Toepassingsgebied Enterprise D16

Diensten voor de ontwikkeling van halfgeleiders, wafers, opto-elektronische apparaten en beeldschermen

Voor fabrikanten van "halfgeleiders, wafers, opto-elektronische apparaten en beeldschermen"-gerelateerde apparatuur, systeemintegrators en ondernemings-R&D biedt het infraroodgegevensevaluatie, algoritmeontwikkeling, apparatuur/platformintegratie en testacceptatie, die 8 soorten bedrijfstoepassingsscenario's omvat.

Serviceomvang en implementatieplan

richting nummerD16
Vraagscenario8 artikelen
belangrijkste ingangSWIR L1/L5; MWIR/LWIR-macro L2/L3; L5; NIR/SWIR L1/L5
Typisch trajectT12、T03、T04、T10、T18、T11、T05、T01

De projectomvang wordt bepaald op basis van monsters, apparatuur, arbeidsomstandigheden en schriftelijke indicatoren; algemene modules, speciale modellen en multi-sensorintegratie worden geconfigureerd op basis van de evaluatieresultaten.

Toepassingsscenario's en ontwikkelingsinhoud

IR121

SWIR-beeldvorming van interne scheuren en randdefecten in siliciumwafels

Minimale input en technisch traject
SWIR L1/L5;T12
doeluitvoer
Scheuren, chippen en transmissieafwijkingen
Uitvoering
Vereist gespecialiseerde optiek
kritische acceptatie
Minimale scheur vergeleken met microscopisch/akoestische werkelijke waarde
IR122

Wafer-hotspots en thermische lokalisatie van lokale lekkage

Minimale input en technisch traject
MWIR/LWIR-macro L2/L3;T03+T04
doeluitvoer
Hotspots, coördinaten en elektrische excitatiecorrelatie
Uitvoering
Vereist macrostralingskalibratie
kritische acceptatie
Vergelijk met elektrische meting/storingsanalyse, positioneringsfout
IR123

Lock-in-thermografie lokaliseert chipkortsluitingen en lekken

Minimale input en technisch traject
L5;T10
doeluitvoer
Fase-hotspots en foutlocaties
Uitvoering
Vereist gereedschap voor elektrische stimulatie
kritische acceptatie
Versus probe/open ware waarde, POD
IR124

Fotoluminescentie PL/Elektroluminescentie EL Uniformiteit

Minimale input en technisch traject
NIR/SWIR L1/L5;T18
doeluitvoer
Lichtsterkte, donkere gebieden en uniformiteit
Uitvoering
Speciale implementatie nodig
kritische acceptatie
Vergeleken met elektrische prestaties/referentieblad, herhaalbaarheid
IR125

VCSEL/IR LED-arrayverlichting en stroomuniformiteit

Minimale input en technisch traject
NIR/SWIR L1;T11
doeluitvoer
Lichtpunten, nadelen, relatieve intensiteiten en arrangementen
Uitvoering
Herbruikbaar A43/A44
kritische acceptatie
Versus vermogensmeter/sondestation, terugroepen op puntniveau
IR126

Thermische afwijkingen van de OLED/MicroLED-driver en hotspots voor veroudering

Minimale input en technisch traject
LWIR/MWIR L2/L3;T03+T05
doeluitvoer
Thermische afwijkingen in pixels/gebieden en verouderingstrends
Uitvoering
Vereist optica met hoge resolutie
kritische acceptatie
Minimaal deelbaar gebied, correlatie met levensgegevens
IR127

Actieve thermische detectie van holtes en delaminatie van halfgeleiderverpakkingen

Minimale input en technisch traject
L5;T10
doeluitvoer
Defecte kandidaat-, gebieds- en diepteproxy's
Uitvoering
Referentiemonster nodig
kritische acceptatie
versus röntgenfoto/CT/SAM, POD
IR128

Optische filters, vensters en uniformiteit van de detectorrespons

Minimale input en technisch traject
Blackbody/lichtbron L5;T01+T03
doeluitvoer
Reactieplots, slechte elementen en bandconsistentie
Uitvoering
Instrumentkalibratie vereist
kritische acceptatie
Uniforme bronherhaalbaarheid, responsresiduen

