LSP044 · Galvanómetro y espejo réflex rápido · Óptica de escaneo y movimiento de precisión
Parcialmente reutilizable

Registro de puntos en el área de superposición de cabezales de escaneo duales

Para los sistemas de escaneo de cabezales múltiples, la calibración de coordenadas bidimensionales de comando/objetivo se utiliza como ruta de observación, y se pretende generar la desviación bidimensional del área de empalme. La página es para evaluación de proyectos y no significa que el desarrollo haya sido completado o haya sido aceptado en sitio.

Resumen del juicio del proyecto

Producto/DispositivoSistema de escaneo de múltiples cabezales
Medir rutaCAL · Calibración de coordenadas bidimensionales de comando/objetivo
Calificación de habilidadParcialmente reutilizable
Estado de verificaciónLa aceptación real del dominio de máquina/producto de este escenario no se ha llevado a cabo
Naturaleza de la escena:Posibles escenarios de aplicación similares para puntos láser. El escenario de aplicación potencial aún no se ha desarrollado en un sistema de producto completo; No se ha llevado a cabo la aceptación real del dominio de máquina/producto de este escenario. La cantidad de aceptación real de producto/dominio de producto en las estadísticas del catálogo es 0.

Tareas comerciales y resultados previstos.

público objetivo
Sistema de escaneo de cabezales múltiples: calibración de coordenadas bidimensionales de comando/objetivo
pseudo salida
Desviación bidimensional del área de empalme.
Condiciones aplicables
Los cambios en la altura de la superficie de trabajo se medirán por separado.
prioridad
extensión general. La verificación debe completarse de acuerdo con las condiciones ópticas, la calibración y las muestras enumeradas.

Entrada de imágenes y enrutamiento de algoritmos

Condiciones de imagen y dispositivo

Cubra los puntos correspondientes calibrados y los puntos de replanteo independientes del campo de visión bidimensional y fije la trayectoria óptica y el plano de trabajo. Objetivo de calibración, registro de comandos, marca de tiempo de la cámara y referencia de ángulo

CAL · Calibración de coordenadas bidimensionales de comando/objetivo

Puntos correspondientes de calibración y puntos de replanteo independientes que cubren el campo de visión bidimensional, la trayectoria óptica fija y el plano de trabajo.

  • A101Centroide en escala de grises del punto láser de umbral adaptativo
  • A107Diagnóstico de calidad y usabilidad del punto láser
  • A109Calibración polinomial de coordenadas físicas a píxel bidimensional
  • A110Mapeo de calibración de puntos láser y propagación de covarianza.
  • A112Elipse de cobertura y repetibilidad bidimensional del punto láser

Evidencia algorítmica existente:A101–A112 solo completan la síntesis analítica y la verificación de la geometría controlada; ver laser_spot_benchmark.json

Capacidades actuales y capacidades a complementar

Parcialmente reutilizable

Requiere calibración, sincronización o integración.

El front-end de detección de puntos de luz o el módulo de estadísticas de sincronización se pueden reutilizar, pero el proyecto aún necesita agregar calibración geométrica, sincronización de tiempo, compensación de movimiento o integración del sistema de equipos.

Brechas en este escenario:Se requieren adquisición de calibración, definición de coordenadas y verificación; El mapeo empírico bidimensional no representa ninguna calibración tridimensional o de robot. Los cambios en la altura de la superficie de trabajo se medirán por separado. La observación de la posición y el control de ejecución deben aceptarse de forma independiente.

Brechas a nivel de ruta:Se requieren adquisición de calibración, definición de coordenadas y verificación; El mapeo empírico bidimensional no representa ninguna calibración tridimensional o de robot.

"Parcialmente reutilizable" solo describe el volumen de desarrollo relativo y no constituye un compromiso de precisión, ritmo, estabilidad o tiempo de entrega.

Métodos de verificación y requisitos previos de aceptación.

Separe los puntos de calibración y los puntos de replanteo para verificar los errores de borde, avance y retroceso, temperatura y repetición de sujeción. Reservar puntos, pasos y barridos para verificar retrasos y pérdida de bloqueo.

Artículos de aceptaciónPruebas requeridas para la confirmación del proyecto.Estado actual
Entradas y muestrasMarcos originales del dispositivo real, muestras normales/anormales, condiciones de exposición y trayectoria de la luz, agrupación de muestras y reservaNo proporcionado, esperando aportes del proyecto
Magnitud y errorValor de referencia independiente, registro de calibración, calibre estadístico de error y umbral de confirmación mutuaNo verificado
Excepciones y límitesManejo anticipado de detecciones perdidas, detecciones falsas, sobreexposición, oclusión, reflejo, fuera de la vista y anomalías de comunicaciónPor definir
Integración del sistemaInterfaz, sincronización horaria, plataforma de implementación, tempo, registro, versión y registro de ejecución continuaNo integrado

Fuentes de evidencia y límites de citas

La fuente admite principios de medición o aplicaciones similares; la combinación de módulos, el dispositivo y el método de aceptación en este escenario son derivaciones de ingeniería y la verificación del producto no se ha completado.

LS-S13 · Fábrica original/institución de investigación científica/documento original

Calibración del campo de escaneo SCANLAB

Patrones de prueba, mediciones de imágenes y corrección de campo.

Fecha de verificación: 2026-10-24

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LS-S14 · Fábrica original/institución de investigación científica/papel original

Sistema de apuntamiento de haz Newport

Categorías de sistemas de control rápido de orientación de espejos y haces

Fecha de verificación: 2026-10-24

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LS-S15 · Fábrica original/institución de investigación científica/papel original

Espejo Newport Fast Reflex y tecnología de estabilización activa del haz.

Principios del sistema de deriva de posición, deriva de apuntamiento y compensación activa

Fecha de verificación: 2026-10-24

Ver información pública original →
Alcance del uso de la fuente:La información pública se utiliza para respaldar el principio de medición o la existencia de aplicaciones similares, y no prueba que este escenario haya sido desarrollado, implementado o aceptado por Jishi Technology.
Consulta de proyecto

Envíe muestras y condiciones del equipo para aclarar el alcance del desarrollo y la entrega.

Registro de puntos en el área de superposición de cabezales de escaneo duales

Describa el objeto de la tarea, la imagen o el video original, los indicadores de destino, la plataforma del dispositivo, la interfaz y la situación de muestra.

Teléfono: 13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

La información completada sólo será utilizada para evaluación y contacto para este proyecto. No envíe información personal no autorizada ni datos confidenciales.