskops: Spotposition auf der Zieloberfläche
- Pseudoausgabe
- Mittendifferenz vor und nach dem Objektivwechsel
- Anwendbare Bedingungen
- Der Zusammenhang zwischen der chromatischen Aberration der Objektivlinse und der hinteren Brennebene muss überprüft werden
- Priorität
- Allgemeine Erweiterung. Die Verifizierung muss gemäß den aufgeführten optischen Bedingungen, Kalibrierungen und Proben durchgeführt werden.
Bildeingabe und Algorithmus-Routing
Bildgebungs- und Gerätebedingungen
Fixieren Sie die Kamera und die Zieloberfläche, zeichnen Sie Belichtung und Verstärkung auf und decken Sie den Lichtfleck und Hintergrund im Sichtfeld ab. Mikroskope, Relay Sampling und wellenlängenadaptierte Kameras
XY · Position des Lichtflecks auf der Zieloberfläche
Fixieren Sie die Kamera und die Zieloberfläche, zeichnen Sie Belichtung und Verstärkung auf und decken Sie den Lichtfleck und den Hintergrund im Sichtfeld ab
- A101Adaptiver Schwellenlaserpunkt-Graustufenschwerpunkt
- A107Diagnose der Laserpunktqualität und Benutzerfreundlichkeit
- A112Zweidimensionale Wiederholgenauigkeit und Abdeckungsellipse des Laserpunkts
Vorhandene algorithmische Beweise:A101–A112 nur vollständige analytische Synthese vor Ort und kontrollierte Geometrieüberprüfung; siehe laser_spot_benchmark.json
Aktuelle Fähigkeiten und Fähigkeiten, die ergänzt werden müssen
Wiederverwendbare Module
Vorhandene Module können als Hosts genutzt werden
Als wesentliche Berechnungsgrundlage können vorhandene Lichtpunktpositionierungs-, Qualitätsdiagnose- oder Statistikmodule genutzt werden; ROI, Kalibrierung, Schwellenwert und Schnittstellenüberprüfung müssen noch vom Gerät durchgeführt werden.
Lücken in diesem Szenario:ROI, Lineal-/Ebenenkalibrierung und Referenzpunktdefinition sind erforderlich; Nur die zweidimensionale Position der Zieloberfläche kann direkt beobachtet werden. Der Zusammenhang zwischen der chromatischen Aberration der Objektivlinse und der hinteren Brennebene muss überprüft werden. Bei der Partikelbildpositionierung handelt es sich um eine Algorithmusmigration, und das Bildmodell muss erneut überprüft werden.
Lücken auf Routenebene:Erfordert ROI, Lineal-/Ebenenkalibrierung und Referenzpunktdefinition; kann nur die zweidimensionale Position der Zieloberfläche direkt beobachten
„Wiederverwendbare Module“ beschreiben lediglich das relative Entwicklungsvolumen und stellen keine Zusage zu Genauigkeit, Tempo, Stabilität oder Lieferzeit dar.
Verifizierungsmethoden und Akzeptanzvoraussetzungen
Unabhängig getestet mit einem zweidimensionalen Verschiebungstisch und einem festen Referenzpunkt, der Mittenfehler P95, verpasste Erkennungen und falsche Erkennungen meldet. Mikrosphärentisch, mikroskopisches Lineal und unabhängige Positionierungsreferenz
| Annahmeartikel | Für die Projektbestätigung sind Nachweise erforderlich | Aktueller Stand |
|---|---|---|
| Eingaben und Beispiele | Echte Originalbilder des Geräts, normale/abnormale Proben, Belichtungs- und Lichtwegbedingungen, Probengruppierung und -beiseite | Nicht bereitgestellt, wartet auf Projekteingabe |
| Größe und Fehler | Unabhängiger Referenzwert, Kalibrierungsprotokoll, Fehlerstatistikkaliber und gegenseitige Bestätigungsschwelle | Nicht verifiziert |
| Ausnahmen und Grenzen | Voraussichtlicher Umgang mit verpassten Erkennungen, falschen Erkennungen, Überbelichtung, Okklusion, Reflexion, Außer-Sicht- und Kommunikationsstörungen | Zu definieren |
| Systemintegration | Schnittstelle, Zeitsynchronisierung, Bereitstellungsplattform, Tempo, Protokoll, Version und kontinuierliche Laufaufzeichnung | Nicht integriert |
Beweisquellen und Zitiergrenzen
Die Quelle unterstützt Messprinzipien oder ähnliche Anwendungen; Die Modulkombination, das Gerät und die Akzeptanzmethode in diesem Szenario sind technische Ableitungen und die Produktüberprüfung wurde noch nicht abgeschlossen.
Forschung zur Positionskalibrierung einer optischen Pinzettenkamera
Begrenzte Partikelpositionserkennung und der Einfluss von Belichtung und Probenahme auf die Kalibrierung
Verifizierungsdatum: 24.10.2026
Ursprüngliche öffentliche Informationen anzeigen →Ophir-Kleinstrahlmessung
Optische Bedingungen bei Nahfeld-, Fernfeld- und Modenfeldmessungen mit kleinem Strahl
Verifizierungsdatum: 24.10.2026
Ursprüngliche öffentliche Informationen anzeigen →Umfang der Quellennutzung:Die öffentlichen Informationen werden zur Unterstützung des Messprinzips oder der Existenz ähnlicher Anwendungen verwendet und beweisen nicht, dass dieses Szenario von Jishi Technology entwickelt, eingesetzt oder akzeptiert wurde.
Projektberatung
xuzhiyang0928@gmail.com
Senden Sie Muster und Gerätezustände zur Klärung des Entwicklungs- und Lieferumfangs
Überprüfung der Rückkehr des Strahlpunkts nach einem Objektivwechsel
Bitte beschreiben Sie den Aufgabengegenstand, Originalbild oder -video, Zielindikatoren, Geräteplattform, Schnittstelle und Beispielsituation.
Telefon: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com