LSP083 · Conjunto de batería y medición de caja · Módulo de batería PACK y componentes de almacenamiento de energía
Necesidad de agregar un nuevo núcleo

Muestreo de diferencia de altura de escalón después del montaje de la cubierta superior

Frente a la cubierta superior del módulo de batería, la topografía tridimensional de escaneo de puntos se utiliza como ruta de observación y se pretende generar la diferencia de altura de los puntos de muestreo. La página es para evaluación de proyectos y no significa que el desarrollo haya sido completado o haya sido aceptado en sitio.

Resumen del juicio del proyecto

Producto/DispositivoCubierta superior del módulo de batería
Medir rutaSCAN·Escaneo de puntos topografía 3D
Calificación de habilidadNecesidad de agregar un nuevo núcleo
Estado de verificaciónLa aceptación real del dominio de máquina/producto de este escenario no se ha llevado a cabo
Naturaleza de la escena:Posibles escenarios de aplicación similares para puntos láser. El escenario de aplicación potencial aún no se ha desarrollado en un sistema de producto completo; No se ha llevado a cabo la aceptación real del dominio de máquina/producto de este escenario. La cantidad de aceptación real de producto/dominio de producto en las estadísticas del catálogo es 0.

Tareas comerciales y resultados previstos.

público objetivo
Cubierta superior del módulo de batería: topografía 3D de escaneo de puntos
pseudo salida
Diferencia de altura del punto de muestreo
Condiciones aplicables
La diferencia de superficie completa requiere posicionamiento de juntas y solución de referencia
prioridad
Desarrollo especial. El núcleo de medición/control debe complementarse y verificarse de acuerdo con la aprobación especial del proyecto.

Entrada de imágenes y enrutamiento de algoritmos

Condiciones de imagen y dispositivo

Mecanismo de escaneo con codificador, geometría de transceptor láser puntual e imágenes sincronizadas. Herramientas de alcance de puntos sin contacto y referencia estable

SCAN·Escaneo de puntos topografía 3D

Mecanismo de escaneo con codificador, geometría de transceptor láser puntual e imágenes sincronizadas

  • A41Ajuste de plano ortogonal de conjunto de puntos tridimensionales
  • A101Centroide en escala de grises del punto láser de umbral adaptativo
  • A103Centro de punto de subpíxel de superficie cuadrática logarítmica
  • A107Diagnóstico de calidad y usabilidad del punto láser
  • A111Conversión de píxel de punto láser a ángulo de visión de cámara

Evidencia algorítmica existente:A101–A112 solo completan la síntesis analítica y la verificación de la geometría controlada; ver laser_spot_benchmark.json

Capacidades actuales y capacidades a complementar

Necesidad de agregar un nuevo núcleo

Necesidad de agregar computación central

La extracción de puntos de luz solo se puede utilizar como interfaz de observación, y las capacidades centrales como la reconstrucción tridimensional, el control de bucle cerrado, el frente de onda o la inversión de cantidades físicas deben desarrollarse y verificarse por separado.

Brechas en este escenario:Es necesario agregar nuevos puntos de intersección de triangulación, fusión de coordenadas de escaneo, reconstrucción de superficies y evaluación de forma y posición; A41 sólo se ajusta a puntos tridimensionales existentes. La diferencia de superficie completa requiere el posicionamiento de las juntas y una solución de referencia. El desplazamiento de forma y el estado electroquímico se inspeccionan por separado.

Brechas a nivel de ruta:Es necesario agregar nuevos puntos de intersección de triangulación, fusión de coordenadas de escaneo, reconstrucción de superficies y evaluación de forma y posición; A41 sólo se ajusta a puntos tridimensionales existentes.

"Se requieren nuevos núcleos" solo describe el volumen de desarrollo relativo y no constituye un compromiso con la precisión, el ritmo, la estabilidad o el tiempo de entrega.

Métodos de verificación y requisitos previos de aceptación.

Utilice una muestra de paso/contorno conocido para realizar una prueba ciega con una CMM o perfilador para verificar el área faltante y la distancia del paso de escaneo. Referencia cruzada de piezas estándar, tablas de desplazamiento y calibres de contacto.

Artículos de aceptaciónPruebas requeridas para la confirmación del proyecto.Estado actual
Entradas y muestrasMarcos originales del dispositivo real, muestras normales/anormales, condiciones de exposición y trayectoria de la luz, agrupación de muestras y reservaNo proporcionado, esperando aportes del proyecto
Magnitud y errorValor de referencia independiente, registro de calibración, calibre estadístico de error y umbral de confirmación mutuaNo verificado
Excepciones y límitesManejo anticipado de detecciones perdidas, detecciones falsas, sobreexposición, oclusión, reflejo, fuera de la vista y anomalías de comunicaciónPor definir
Integración del sistemaInterfaz, sincronización horaria, plataforma de implementación, tempo, registro, versión y registro de ejecución continuaNo integrado

Fuentes de evidencia y límites de citas

La fuente admite principios de medición o aplicaciones similares; la combinación de módulos, el dispositivo y el método de aceptación en este escenario son derivaciones de ingeniería y la verificación del producto no se ha completado.

LS-S03 · Fábrica original/institución de investigación científica/documento original

Principio de triangulación láser Micro-Epsilon

Transmisión, recepción de imágenes y medición de distancias después de la calibración

Fecha de verificación: 2026-10-24

Ver información pública original →
LS-S04 · Fábrica original/institución de investigación científica/documento original

Aplicaciones de desplazamiento Micro-Epsilon

Categorías industriales de medición de altura, distancia y posición.

Fecha de verificación: 2026-10-24

Ver información pública original →
LS-S05 · Fábrica original/institución de investigación científica/papel original

Aplicación de espesor Micro-Epsilon

Medición de espesor de combinación de sensor de desplazamiento; Se deben seleccionar diferentes principios de medición por separado.

Fecha de verificación: 2026-10-24

Ver información pública original →
Alcance del uso de la fuente:La información pública se utiliza para respaldar el principio de medición o la existencia de aplicaciones similares, y no prueba que este escenario haya sido desarrollado, implementado o aceptado por Jishi Technology.
Consulta de proyecto

Envíe muestras y condiciones del equipo para aclarar el alcance del desarrollo y la entrega.

Muestreo de diferencia de altura de escalón después del montaje de la cubierta superior

Describa el objeto de la tarea, la imagen o el video original, los indicadores de destino, la plataforma del dispositivo, la interfaz y la situación de muestra.

Teléfono: 13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

La información completada sólo será utilizada para evaluación y contacto para este proyecto. No envíe información personal no autorizada ni datos confidenciales.