Área de Aplicação Empresarial D16

Serviços de desenvolvimento de semicondutores, wafers, dispositivos optoeletrônicos e exibição de visão infravermelha

Para fabricantes de equipamentos relacionados a "semicondutores, wafers, dispositivos optoeletrônicos e monitores", integradores de sistemas e P&D corporativos, ele fornece avaliação de dados infravermelhos, desenvolvimento de algoritmos, integração de equipamentos/plataforma e aceitação de testes, cobrindo 8 tipos de cenários de aplicativos empresariais.

Escopo do serviço e plano de implementação

número de direçãoD16
Cenário de demanda8 itens
entrada principalSWIR L1/L5;
Rota típicaT12、T03、T04、T10、T18、T11、T05、T01

O escopo do projeto é determinado com base em amostras, equipamentos, condições de trabalho e indicadores escritos; módulos gerais, modelos especiais e integração multissensor são configurados de acordo com os resultados da avaliação.

Cenários de aplicativos e conteúdo de desenvolvimento

IR121

SWIR Imagens de rachaduras internas e defeitos de borda em wafers de silício

Entrada mínima e rota técnica
SWIR L1/L5;T12
saída alvo
Rachaduras, lascas e anomalias de transmissão
Implementação
Requer óptica especializada
aceitação crítica
Rachadura mínima comparada ao valor real microscópico/acústico
IR122

Pontos quentes de wafer e localização térmica de vazamento local

Entrada mínima e rota técnica
Macro MWIR/LWIR L2/L3;T03+T04
saída alvo
Pontos quentes, coordenadas e correlação de excitação elétrica
Implementação
Requer calibração de radiação macro
aceitação crítica
Compare com medição elétrica/análise de falha, erro de posicionamento
IR123

A termografia lock-in localiza curtos-circuitos e vazamentos no chip

Entrada mínima e rota técnica
L5;T10
saída alvo
Pontos quentes de fase e locais de falta
Implementação
Requer ferramentas de estimulação elétrica
aceitação crítica
Versus valor verdadeiro de sondagem/abertura, POD
IR124

Uniformidade de fotoluminescência PL/eletroluminescência EL

Entrada mínima e rota técnica
NIR/SWIR L1/L5;T18
saída alvo
Intensidade luminosa, áreas escuras e uniformidade
Implementação
Precisa de implementação especial
aceitação crítica
Comparado com desempenho elétrico/folha de referência, repetibilidade
IR125

Iluminação de matriz de LED VCSEL/IR e uniformidade de energia

Entrada mínima e rota técnica
NIR/SWIR L1;T11
saída alvo
Pontos Luminosos, Desvantagens, Intensidades Relativas e Arranjos
Implementação
A43/A44 reutilizável
aceitação crítica
Versus medidor de potência/estação de sonda, recuperação de nível de ponto
IR126

Anomalias térmicas do driver OLED/MicroLED e pontos quentes de envelhecimento

Entrada mínima e rota técnica
LWIR/MWIR L2/L3;T03+T05
saída alvo
Anomalias térmicas de pixel/área e tendências de envelhecimento
Implementação
Requer óptica de alta resolução
aceitação crítica
Área mínima divisível, correlação com dados de vida
IR127

Detecção térmica ativa de vazios e delaminação em pacotes de semicondutores

Entrada mínima e rota técnica
L5;T10
saída alvo
Candidato de defeito, proxies de área e profundidade
Implementação
Precisa de amostra de referência
aceitação crítica
Versus raio-X/TC/SAM, POD
IR128

Filtros ópticos, janelas e uniformidade de resposta do detector

Entrada mínima e rota técnica
Corpo negro/fonte de luz L5;T01+T03
saída alvo
Gráficos de resposta, elementos ruins e consistência de banda
Implementação
Calibração do instrumento necessária
aceitação crítica
Repetibilidade uniforme da fonte, resíduos de resposta

