Posição do feixe Duma e aplicação de ajuste óptico
Categorias de aplicação para posição do feixe, configuração óptica e formato do ponto
Data de verificação: 24/10/2026
Ver informações públicas originais →LSP010 · Fabricação e envelhecimento de laser · Lasers e módulos optoeletrônicos
Módulos reutilizáveis
Inspeção do movimento do feixe de saída causado pela cura da embalagem
De frente para a embalagem do diodo laser, usando a posição do ponto de luz na superfície do alvo como rota de observação, a diferença XY antes e depois da cura deve ser gerada. A página é para avaliação do projeto e não significa que o empreendimento foi concluído ou aceito no local.
Resumo do julgamento do projeto
Produto/DispositivoEmbalagem de diodo laser
Medir rotaXY · Posição do ponto de luz na superfície alvo
Classificação de habilidadeMódulos reutilizáveis
Status de verificaçãoA aceitação real do domínio da máquina/produto deste cenário não foi realizada
Natureza da cena:Cenários de aplicação potenciais semelhantes para pontos de laser. O cenário de aplicação potencial ainda não foi desenvolvido num sistema de produto completo; a aceitação real do domínio da máquina/produto deste cenário não foi realizada. A quantidade real de aceitação do domínio do produto/produto nas estatísticas do catálogo é 0.
Tarefas de negócios e resultados pretendidos
- público-alvo
- Embalagem de diodo laser: posição pontual na superfície alvo
- pseudo saída
- Diferença XY antes e depois da cura
- Condições aplicáveis
- A cura e a deformação térmica do próprio ferramental requerem um canal de referência
- prioridade
- Priorize a verificação. A diferença bidimensional antes e depois da cura pode ser verificada primeiro sem a necessidade de inversão tridimensional completa.
Entrada de imagem e roteamento de algoritmo
Condições de imagem e dispositivo
Fixe a câmera e a superfície do alvo, registre a exposição e o ganho e cubra o ponto de luz e o fundo no campo de visão. Câmeras adaptadas ao comprimento de onda, atenuadores e luminárias fixas de campo próximo/distante
XY · Posição do ponto de luz na superfície alvo
Fixe a câmera e a superfície do alvo, registre a exposição e o ganho e cubra o ponto de luz e o fundo no campo de visão
- A101Centróide em escala de cinza de ponto laser de limite adaptativo
- A107Diagnóstico de qualidade e usabilidade do ponto laser
- A112Repetibilidade bidimensional do ponto laser e elipse de cobertura
Evidência algorítmica existente:A101–A112 apenas ponto de síntese analítica completo e verificação de geometria controlada; veja laser_spot_benchmark.json
Capacidades atuais e capacidades a serem complementadas
Módulos reutilizáveis
Módulos existentes podem ser usados como hosts
Posicionamento de ponto de luz existente, diagnóstico de qualidade ou módulos estatísticos podem ser usados como base de cálculo principal; ROI, calibração, limite e verificação de interface ainda precisam ser concluídos por dispositivo.
Lacunas neste cenário:São necessários ROI, calibração de régua/plano e definição de ponto de referência; apenas a posição bidimensional da superfície alvo pode ser observada diretamente. A cura e a deformação térmica do próprio ferramental requerem um canal de referência. A escala de cinza dos pixels e a potência óptica são calibradas separadamente
Lacunas no nível da rota:Requer ROI, calibração de régua/plano e definição de ponto de referência; só pode observar diretamente a posição bidimensional da superfície alvo
"Módulos reutilizáveis" descrevem apenas o volume relativo de desenvolvimento e não constituem um compromisso com precisão, ritmo, estabilidade ou prazo de entrega.
Métodos de verificação e pré-requisitos de aceitação
Testado de forma independente com um estágio de deslocamento bidimensional e pontos de referência fixos, relatando erro central P95, detecções perdidas e detecções falsas. Analisador de feixe independente e referência cruzada de controle de temperatura/gravação de corrente
| Itens de aceitação | Evidências necessárias para confirmação do projeto | Estado atual |
|---|---|---|
| Entradas e amostras | Quadros originais do dispositivo real, amostras normais/anormais, condições de exposição e caminho da luz, agrupamento de amostras e reserva | Não fornecido, aguardando entrada do projeto |
| Magnitude e Erro | Valor de referência independente, registro de calibração, calibre estatístico de erro e limite de confirmação mútua | Não verificado |
| Exceções e limites | Tratamento antecipado de detecções perdidas, falsas detecções, superexposição, oclusão, reflexão, fora de visão e anormalidades de comunicação | A definir |
| Integração de sistema | Interface, sincronização de horário, plataforma de implantação, ritmo, log, versão e registro de execução contínua | Não integrado |
Fontes de evidências e limites de citação
A fonte suporta princípios de medição ou aplicações similares; a combinação do módulo, dispositivo e método de aceitação neste cenário são derivações de engenharia e a verificação do produto não foi concluída.
Análise de feixe de laser Ophir
Análise pontual de câmeras e diagnóstico de laser industrial; medição de potência requer sensores especiais
Data de verificação: 24/10/2026
Ver informações públicas originais →Condições de colimação de Edmund
Relação entre tamanho da fonte, distância focal e ângulo de divergência
Data de verificação: 24/10/2026
Ver informações públicas originais →Escopo de uso da fonte:A informação pública é utilizada para apoiar o princípio de medição ou a existência de aplicações semelhantes e não prova que este cenário tenha sido desenvolvido, implementado ou aceite pela Jishi Technology.
Consulta de projeto
xuzhiyang0928@gmail.com
Envie amostras e condições de equipamentos para esclarecer o escopo de desenvolvimento e entrega
Inspeção do movimento do feixe de saída causado pela cura da embalagem
Descreva o objeto da tarefa, a imagem ou vídeo original, os indicadores de destino, a plataforma do dispositivo, a interface e a situação de exemplo.
Telefone: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com