Servicios de desarrollo de algoritmos infrarrojos de imágenes térmicas activas y pruebas térmicas no destructivas.
Cubre un total de 20 algoritmos o flujos de trabajo de ingeniería desde I101 a I120 y proporciona evaluación de necesidades, implementación especial, SDK/API, adaptación de plataforma y aceptación de pruebas para proyectos empresariales.
Alcance de clasificación y entrada al proyecto empresarial.
Servicios de desarrollo de algoritmos específicos.
Extracción de curva de respuesta térmica y resta de línea base.
Entrada: serie temporal L5
Salida: curva de respuesta de píxeles/ROI
Ver detalles del servicio →I102Velocidades de calentamiento y enfriamiento y constantes de tiempo.
Entrada: secuencia de excitación térmica
Salida: Tasa, constante de tiempo y gráfico de distribución.
Ver detalles del servicio →I103Termografía de pulsos Contraste térmico bruto
Entrada: secuencia de excitación flash
Salida: Gráfico de comparación térmica absoluta/diferencial
Ver detalles del servicio →I104Comparación térmica absoluta normalizada/diferencial
Entrada: secuencia de pieza de prueba y área de referencia
Salida: curva de comparación y candidatos a defectos
Ver detalles del servicio →I105Reconstrucción polinómica logarítmica de TSR
Entrada: Secuencia térmica de pulsos
Salida: Mapa reconstruido de temperatura y coeficientes.
Ver detalles del servicio →I106TSR primera/segunda derivada logarítmica
Entrada: coeficiente TSR
Salida: mapa derivado y mapa de mejora de defectos
Ver detalles del servicio →I107Termografía de fase pulsada PPT
Entrada: secuencia caliente
Salida: diagrama frecuencia-amplitud-fase
Ver detalles del servicio →I108Amplitud y fase de termografía de bloqueo
Entrada: secuencia de excitación periódica
Salida: Gráficos de amplitud y fase bloqueados en fase
Ver detalles del servicio →I109Bloqueo de fase multifrecuencia y escaneo de frecuencia
Entrada: excitación multifrecuencia
Salida: Mapa de respuesta de frecuencia y sensibilidad de profundidad
Ver detalles del servicio →I110Termografía de componentes principales PCT
Entrada: secuencia caliente
Salida: EOF/mapa de defectos de componentes principales
Ver detalles del servicio →I111Componentes independientes y descomposición termográfica escasa.
Entrada: secuencia caliente
Salida: mapa de componentes independientes/escasos
Ver detalles del servicio →I112Maxigrama/timegrama de cromatografía térmica dinámica
Entrada: secuencia caliente
Salida: Gráficos de contraste máximo y tiempo de llegada
Ver detalles del servicio →I113Propagación de ondas térmicas y estimación de profundidad
Entrada: características de fase/tiempo, parámetros del material.
Resultado: candidatos profundos y alcance
Ver detalles del servicio →I114Difusividad térmica e inversión de conductividad térmica.
Entrada: excitación, geometría, parámetros límite.
Producto: Estimaciones e incertidumbres sobre la propiedad
Ver detalles del servicio →I115Extracción de fuente de calor de grieta por termografía por vibración
Entrada: Vibración + Secuencia de Calor
Resultado: Fuente de calor de grieta y curva de respuesta.
Ver detalles del servicio →I116Termografía por inducción Detección de grietas en superficie/cerca de la superficie
Entrada: excitación electromagnética + secuencia térmica.
Resultado: candidatos y fases del crack
Ver detalles del servicio →I117Calentamiento escalonado y termografía de pulso largo.
Entrada: secuencia de excitación de larga duración
Resultado: comparación profunda de defectos
Ver detalles del servicio →I118Imágenes térmicas de escaneo de puntos/líneas láser
Entrada: Excitación de escaneo + secuencia térmica.
Salida: Mapa local de grietas/defectos
Ver detalles del servicio →I119Segmentación de defectos, estimación de tamaño y profundidad de juntas.
Entrada: mapa de calor procesado y valor real
Salida: máscara de defecto, tamaño, profundidad.
Ver detalles del servicio →I120Incertidumbres POD, bloque de referencia y END térmico
Entrada: bloque de prueba artificialmente defectuoso/prueba repetida
Salida: probabilidad de detección, a90/95 y otras estadísticas
Ver detalles del servicio →Métodos de implementación y entrega.
- Confirmación de entrada del proyectoVerifique la cámara, banda espectral, profundidad de bits, SDK, condiciones ambientales, muestras y valores de verdad de aceptación.
- Verificación de muestraVerifique los enlaces de procesamiento clave, las condiciones aplicables y las condiciones de trabajo anormales, y determine el alcance del desarrollo y los métodos de aceptación.
- Desarrollo e integración de algoritmos.Implemente análisis de datos, algoritmos, control de calidad, interfaces e implementación de plataformas de destino.
- Aceptación y entrega de pruebas.Vuelva a realizar la prueba de acuerdo con el conjunto de pruebas acordado y la plataforma de destino, y entregue los entregables, los resultados de las pruebas y las condiciones aplicables.
- Requisitos y soluciones técnicas, definiciones de campos de entrada y salida y de interfaz.
- Biblioteca de algoritmos, modelo o SDK/API; Forma de entrega confirmada en el plan del proyecto.
- Programa de muestra, configuración de parámetros, estado de error e instrucciones de llamada
- Versión del conjunto de pruebas, definición de indicadores, resultados de estratificación y registros de muestras fallidos
- Adaptación de la plataforma de destino, uso de recursos y registros de retraso en la ejecución
- Descripción de versión, dependencias, licencia, pasos de reproducción y condiciones aplicables
Límites de aceptación y capacidad
Cada algoritmo establece indicadores de precisión, repetibilidad, robustez, velocidad, uso de recursos y estado de falla según el tipo de salida.
El rendimiento de la producción y el alcance de la entrega se confirman en función del equipo objetivo, muestras independientes e indicadores de aceptación escritos.
Envíe muestras y condiciones del equipo para aclarar el alcance del desarrollo y la entrega.
Servicios de desarrollo de algoritmos infrarrojos de imágenes térmicas activas y pruebas térmicas no destructivas.
Describa el objeto de la tarea, la imagen o el video original, los indicadores de destino, la plataforma del dispositivo, la interfaz y la situación de muestra.
Teléfono: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com