Informatie die vereist is vóór de projectevaluatie

  • Doelapparatuur/object, locatieomstandigheden, bedrijfsprocessen en te ondernemen vervolgacties
  • Infraroodcamera, lens, spectrale band, installatieafstand, gezichtsveld, resolutie en data-interface
  • Originele monsters en verzamelingsparameters onder normale, abnormale, grens- en interferentieomstandigheden
  • Referentiewaarheidswaarden en annotatiespecificaties voor temperaturen, onderdelen, toestanden of gebeurtenissen
  • Doelplatform-, netwerk-, interface-, opslag-, latentie- en operationele resourcebeperkingen
  • Valse positieven, gemiste negatieven, handmatige beoordeling, koppeling, afhandeling van fouten en acceptatiedrempels

Implementatie- en leveringsmethoden

  1. Bevestiging van projectinvoerControleer de camera, spectrale band, bitdiepte, SDK, omgevingsomstandigheden, monsters en acceptatiewaarheidswaarden.
  2. VoorbeeldverificatieVerifieer de belangrijkste verwerkingslinks, toepasselijke omstandigheden en abnormale werkomstandigheden, en bepaal de ontwikkelingsomvang en acceptatiemethoden.
  3. Ontwikkeling en integratie van algoritmenImplementeer dataparsing, algoritmen, kwaliteitspoorten, interfaces en doelplatformimplementatie.
  4. Testacceptatie en overdrachtTest opnieuw volgens de overeengekomen testset en het doelplatform en overhandig de deliverables, testresultaten en toepasselijke voorwaarden.
  • Eisen en technische oplossingen, input en output en interfacevelddefinities
  • Algoritmebibliotheek, model of SDK/API; opleveringsformulier bevestigd in projectplan
  • Voorbeeldprogramma, parameterconfiguratie, foutstatus en oproepinstructies
  • Testsetversie, indicatordefinitie, stratificatieresultaten en mislukte monsterrecords
  • Doelplatformaanpassing, resourcegebruik en lopende vertragingsrecords
  • Versie, afhankelijkheden, licentie, reproductiestappen en beschrijving van de toepasselijke voorwaarden

Acceptatie ontwerp

Elk scenario stelt onafhankelijke testgevallen vast op basis van "sleutelacceptatie". Bij het delen van modellen tussen scenario's worden de resultaten afzonderlijk gerapporteerd voor elk scenario, afstand, belasting, omgeving en doelgrootte, aangevuld met algemene statistieken.

Wanneer er sprake is van alarmen of controles met een hoog risico, wordt de algoritme-uitvoer gebruikt voor beoordeling of koppelingsbeoordeling; veiligheidsfuncties, regelgevende verantwoordelijkheden en automatische verwijdering vereisen een afzonderlijk ontwerp en acceptatie.

Veelgestelde vragen voor zakelijke klanten

Kan ik direct kopen op basis van een van de scènes?

Kan eerst als apart werkpakket geëvalueerd worden. De formele reikwijdte moet het apparaat, de gegevens, de doelobjecten, de omgeving, de interfaces, de leveringsvorm en de acceptatiedrempels beschrijven.

Kan ermee worden gestart als er geen abnormale monsters zijn?

De data-interface, normale basislijn, acquisitieplan en simulatie/gecontroleerd testontwerp kunnen eerst worden voltooid; het abnormale detectiepercentage en het foutclassificatie-effect kunnen worden geëvalueerd na het verkrijgen van voldoende abnormale werkelijke waarden.

Kan het algoritme direct alarmen of apparatuuracties activeren?

Duur, deduplicatie, kwaliteitscontrole, handmatige beoordeling, communicatiefouten en veiligheidskoppelingen moeten worden ontworpen op basis van bedrijfsrisico's. Acties met een hoog risico moeten worden geactiveerd na voltooiing van onafhankelijke veiligheidsmechanismen en acceptatie ter plaatse.

Projectadvies

Dien monsters en apparatuurvoorwaarden in om de ontwikkelings- en leveringsomvang te verduidelijken

Diensten voor de ontwikkeling van halfgeleiders, wafers, opto-elektronische apparaten en beeldschermen

Beschrijf het taakobject, de originele foto of video, de doelindicatoren, het apparaatplatform, de interface en de voorbeeldsituatie.

Telefoon: 13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

De ingevulde gegevens worden uitsluitend gebruikt voor evaluatie en contact voor dit project. Dien geen ongeautoriseerde persoonlijke informatie of gevoelige gegevens in.