Plano de aplicação para flutuação de espessura de tira e análise de posição fora de tolerância

Resumo do julgamento do projeto

Tarefas e entrada de imagem

A altura de um lado mudará com o balanço do material e não pode ser diretamente igual à espessura; falsas flutuações também ocorrerão quando os dois lados forem levados a posições diferentes.

Dados de entrada: dados de sincronização bilateral, coordenadas/linha de base comuns, posição de amostragem, temperatura do rack e placa padrão. A primeira família de materiais precisa ser confirmada separadamente.

Processamento e saída de algoritmo

Unificação de coordenadas de cabeça dupla → alinhamento eficaz da superfície → mesmo ponto/emparelhamento simultâneo → processamento de linha de base e desvio de temperatura → espessura e posição fora de tolerância.

Resultados de saída: espessura, posição, ponto inválido, status de sincronização e tendência intertemporal; espessura total, revestimento e espessura multicamadas são definidas separadamente.

Implementação e verificação

Desenvolva primeiro um modelo de espessura específico do material/faixa e regras de exceção e, em seguida, realize testes de velocidade e execução contínua.

Método de verificação: Use folhas grossas padrão e ferramentas de medição de espessura independentes para cobrir a faixa de medição e adicionar condições de inclinação, oscilação, furos, bordas e desvio de temperatura.

Limites aplicáveis ​​e base existente

Os resultados das chapas metálicas não podem ser extrapolados diretamente para filmes transparentes, espumas ou materiais multicamadas; a espessura efetiva não deve continuar a ser emitida quando faltarem referências importantes.

A base existente de posicionamento e medição não constitui um sistema completo de medição de espessura bilateral, e a calibração e sincronização do núcleo ainda precisam ser concluídas.

Algoritmo correspondente:Desenvolvimento de algoritmo de deslocamento de ponto de laser e medição de espessura bilateral。

Promoção e aceitação de projetos empresariais

1. confirmação de escopoEsclareça os objetos, estações de trabalho, entradas, saídas, unidades, interfaces e condições anormais que devem ser cobertas.
2. Verificação de amostraUse amostras representativas normais e anormais para estabelecer uma linha de base e registrar o que funciona, o que falha e as lacunas de dados.
3. Depuração conjunta de desenvolvimentoConcluir o algoritmo, calibração, interface e adaptação do equipamento de acordo com o escopo aprovado, e manter a versão, parâmetros e status anormal.
4. Aceitação de itensUse amostras independentes e retestes de valores de referência para confirmar erros, detecção, andamento, estabilidade e resultados, respectivamente.

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