Investigación de deflectometría fototérmica de IBM
El principio de desviación del haz de la sonda causada por el gradiente del índice de refracción.
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →LSP263 · Materiales e investigación fototérmica química · Humectación e interfaz de gotitas químicas
Necesidad de agregar un nuevo núcleo
Observación de la deflexión del haz causada por la perturbación del flujo térmico.
Frente a la muestra portadora catalítica, la desviación de la sonda fototérmica se utiliza como ruta de observación y se pretende generar la serie temporal de desviación de la sonda. La página es para evaluación de proyectos y no significa que el desarrollo haya sido completado o haya sido aceptado en sitio.
Resumen del juicio del proyecto
Producto/DispositivoMuestra de portador catalítico
Medir rutaTÉRMICA · Deflexión sonda fototérmica
Calificación de habilidadNecesidad de agregar un nuevo núcleo
Estado de verificaciónLa aceptación real del dominio de máquina/producto de este escenario no se ha llevado a cabo
Naturaleza de la escena:Posibles escenarios de aplicación similares para puntos láser. El escenario de aplicación potencial aún no se ha desarrollado en un sistema de producto completo; No se ha llevado a cabo la aceptación real del dominio de máquina/producto de este escenario. La cantidad de aceptación real de producto/dominio de producto en las estadísticas del catálogo es 0.
Tareas comerciales y resultados previstos.
- público objetivo
- Muestra de soporte catalítico: desviación de la sonda fototérmica.
- pseudo salida
- Tiempo de deflexión de la sonda
- Condiciones aplicables
- Las velocidades y concentraciones de reacción requieren análisis químicos independientes
- prioridad
- Desarrollo especial. El núcleo de medición/control debe complementarse y verificarse de acuerdo con la aprobación especial del proyecto.
Entrada de imágenes y enrutamiento de algoritmos
Condiciones de imagen y dispositivo
Se conocen la trayectoria óptica de la bomba/sonda, la referencia de modulación y los límites térmicos, y las muestras cubren la frecuencia de modulación. Ruta óptica de bomba/sonda, modulación sincronizada y ambiente de temperatura controlada
TÉRMICA · Deflexión sonda fototérmica
Se conocen la trayectoria óptica de la bomba/sonda, la referencia de modulación y los límites térmicos, y el muestreo cubre la frecuencia de modulación.
- A74transformada de Fourier de corto tiempo STFT
- A101Centroide en escala de grises del punto láser de umbral adaptativo
- A103Centro de punto de subpíxel de superficie cuadrática logarítmica
- A107Diagnóstico de calidad y usabilidad del punto láser
- A112Elipse de cobertura y repetibilidad bidimensional del punto láser
Evidencia algorítmica existente:A101–A112 solo completan la síntesis analítica y la verificación de la geometría controlada; ver laser_spot_benchmark.json
Capacidades actuales y capacidades a complementar
Necesidad de agregar un nuevo núcleo
Necesidad de agregar computación central
La extracción de puntos de luz solo se puede utilizar como interfaz de observación, y las capacidades centrales como la reconstrucción tridimensional, el control de bucle cerrado, el frente de onda o la inversión de cantidades físicas deben desarrollarse y verificarse por separado.
Brechas en este escenario:Es necesario agregar nuevos modelos de bloqueo de fase/difusión térmica/refracción e inversión de parámetros de propiedades físicas; La desviación de la imagen no proporciona directamente conductividad o absortividad térmica. Las velocidades y concentraciones de reacción requieren análisis químicos independientes. Todas las producciones de propiedad física son inversiones que deben desarrollarse y no son reemplazadas directamente por desplazamientos.
Brechas a nivel de ruta:Es necesario agregar nuevos modelos de bloqueo de fase/difusión térmica/refracción e inversión de parámetros de propiedades físicas; La desviación de la imagen no proporciona directamente conductividad o absortividad térmica.
"Se requieren nuevos núcleos" solo describe el volumen de desarrollo relativo y no constituye un compromiso con la precisión, el ritmo, la estabilidad o el tiempo de entrega.
Métodos de verificación y requisitos previos de aceptación.
Verifique la inversión utilizando materiales de referencia y analizadores térmicos independientes, variando la frecuencia, el desplazamiento del haz y las condiciones límite. Materiales de referencia, muestras en blanco y comparación independiente de instrumentos de propiedades físicas.
| Artículos de aceptación | Pruebas requeridas para la confirmación del proyecto. | Estado actual |
|---|---|---|
| Entradas y muestras | Marcos originales del dispositivo real, muestras normales/anormales, condiciones de exposición y trayectoria de la luz, agrupación de muestras y reserva | No proporcionado, esperando aportes del proyecto |
| Magnitud y error | Valor de referencia independiente, registro de calibración, calibre estadístico de error y umbral de confirmación mutua | No verificado |
| Excepciones y límites | Manejo anticipado de detecciones perdidas, detecciones falsas, sobreexposición, oclusión, reflejo, fuera de la vista y anomalías de comunicación | Por definir |
| Integración del sistema | Interfaz, sincronización horaria, plataforma de implementación, tempo, registro, versión y registro de ejecución continua | No integrado |
Fuentes de evidencia y límites de citas
La fuente admite principios de medición o aplicaciones similares; la combinación de módulos, el dispositivo y el método de aceptación en este escenario son derivaciones de ingeniería y la verificación del producto no se ha completado.
Estudio de triangulación de luz azul del NIST cerca de una llama
Mediciones de desplazamiento y efectos del gradiente térmico en ensayos de fuego específicos, sin extrapolación de valores.
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →Investigación sobre la incertidumbre moteada de la triangulación láser
Efecto del moteado sobre la incertidumbre de posición y distancia.
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →Alcance del uso de la fuente:La información pública se utiliza para respaldar el principio de medición o la existencia de aplicaciones similares, y no prueba que este escenario haya sido desarrollado, implementado o aceptado por Jishi Technology.
Consulta de proyecto
xuzhiyang0928@gmail.com
Envíe muestras y condiciones del equipo para aclarar el alcance del desarrollo y la entrega.
Observación de la deflexión del haz causada por la perturbación del flujo térmico.
Describa el objeto de la tarea, la imagen o el video original, los indicadores de destino, la plataforma del dispositivo, la interfaz y la situación de muestra.
Teléfono: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com