Unternehmensanwendungsbereich D16

Entwicklungsdienstleistungen für Halbleiter, Wafer, optoelektronische Geräte und Displays

Für Gerätehersteller im Bereich „Halbleiter, Wafer, optoelektronische Geräte und Displays“, Systemintegratoren und Unternehmensforschung und -entwicklung bietet es Infrarotdatenauswertung, Algorithmenentwicklung, Geräte-/Plattformintegration und Testabnahme und deckt acht Arten von Unternehmensanwendungsszenarien ab.

Leistungsumfang und Umsetzungsplan

RichtungsnummerD16
Nachfrageszenario8 Artikel
HaupteingangSWIR L1/L5;
Typische RouteT12、T03、T04、T10、T18、T11、T05、T01

Der Projektumfang wird anhand von Mustern, Ausrüstung, Arbeitsbedingungen und schriftlichen Indikatoren bestimmt; Allgemeine Module, Sondermodelle und Multisensor-Integration werden entsprechend den Auswertungsergebnissen konfiguriert.

Anwendungsszenarien und Entwicklungsinhalte

IR121

SWIR Bildgebung von inneren Rissen und Kantendefekten in Siliziumwafern

Minimaler Input und technischer Weg
SWIR L1/L5;T12
Zielausgabe
Risse, Absplitterungen und Übertragungsstörungen
Durchführung
Erfordert spezielle Optik
kritische Akzeptanz
Minimaler Riss im Vergleich zum mikroskopischen/akustischen wahren Wert
IR122

Wafer-Hotspots und lokale Leckage-Wärmelokalisierung

Minimaler Input und technischer Weg
MWIR/LWIR Makro L2/L3;T03+T04
Zielausgabe
Hotspots, Koordinaten und elektrische Erregungskorrelation
Durchführung
Erfordert eine Makrostrahlungskalibrierung
kritische Akzeptanz
Vergleichen Sie mit elektrischer Messung/Fehleranalyse, Positionierungsfehler
IR123

Die Lock-in-Thermografie lokalisiert Chip-Kurzschlüsse und Lecks

Minimaler Input und technischer Weg
L5;T10
Zielausgabe
Phasen-Hotspots und Fehlerorte
Durchführung
Erfordert Elektrostimulationsgeräte
kritische Akzeptanz
Im Vergleich zum wahren Wert der Sonde/Öffnung, POD
IR124

Photolumineszenz PL/Elektrolumineszenz EL Gleichmäßigkeit

Minimaler Input und technischer Weg
NIR/SWIR L1/L5;T18
Zielausgabe
Lichtstärke, dunkle Bereiche und Gleichmäßigkeit
Durchführung
Benötigen Sie eine spezielle Implementierung
kritische Akzeptanz
Im Vergleich zur elektrischen Leistung/Referenzblatt, Wiederholbarkeit
IR125

VCSEL/IR-LED-Array-Beleuchtung und Leistungsgleichmäßigkeit

Minimaler Input und technischer Weg
NIR/SWIR L1;T11
Zielausgabe
Lichtpunkte, Nachteile, relative Intensitäten und Anordnungen
Durchführung
Wiederverwendbares A43/A44
kritische Akzeptanz
Im Vergleich zu Leistungsmesser/Sondenstation, Rückruf auf Punktniveau
IR126

Thermische Anomalien und Alterungs-Hotspots des OLED/MicroLED-Treibers

Minimaler Input und technischer Weg
LWIR/MWIR L2/L3;T03+T05
Zielausgabe
Thermische Pixel-/Bereichsanomalien und Alterungstrends
Durchführung
Erfordert hochauflösende Optik
kritische Akzeptanz
Minimale teilbare Fläche, Korrelation mit Lebensdaten
IR127

Aktive thermische Erkennung von Hohlräumen und Delaminationen in Halbleitergehäusen

Minimaler Input und technischer Weg
L5;T10
Zielausgabe
Defektkandidaten, Flächen- und Tiefen-Proxys
Durchführung
Benötigen Sie ein Referenzmuster
kritische Akzeptanz
Im Vergleich zu Röntgen/CT/SAM, POD
IR128

Optische Filter, Fenster und Gleichmäßigkeit der Detektorreaktion

Minimaler Input und technischer Weg
Schwarzer Körper/Lichtquelle L5;T01+T03
Zielausgabe
Antwortdiagramme, schlechte Elemente und Bandkonsistenz
Durchführung
Instrumentenkalibrierung erforderlich
kritische Akzeptanz
Gleichmäßige Wiederholbarkeit der Quelle, Antwortresiduen

