Ophir VCSEL-metingen
VCSEL-emissiearray- en bundelmorfologiemeetcategorieën
Verificatiedatum: 24-10-2026
Bekijk originele openbare informatie →LSP028 · VCSEL en emissie-array · Halfgeleiderwafel en verpakking
Gedeeltelijk herbruikbaar
Registratiekandidaatcontrole van microlenzen en emissieve arrays
Geconfronteerd met de VCSEL-lensarray, waarbij de scheidingslichtpuntarrayvergelijking als observatieroute wordt gebruikt, is het de bedoeling om een lijst met registratie-offsets en abnormale punten uit te voeren. De pagina is bedoeld voor projectevaluatie en betekent niet dat de ontwikkeling is voltooid of ter plaatse is geaccepteerd.
Samenvatting van het projectoordeel
Product/apparaatVCSEL-lensmatrix
Route metenARRAY·Afzonderlijke spotarray-vergelijking
VermogensbeoordelingGedeeltelijk herbruikbaar
VerificatiestatusDe daadwerkelijke aanvaarding van dit scenario door het machine-/productdomein is niet uitgevoerd
Scène aard:Soortgelijke mogelijke toepassingsscenario's voor laserspots. Het potentiële toepassingsscenario is nog niet ontwikkeld tot een compleet productsysteem; de daadwerkelijke aanvaarding van dit scenario door het machine-/productdomein is niet uitgevoerd. De werkelijke acceptatiehoeveelheid van het product/productdomein in de catalogusstatistieken is 0.
Bedrijfstaken en beoogde output
- doelgroep
- VCSEL-lensarray: vergelijking van scheidingslichtspotarrays
- pseudo-uitvoer
- Lijst met registratie-offsets en uitbijters
- Toepasselijke voorwaarden
- Moet de lay-out en de relaisvergroting kennen
- prioriteit
- Algemene uitbreiding. Verificatie moet worden voltooid volgens de vermelde optische omstandigheden, kalibratie en monsters.
Beeldinvoer en algoritmeroutering
Beeldvorming en apparaatomstandigheden
Afzonderlijke en nummerbare meerdere lichtvlekken, vast ontvangstvlak en gezichtsveld. Nabij-infrarood-responsdetector, gesynchroniseerde triggering en scheidbare beeldvorming van nabije en verre veldpunten
ARRAY·Afzonderlijke spotarray-vergelijking
Afzonderlijke en nummerbare meerdere lichtvlekken, vast ontvangstvlak en gezichtsveld
- A102Multi-laserpunt verbonden domeinkandidaatextractie
- A105Laserspot tweede moment en hoofdasdiameter
- A107Diagnose van laserspotkwaliteit en bruikbaarheid
- A108Eén-op-één afstemming van referentiebits met meerdere laserpunten
- A112Tweedimensionale herhaalbaarheid en dekkingsellips van laserspot
Bestaand algoritmisch bewijs:A101-A112 alleen volledige analytische syntheseplek en gecontroleerde geometrieverificatie; zie laser_spot_benchmark.json
Huidige capaciteiten en mogelijkheden die moeten worden aangevuld
Gedeeltelijk herbruikbaar
Vereist kalibratie, synchronisatie of integratie
De front-end- of timingstatistiekmodule voor lichtpuntdetectie kan worden hergebruikt, maar het project moet nog steeds geometrische kalibratie, tijdsynchronisatie, bewegingscompensatie of systeemintegratie van apparatuur toevoegen.
Hiaten in deze scène:Puntreeksnummering, lokale ROI, overspraak en occlusieverwerking zijn vereist; A108 komt alleen overeen op afstand in hetzelfde coördinatensysteem. De lay-out en de relaisvergroting moeten bekend zijn. Het aantal lichtpunten en het aantal fysieke emissie-eenheden hoeven niet één op één overeen te komen.
Hiaten op routeniveau:Puntreeksnummering, lokale ROI, overspraak en occlusieverwerking zijn vereist; A108 komt alleen overeen op afstand in hetzelfde coördinatensysteem
"Gedeeltelijk herbruikbaar" beschrijft alleen het relatieve ontwikkelingsvolume en houdt geen verplichting in ten aanzien van nauwkeurigheid, tempo, stabiliteit of levertijd.
Verificatiemethoden en acceptatievoorwaarden
Controleer het aantal punten, matchpercentages en mismatches met behulp van bekende rooster- en kunstmatige defect-/overlap-/scramblergegevens. Kruiscontrole met microfoto's, onafhankelijke radiometers en ontwerparrays
| Acceptatie artikelen | Bewijs vereist voor projectbevestiging | Huidige status |
|---|---|---|
| Ingangen en monsters | Originele frames van het echte apparaat, normale/abnormale monsters, belichtings- en lichtpadomstandigheden, monstergroepering en braaklegging | Niet verstrekt, wacht op projectinvoer |
| Omvang en fout | Onafhankelijke referentiewaarde, kalibratierecord, statistisch foutkaliber en drempel voor wederzijdse bevestiging | Niet geverifieerd |
| Uitzonderingen en grenzen | Verwachte afhandeling van gemiste detecties, valse detecties, overbelichting, occlusie, reflectie, uit het zicht en communicatie-afwijkingen | Nog te definiëren |
| Systeemintegratie | Interface, tijdsynchronisatie, implementatieplatform, tempo, log, versie en continu hardlooprecord | Niet geïntegreerd |
Bewijsbronnen en citatiegrenzen
De bron ondersteunt meetprincipes of soortgelijke toepassingen; de modulecombinatie, het apparaat en de acceptatiemethode in dit scenario zijn technische afleiding en de productverificatie is niet voltooid.
Ophir groothoek divergerende straal
Beeldvormingsomstandigheden voor verreveldacquisitie en groothoekbundel
Verificatiedatum: 24-10-2026
Bekijk originele openbare informatie →Bereik van brongebruik:De publieke informatie wordt gebruikt om het meetprincipe of het bestaan van vergelijkbare toepassingen te ondersteunen, en bewijst niet dat dit scenario door Jishi Technology is ontwikkeld, ingezet of geaccepteerd.
Projectadvies
xuzhiyang0928@gmail.com
Dien monsters en apparatuurvoorwaarden in om de ontwikkelings- en leveringsomvang te verduidelijken
Registratiekandidaatcontrole van microlenzen en emissieve arrays
Beschrijf het taakobject, de originele foto of video, de doelindicatoren, het apparaatplatform, de interface en de voorbeeldsituatie.
Telefoon: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com