Instrucciones de alineación del sistema de agujeros Hamar.
Adaptador de objetivo de orificio alineado con el eje de referencia
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →Frente a la muestra de la placa del fondo del tanque, se utiliza la topografía tridimensional de escaneo de puntos como ruta de observación, y se pretende generar la diferencia de altura antes y después de la carga. La página es para evaluación de proyectos y no significa que el desarrollo haya sido completado o haya sido aceptado en sitio.
Mecanismo de escaneo con codificador, geometría de transceptor láser puntual e imágenes sincronizadas. Objetivos receptores dentro/exteriores, estaciones de referencia estables y registros de mediciones de instalación
Mecanismo de escaneo con codificador, geometría de transceptor láser puntual e imágenes sincronizadas
Evidencia algorítmica existente:A101–A112 solo completan la síntesis analítica y la verificación de la geometría controlada; ver laser_spot_benchmark.json
La extracción de puntos de luz solo se puede utilizar como interfaz de observación, y las capacidades centrales como la reconstrucción tridimensional, el control de bucle cerrado, el frente de onda o la inversión de cantidades físicas deben desarrollarse y verificarse por separado.
Brechas en este escenario:Es necesario agregar nuevos puntos de intersección de triangulación, fusión de coordenadas de escaneo, reconstrucción de superficies y evaluación de forma y posición; A41 sólo se ajusta a puntos tridimensionales existentes. El dato de asentamiento no puede ubicarse en la misma placa base deformada. Sólo se mide la geometría visible de la superficie objetivo, no se infiere el espesor de la pared, la corrosión o la capacidad de soporte de presión.
Brechas a nivel de ruta:Es necesario agregar nuevos puntos de intersección de triangulación, fusión de coordenadas de escaneo, reconstrucción de superficies y evaluación de forma y posición; A41 sólo se ajusta a puntos tridimensionales existentes.
"Se requieren nuevos núcleos" solo describe el volumen de desarrollo relativo y no constituye un compromiso con la precisión, el ritmo, la estabilidad o el tiempo de entrega.
Utilice una muestra de paso/contorno conocido para realizar una prueba ciega con una CMM o perfilador para verificar el área faltante y la distancia del paso de escaneo. Comparación de datum mecánico, estación total o medidor de desplazamiento independiente
| Artículos de aceptación | Pruebas requeridas para la confirmación del proyecto. | Estado actual |
|---|---|---|
| Entradas y muestras | Marcos originales del dispositivo real, muestras normales/anormales, condiciones de exposición y trayectoria de la luz, agrupación de muestras y reserva | No proporcionado, esperando aportes del proyecto |
| Magnitud y error | Valor de referencia independiente, registro de calibración, calibre estadístico de error y umbral de confirmación mutua | No verificado |
| Excepciones y límites | Manejo anticipado de detecciones perdidas, detecciones falsas, sobreexposición, oclusión, reflejo, fuera de la vista y anomalías de comunicación | Por definir |
| Integración del sistema | Interfaz, sincronización horaria, plataforma de implementación, tempo, registro, versión y registro de ejecución continua | No integrado |
La fuente admite principios de medición o aplicaciones similares; la combinación de módulos, el dispositivo y el método de aceptación en este escenario son derivaciones de ingeniería y la verificación del producto no se ha completado.
Adaptador de objetivo de orificio alineado con el eje de referencia
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →Categorías de alineación láser para ejes, equipos e instalaciones industriales.
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →Triangulación activa de puntos, geometría escaneada y propagación de errores.
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →Muestreo multipunto para modelo de asentamiento de piso.
Describa el objeto de la tarea, la imagen o el video original, los indicadores de destino, la plataforma del dispositivo, la interfaz y la situación de muestra.
Teléfono: 13910119357