Duma-Anwendung zur Strahlpositionierung und optischen Anpassung
Anwendungskategorien für Strahlposition, optischen Aufbau und Spotform
Verifizierungsdatum: 24.10.2026
Ursprüngliche öffentliche Informationen anzeigen →Mit Blick auf die linear polarisierte Laserkomponente und unter Verwendung der Lichtfleckposition auf der Zieloberfläche als Beobachtungsroute wird die Beziehung zwischen dem Ausgangswinkel und der Mittelposition vorgeschlagen. Die Seite dient der Projektbewertung und bedeutet nicht, dass die Entwicklung abgeschlossen oder vor Ort abgenommen wurde.
Fixieren Sie die Kamera und die Zieloberfläche, zeichnen Sie Belichtung und Verstärkung auf und decken Sie den Lichtfleck und Hintergrund im Sichtfeld ab. Wellenlängenangepasste Kameras, Abschwächer und feste Nah-/Fernfeld-Vorrichtungen
Fixieren Sie die Kamera und die Zieloberfläche, zeichnen Sie Belichtung und Verstärkung auf und decken Sie den Lichtfleck und den Hintergrund im Sichtfeld ab
Vorhandene algorithmische Beweise:A101–A112 nur vollständige analytische Synthese vor Ort und kontrollierte Geometrieüberprüfung; siehe laser_spot_benchmark.json
Als wesentliche Berechnungsgrundlage können vorhandene Lichtpunktpositionierungs-, Qualitätsdiagnose- oder Statistikmodule genutzt werden; ROI, Kalibrierung, Schwellenwert und Schnittstellenüberprüfung müssen noch vom Gerät durchgeführt werden.
Lücken in diesem Szenario:ROI, Lineal-/Ebenenkalibrierung und Referenzpunktdefinition sind erforderlich; Nur die zweidimensionale Position der Zieloberfläche kann direkt beobachtet werden. Es wird nur die Bewegung gemessen, der Polarisationszustand wird mit einem Polarimeter gemessen. Pixel-Graustufen und optische Leistung werden separat kalibriert
Lücken auf Routenebene:Erfordert ROI, Lineal-/Ebenenkalibrierung und Referenzpunktdefinition; kann nur die zweidimensionale Position der Zieloberfläche direkt beobachten
„Wiederverwendbare Module“ beschreiben lediglich das relative Entwicklungsvolumen und stellen keine Zusage zu Genauigkeit, Tempo, Stabilität oder Lieferzeit dar.
Unabhängig getestet mit einem zweidimensionalen Verschiebungstisch und festen Referenzpunkten, wobei Mittenfehler P95, verpasste Erkennungen und falsche Erkennungen gemeldet werden. Unabhängiger Strahlanalysator und Querverweis für Temperaturregelung/Stromaufzeichnung
| Annahmeartikel | Für die Projektbestätigung sind Nachweise erforderlich | Aktueller Stand |
|---|---|---|
| Eingaben und Beispiele | Echte Originalbilder des Geräts, normale/abnormale Proben, Belichtungs- und Lichtwegbedingungen, Probengruppierung und -beiseite | Nicht bereitgestellt, wartet auf Projekteingabe |
| Größe und Fehler | Unabhängiger Referenzwert, Kalibrierungsprotokoll, Fehlerstatistikkaliber und gegenseitige Bestätigungsschwelle | Nicht verifiziert |
| Ausnahmen und Grenzen | Voraussichtlicher Umgang mit verpassten Erkennungen, falschen Erkennungen, Überbelichtung, Okklusion, Reflexion, Außer-Sicht- und Kommunikationsstörungen | Zu definieren |
| Systemintegration | Schnittstelle, Zeitsynchronisierung, Bereitstellungsplattform, Tempo, Protokoll, Version und kontinuierliche Laufaufzeichnung | Nicht integriert |
Die Quelle unterstützt Messprinzipien oder ähnliche Anwendungen; Die Modulkombination, das Gerät und die Akzeptanzmethode in diesem Szenario sind technische Ableitungen und die Produktüberprüfung wurde noch nicht abgeschlossen.
Anwendungskategorien für Strahlposition, optischen Aufbau und Spotform
Verifizierungsdatum: 24.10.2026
Ursprüngliche öffentliche Informationen anzeigen →Kamerapunktanalyse und industrielle Laserdiagnose; Für die Leistungsmessung sind spezielle Sensoren erforderlich
Verifizierungsdatum: 24.10.2026
Ursprüngliche öffentliche Informationen anzeigen →Zusammenhang zwischen Quellengröße, Brennweite und Divergenzwinkel
Verifizierungsdatum: 24.10.2026
Ursprüngliche öffentliche Informationen anzeigen →Strahlbewegung durch Polarisatordrehung
Bitte beschreiben Sie den Aufgabengegenstand, Originalbild oder -video, Zielindikatoren, Geräteplattform, Schnittstelle und Beispielsituation.
Telefon: 13910119357