Principio de triangulación láser Micro-Epsilon
Transmisión, recepción de imágenes y medición de distancias después de la calibración
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →LSP132 · Envasado de alimentos y equipos farmacéuticos · Embalaje, impresión, etiquetado y logística
Necesidad de agregar un nuevo núcleo
Inspección por escaneo de la altura del ápice de la ampolla
Frente a la pieza de prueba que forma la ampolla, se utiliza la topografía tridimensional de escaneo de puntos como ruta de observación, y se planea generar el conjunto de puntos de altura de la ampolla. La página es para evaluación de proyectos y no significa que el desarrollo haya sido completado o haya sido aceptado en sitio.
Resumen del juicio del proyecto
Producto/DispositivoPieza de prueba de formación de ampollas
Medir rutaSCAN·Escaneo de puntos topografía 3D
Calificación de habilidadNecesidad de agregar un nuevo núcleo
Estado de verificaciónLa aceptación real del dominio de máquina/producto de este escenario no se ha llevado a cabo
Naturaleza de la escena:Posibles escenarios de aplicación similares para puntos láser. El escenario de aplicación potencial aún no se ha desarrollado en un sistema de producto completo; No se ha llevado a cabo la aceptación real del dominio de máquina/producto de este escenario. La cantidad de aceptación real de producto/dominio de producto en las estadísticas del catálogo es 0.
Tareas comerciales y resultados previstos.
- público objetivo
- Pieza de prueba de formación de ampollas: morfología tridimensional de escaneo de puntos
- pseudo salida
- Conjunto de puntos de altura de ampolla
- Condiciones aplicables
- Es necesario proteger el reflejo de doble interfaz del plástico transparente
- prioridad
- Desarrollo especial. El núcleo de medición/control debe complementarse y verificarse de acuerdo con la aprobación especial del proyecto.
Entrada de imágenes y enrutamiento de algoritmos
Condiciones de imagen y dispositivo
Mecanismo de escaneo con codificador, geometría de transceptor láser puntual e imágenes sincronizadas. Estación de trabajo cerrada, referencia estable y ventana óptica limpiable
SCAN·Escaneo de puntos topografía 3D
Mecanismo de escaneo con codificador, geometría de transceptor láser puntual e imágenes sincronizadas
- A41Ajuste de plano ortogonal de conjunto de puntos tridimensionales
- A101Centroide en escala de grises del punto láser de umbral adaptativo
- A103Centro de punto de subpíxel de superficie cuadrática logarítmica
- A107Diagnóstico de calidad y usabilidad del punto láser
- A111Conversión de píxel de punto láser a ángulo de visión de cámara
Evidencia algorítmica existente:A101–A112 solo completan la síntesis analítica y la verificación de la geometría controlada; ver laser_spot_benchmark.json
Capacidades actuales y capacidades a complementar
Necesidad de agregar un nuevo núcleo
Necesidad de agregar computación central
La extracción de puntos de luz solo se puede utilizar como interfaz de observación, y las capacidades centrales como la reconstrucción tridimensional, el control de bucle cerrado, el frente de onda o la inversión de cantidades físicas deben desarrollarse y verificarse por separado.
Brechas en este escenario:Es necesario agregar nuevos puntos de intersección de triangulación, fusión de coordenadas de escaneo, reconstrucción de superficies y evaluación de forma y posición; A41 sólo se ajusta a puntos tridimensionales existentes. Es necesario proteger el reflejo de doble interfaz del plástico transparente. El objeto de medición es la forma/el desplazamiento del dispositivo, no se hacen inferencias sobre la composición, la esterilidad o la estanqueidad al aire.
Brechas a nivel de ruta:Es necesario agregar nuevos puntos de intersección de triangulación, fusión de coordenadas de escaneo, reconstrucción de superficies y evaluación de forma y posición; A41 sólo se ajusta a puntos tridimensionales existentes.
"Se requieren nuevos núcleos" solo describe el volumen de desarrollo relativo y no constituye un compromiso con la precisión, el ritmo, la estabilidad o el tiempo de entrega.
Métodos de verificación y requisitos previos de aceptación.
Utilice una muestra de paso/contorno conocido para realizar una prueba ciega con una CMM o perfilador para verificar el área faltante y la distancia del paso de escaneo. Comparación de contenedores estándar/láminas gruesas, calibres de contacto y muestras defectuosas independientes
| Artículos de aceptación | Pruebas requeridas para la confirmación del proyecto. | Estado actual |
|---|---|---|
| Entradas y muestras | Marcos originales del dispositivo real, muestras normales/anormales, condiciones de exposición y trayectoria de la luz, agrupación de muestras y reserva | No proporcionado, esperando aportes del proyecto |
| Magnitud y error | Valor de referencia independiente, registro de calibración, calibre estadístico de error y umbral de confirmación mutua | No verificado |
| Excepciones y límites | Manejo anticipado de detecciones perdidas, detecciones falsas, sobreexposición, oclusión, reflejo, fuera de la vista y anomalías de comunicación | Por definir |
| Integración del sistema | Interfaz, sincronización horaria, plataforma de implementación, tempo, registro, versión y registro de ejecución continua | No integrado |
Fuentes de evidencia y límites de citas
La fuente admite principios de medición o aplicaciones similares; la combinación de módulos, el dispositivo y el método de aceptación en este escenario son derivaciones de ingeniería y la verificación del producto no se ha completado.
Aplicaciones de desplazamiento Micro-Epsilon
Categorías industriales de medición de altura, distancia y posición.
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →Aplicación de espesor Micro-Epsilon
Medición de espesor de combinación de sensor de desplazamiento; Se deben seleccionar diferentes principios de medición por separado.
Fecha de verificación: 2026-10-24
Ver información pública original →Alcance del uso de la fuente:La información pública se utiliza para respaldar el principio de medición o la existencia de aplicaciones similares, y no prueba que este escenario haya sido desarrollado, implementado o aceptado por Jishi Technology.
Consulta de proyecto
xuzhiyang0928@gmail.com
Envíe muestras y condiciones del equipo para aclarar el alcance del desarrollo y la entrega.
Inspección por escaneo de la altura del ápice de la ampolla
Describa el objeto de la tarea, la imagen o el video original, los indicadores de destino, la plataforma del dispositivo, la interfaz y la situación de muestra.
Teléfono: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com