Informações necessárias antes da avaliação do projeto

  • Equipamento/objeto alvo, condições do local, processos de negócios e ações de acompanhamento a serem tomadas
  • Câmera infravermelha, lente, banda espectral, distância de instalação, campo de visão, resolução e interface de dados
  • Amostras originais e parâmetros de coleta sob condições normais, anormais, de limite e de interferência
  • Valores verdadeiros de referência e especificações de anotação para temperaturas, peças, estados ou eventos
  • Plataforma alvo, rede, interface, armazenamento, latência e restrições de recursos operacionais
  • Falsos positivos, negativos perdidos, revisão manual, vinculação, tratamento de falhas e limites de aceitação

Métodos de implementação e entrega

  1. Confirmação de entrada do projetoVerifique a câmera, banda espectral, profundidade de bits, SDK, condições ambientais, amostra e valor real de aceitação.
  2. Verificação de amostraVerifique os principais links de processamento, condições aplicáveis ​​e condições de trabalho anormais e determine o escopo do desenvolvimento e os métodos de aceitação.
  3. Desenvolvimento e integração de algoritmosImplemente análise de dados, algoritmos, controle de qualidade, interfaces e implantação de plataforma de destino.
  4. Aceitação e entrega do testeTeste novamente de acordo com o conjunto de testes e a plataforma alvo acordados e entregue os resultados dos testes, os resultados dos testes e as condições aplicáveis.
  • Requisitos e soluções técnicas, definições de campos de entrada e saída e interface
  • Biblioteca de algoritmos, modelo ou SDK/API; formulário de entrega é confirmado no plano do projeto
  • Exemplo de programa, configuração de parâmetros, status de erro e instruções de chamada
  • Versão do conjunto de testes, definição de indicadores, resultados de estratificação e registros de amostras com falha
  • Adaptação da plataforma alvo, uso de recursos e registros de atraso de execução
  • Versão, dependências, licença, etapas de reprodução e descrição das condições aplicáveis

Projeto de aceitação

Cada cenário estabelece casos de teste independentes de acordo com a “aceitação chave”. Ao compartilhar modelos entre cenários, os resultados são relatados separadamente para cada cenário, distância, carga, ambiente e tamanho do alvo, complementados por estatísticas gerais.

Quando alarmes ou controles de alto risco estão envolvidos, a saída do algoritmo é usada para revisão ou julgamento de ligação; funções de segurança, responsabilidades regulatórias e descarte automático exigem projeto e aceitação separados.

Perguntas frequentes para clientes empresariais

Posso comprar diretamente com base em uma das cenas?

Pode ser avaliado primeiro como um pacote de trabalho separado. O escopo formal deve descrever o dispositivo, os dados, os objetos alvo, o ambiente, as interfaces, a forma de entrega e os limites de aceitação.

Pode ser iniciado quando não há amostras anormais?

A interface de dados, a linha de base normal, o plano de aquisição e o projeto de simulação/teste controlado podem ser concluídos primeiro; a taxa de detecção anormal e o efeito de classificação de falhas podem ser avaliados após a obtenção de valores verdadeiros anormais suficientes.

O algoritmo pode disparar alarmes ou ações de equipamentos diretamente?

Duração, desduplicação, controle de qualidade, revisão manual, falha de comunicação e intertravamento de segurança precisam ser projetados com base nos riscos do negócio. As ações de alto risco devem ser ativadas após a conclusão de mecanismos de segurança independentes e aceitação no local.

Consulta de projeto

Envie amostras e condições de equipamentos para esclarecer o escopo de desenvolvimento e entrega

Serviços de desenvolvimento de semicondutores, wafers, dispositivos optoeletrônicos e exibição de visão infravermelha

Descreva o objeto da tarefa, a imagem ou vídeo original, os indicadores de destino, a plataforma do dispositivo, a interface e a situação de exemplo.

Telefone: 13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

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