Vor der Projektbewertung erforderliche Informationen

  • Zielausrüstung/-objekt, Standortbedingungen, Geschäftsprozesse und zu ergreifende Folgemaßnahmen
  • Infrarotkamera, Objektiv, Spektralband, Installationsabstand, Sichtfeld, Auflösung und Datenschnittstelle
  • Originalproben und Sammelparameter unter normalen, abnormalen, Grenz- und Interferenzbedingungen
  • Referenzwahrheitswerte und Annotationsspezifikationen für Temperaturen, Teile, Zustände oder Ereignisse
  • Zielplattform-, Netzwerk-, Schnittstellen-, Speicher-, Latenz- und Betriebsressourcenbeschränkungen
  • Falsch positive Ergebnisse, übersehene negative Ergebnisse, manuelle Überprüfung, Verknüpfung, Fehlerbehandlung und Akzeptanzschwellen

Implementierungs- und Bereitstellungsmethoden

  1. Bestätigung der ProjekteingabeÜberprüfen Sie Kamera, Spektralband, Bittiefe, SDK, Umgebungsbedingungen, Probe und akzeptieren Sie den wahren Wert.
  2. ProbenüberprüfungÜberprüfen Sie wichtige Verarbeitungsverbindungen, anwendbare Bedingungen und anormale Arbeitsbedingungen und legen Sie den Entwicklungsumfang und die Akzeptanzmethoden fest.
  3. Algorithmenentwicklung und -integrationImplementieren Sie Datenanalyse, Algorithmen, Qualitäts-Gating, Schnittstellen und Bereitstellung der Zielplattform.
  4. Testabnahme und ÜbergabeFühren Sie einen erneuten Test gemäß dem vereinbarten Testsatz und der Zielplattform durch und übergeben Sie die Ergebnisse, Testergebnisse und geltenden Bedingungen.
  • Anforderungen und technische Lösungen, Ein- und Ausgabe- und Schnittstellenfelddefinitionen
  • Algorithmenbibliothek, Modell oder SDK/API; Die Lieferform wird im Projektplan bestätigt
  • Beispielprogramm, Parameterkonfiguration, Fehlerstatus und Aufrufanweisungen
  • Testsatzversion, Indikatordefinition, Schichtungsergebnisse und fehlgeschlagene Probendatensätze
  • Zielplattformanpassung, Ressourcennutzung und Laufverzögerungsaufzeichnungen
  • Version, Abhängigkeiten, Lizenz, Reproduktionsschritte und Beschreibung der geltenden Bedingungen

Akzeptanzdesign

Jedes Szenario erstellt unabhängige Testfälle gemäß der „Schlüsselakzeptanz“. Bei der szenarioübergreifenden gemeinsamen Nutzung von Modellen werden die Ergebnisse für jedes Szenario, jede Entfernung, jede Last, jede Umgebung und jede Zielgröße separat gemeldet und durch Gesamtstatistiken ergänzt.

Wenn Hochrisikoalarme oder -kontrollen beteiligt sind, wird die Algorithmusausgabe zur Überprüfung oder Verknüpfungsbeurteilung verwendet; Sicherheitsfunktionen, behördliche Verantwortlichkeiten und automatische Entsorgung erfordern eine gesonderte Planung und Abnahme.

Häufig gestellte Fragen für Unternehmenskunden

Kann ich direkt eine der Szenen kaufen?

Kann zunächst als separates Arbeitspaket bewertet werden. Der formale Umfang sollte das Gerät, die Daten, die Zielobjekte, die Umgebung, die Schnittstellen, die Lieferform und die Akzeptanzschwellen beschreiben.

Kann es gestartet werden, wenn keine abnormalen Proben vorhanden sind?

Zuerst können die Datenschnittstelle, die normale Basislinie, der Erfassungsplan und das Simulations-/kontrollierte Testdesign abgeschlossen werden. Die abnormale Erkennungsrate und der Fehlerklassifizierungseffekt können ausgewertet werden, nachdem genügend abnormale wahre Werte erhalten wurden.

Kann der Algorithmus direkt Alarme oder Geräteaktionen auslösen?

Dauer, Deduplizierung, Qualitäts-Gating, manuelle Überprüfung, Kommunikationsfehler und Sicherheitsverriegelung müssen auf Grundlage der Geschäftsrisiken konzipiert werden. Maßnahmen mit hohem Risiko sollten nach Abschluss unabhängiger Sicherheitsmechanismen und Abnahme vor Ort aktiviert werden.

Projektberatung

Senden Sie Muster und Gerätezustände zur Klärung des Entwicklungs- und Lieferumfangs

Entwicklungsdienstleistungen für Halbleiter, Wafer, optoelektronische Geräte und Displays

Bitte beschreiben Sie den Aufgabengegenstand, Originalbild oder -video, Zielindikatoren, Geräteplattform, Schnittstelle und Beispielsituation.

Telefon: 13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

Die ausgefüllten Informationen werden ausschließlich zur Bewertung und Kontaktaufnahme für dieses Projekt verwendet. Bitte übermitteln Sie keine unbefugten persönlichen oder sensiblen Daten.